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公开(公告)号：CN113340567B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110477853.4
申请日：2021-04-30
Applicant: 北京控制工程研究所
Inventor： 田广 , 杨宇 , 吕志强 , 曹振 , 赵晓雨 , 邵逸恺 , 刘航 , 汪艳 , 张运方 , 李松 , 王婧烨 , 孟庆红 , 杨立洲 , 刘旭光 , 梁稳 , 刘田欣 , 朱烨 , 赵娇娇
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统和方法：初始状态下，光学系统安装、图像探测装置均在平行光管的出射光路上，且三者在基体转台和U型转台均为0°位置时保持同轴，平行光管出射的光照在标靶上，标靶的图像经过光学系统之后进入图像探测装置，显示在图像探测装置界面；通过调整基体转台转轴和光学系统安装架转轴的方向，即可获得被测光学系统全输入视场范围内不同方向、不同大小的入射角度；不同的入射角度下，使显示在图像探测装置界面的标靶图像与显示界面中心重合时对应的U型转台转轴的角度即为被测光学系统在对应入射角度下的出射角度，入射角度与出射角度的比值即为获得光学系统的角放大率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106772936B
公开(公告)日：2019-06-18
申请号：CN201611124355.7
申请日：2016-12-08
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明为一种小型化高精度星敏感器用光学系统，本发明的光学系统采用了准高斯透镜结构，共由6片透镜组成，全部采用球面透镜，第一透镜玻璃采用熔石英材料，使其即可用于校正像差，也可充当光学系统的保护玻璃。本发明光学系统具有宽光谱、大视场、大相对孔径等特点；在较大的光谱范围和视场内具有很小的畸变量，各视场弥散斑能量集中度分布均匀，成像质量良好。系统可以工作于‑50℃到+70℃，可以在各温度点具有良好的像质和离焦量，可以满足工作于空间恶劣温度环境下的高精度星敏感器的姿态测量需求。
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公开(公告)号：CN106772936A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611124355.7
申请日：2016-12-08
Applicant: 北京控制工程研究所
CPC classification number: G02B13/005 , G01C25/00 , G02B27/0012
Abstract: 本发明为一种小型化高精度星敏感器用光学系统，本发明的光学系统采用了准高斯透镜结构，共由6片透镜组成，全部采用球面透镜，第一透镜玻璃采用熔石英材料，使其即可用于校正像差，也可充当光学系统的保护玻璃。本发明光学系统具有宽光谱、大视场、大相对孔径等特点；在较大的光谱范围和视场内具有很小的畸变量，各视场弥散斑能量集中度分布均匀，成像质量良好。系统可以工作于‑50℃到+70℃，可以在各温度点具有良好的像质和离焦量，可以满足工作于空间恶劣温度环境下的高精度星敏感器的姿态测量需求。
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公开(公告)号：CN108981934B
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201810695259.0
申请日：2018-06-29
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明涉及一种热敏电阻型红外探测器噪声测试系统及测试方法，针对锰钴镍氧化物红外探测器的结构特点，在详细分析噪声模型的基础上，设计了其不同偏压下噪声测试方法和相应测试系统的设计方案。与现有技术相比，本发明系统可以准确测试红外探测器噪声时域信号和频域信号，提取范围内带频噪声、点频噪声、爆裂噪声的幅度、特征频率等信息，也可以切换不同偏置电压，进行不同偏压下噪声的测试分析，通过测试不同偏压下的噪声系数，可用于提前剔除存在疑点的探测器。
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公开(公告)号：CN108981934A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810695259.0
申请日：2018-06-29
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明涉及一种热敏电阻型红外探测器噪声测试系统及测试方法，针对锰钴镍氧化物红外探测器的结构特点，在详细分析噪声模型的基础上，设计了其不同偏压下噪声测试方法和相应测试系统的设计方案。与现有技术相比，本发明系统可以准确测试红外探测器噪声时域信号和频域信号，提取范围内带频噪声、点频噪声、爆裂噪声的幅度、特征频率等信息，也可以切换不同偏置电压，进行不同偏压下噪声的测试分析，通过测试不同偏压下的噪声系数，可用于提前剔除存在疑点的探测器。
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公开(公告)号：CN113340567A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110477853.4
申请日：2021-04-30
Applicant: 北京控制工程研究所
Inventor： 田广 , 杨宇 , 吕志强 , 曹振 , 赵晓雨 , 邵逸恺 , 刘航 , 汪艳 , 张运方 , 李松 , 王婧烨 , 孟庆红 , 杨立洲 , 刘旭光 , 梁稳 , 刘田欣 , 朱烨 , 赵娇娇
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统和方法：初始状态下，光学系统安装、图像探测装置均在平行光管的出射光路上，且三者在基体转台和U型转台均为0°位置时保持同轴，平行光管出射的光照在标靶上，标靶的图像经过光学系统之后进入图像探测装置，显示在图像探测装置界面；通过调整基体转台转轴和光学系统安装架转轴的方向，即可获得被测光学系统全输入视场范围内不同方向、不同大小的入射角度；不同的入射角度下，使显示在图像探测装置界面的标靶图像与显示界面中心重合时对应的U型转台转轴的角度即为被测光学系统在对应入射角度下的出射角度，入射角度与出射角度的比值即为获得光学系统的角放大率。
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