一种检测银离子迁移的工装装置

    公开(公告)号:CN109211907B

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN201811240492.6

    申请日:2018-10-24

    Abstract: 一种检测银离子迁移的工装装置,包括旋转台和支撑架底座;所述旋转台包括四层结构,第一层为圆环形,第二层为半圆筒形,第三层为圆环形,第四层为半球形,所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接;所述支撑架底座为阶梯状圆柱形,支撑架底座的中心设有通孔;所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内;所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径;所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。

    一种无损测试红外探测器峰值电压的方法

    公开(公告)号:CN107607206B

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201710700715.1

    申请日:2017-08-16

    Abstract: 本发明公开了一种无损测试红外探测器峰值电压的方法,该方法包括如下步骤:直到万用表电压显示到5±0.5V,记下此时的万用表及皮安计读数,分别为第一电压V1及第一电流I1,根据第一电压V1及第一电流I1得出第一电阻R1;当万用表显示电压在30V以上时,减小直流电源电压递增步长为1V~3V,并不断记下万用表的读数和皮安计的读数,根据万用表的读数和皮安计的读数实时得到电阻值R2’;当R1/R2’为1.8~2.1时,停止增加直流电源电压并记下此时的万用表的读数即第二电压V2和皮安计的读数即第二电流I2,得到第二电阻R2;得到红外探测器的灵敏元薄片的热阻阻抗Z;得到红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压VP。本发明解决了红外探测器的灵敏元薄片易受损伤的问题。

    一种热敏电阻型红外探测器噪声测试系统及方法

    公开(公告)号:CN108981934B

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201810695259.0

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 本发明涉及一种热敏电阻型红外探测器噪声测试系统及测试方法,针对锰钴镍氧化物红外探测器的结构特点,在详细分析噪声模型的基础上,设计了其不同偏压下噪声测试方法和相应测试系统的设计方案。与现有技术相比,本发明系统可以准确测试红外探测器噪声时域信号和频域信号,提取范围内带频噪声、点频噪声、爆裂噪声的幅度、特征频率等信息,也可以切换不同偏置电压,进行不同偏压下噪声的测试分析,通过测试不同偏压下的噪声系数,可用于提前剔除存在疑点的探测器。

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