一种基于微透镜阵列探测器的大视场照度均匀性光学系统

    公开(公告)号:CN114019662A

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202111116413.2

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本发明一种基于微透镜阵列探测器的大视场照度均匀性光学系统。通过采用反远距型光学系统结构型式,将孔径光阑设置在后组上,前组承担较大的视场负担,减小光线入射角度,使得像方视场角小于物方视场角。并在孔径光阑处设置像差渐晕,解决光学系统设计照度不均匀性的问题,以使轴外光束的口径增大,像面上的照度余弦分布规律由高阶变为低阶。最后,通过光路优化设计与约束从而减小像方主光线的角度,使得像方出射光线角度与带有微透镜阵列的CMOS探测器最大量子效率相匹配,提高相机的量子效率和像面照度的均匀性。与传统大视场光学系统设计型式相比,同等光照条件下,对弱暗目标的探测能力增强,具有分辨率高,像面照度均匀性好,长度短,重量轻等优点。

    一种检测银离子迁移的工装装置

    公开(公告)号:CN109211907A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201811240492.6

    申请日:2018-10-24

    Abstract: 一种检测银离子迁移的工装装置,包括旋转台和支撑架底座;所述旋转台包括四层结构,第一层为圆环形,第二层为半圆筒形,第三层为圆环形,第四层为半球形,所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接;所述支撑架底座为阶梯状圆柱形,支撑架底座的中心设有通孔;所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内;所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径;所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。

    一种检测银离子迁移的工装装置

    公开(公告)号:CN109211907B

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN201811240492.6

    申请日:2018-10-24

    Abstract: 一种检测银离子迁移的工装装置,包括旋转台和支撑架底座;所述旋转台包括四层结构,第一层为圆环形,第二层为半圆筒形,第三层为圆环形,第四层为半球形,所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接;所述支撑架底座为阶梯状圆柱形,支撑架底座的中心设有通孔;所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内;所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径;所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。

    一种基于微透镜阵列探测器的大视场照度均匀性光学系统

    公开(公告)号:CN114019662B

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202111116413.2

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本发明一种基于微透镜阵列探测器的大视场照度均匀性光学系统。通过采用反远距型光学系统结构型式,将孔径光阑设置在后组上,前组承担较大的视场负担,减小光线入射角度,使得像方视场角小于物方视场角。并在孔径光阑处设置像差渐晕,解决光学系统设计照度不均匀性的问题,以使轴外光束的口径增大,像面上的照度余弦分布规律由高阶变为低阶。最后,通过光路优化设计与约束从而减小像方主光线的角度,使得像方出射光线角度与带有微透镜阵列的CMOS探测器最大量子效率相匹配,提高相机的量子效率和像面照度的均匀性。与传统大视场光学系统设计型式相比,同等光照条件下,对弱暗目标的探测能力增强,具有分辨率高,像面照度均匀性好,长度短,重量轻等优点。

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