一种高精度红外探测器时间常数测试系统及方法

    公开(公告)号:CN108267799B

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201711478559.5

    申请日:2017-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种高精度红外探测器时间常数测试系统及方法。其中该系统包括:红外光源单元、红外光学系统单元、红外探测器适配器单元、光电信号采集单元和信息处理单元;其中,红外光源单元产生调制的红外光信号,经过红外光学系统单元进行光学整形,垂直投射到红外探测器适配器单元,经红外探测器适配器单元将光信号转换为电信号,电信号经过光电信号采集单元采集读取,并通过信息处理单元得到红外探测器时间常数。本发明解决了现有测试技术存在的精度差、效率低的问题。

    一种无损测试红外探测器峰值电压的方法

    公开(公告)号:CN107607206B

    公开(公告)日:2019-06-18

    申请号:CN201710700715.1

    申请日:2017-08-16

    Abstract: 本发明公开了一种无损测试红外探测器峰值电压的方法,该方法包括如下步骤:直到万用表电压显示到5±0.5V,记下此时的万用表及皮安计读数,分别为第一电压V1及第一电流I1,根据第一电压V1及第一电流I1得出第一电阻R1;当万用表显示电压在30V以上时,减小直流电源电压递增步长为1V~3V,并不断记下万用表的读数和皮安计的读数,根据万用表的读数和皮安计的读数实时得到电阻值R2’;当R1/R2’为1.8~2.1时,停止增加直流电源电压并记下此时的万用表的读数即第二电压V2和皮安计的读数即第二电流I2,得到第二电阻R2;得到红外探测器的灵敏元薄片的热阻阻抗Z;得到红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压VP。本发明解决了红外探测器的灵敏元薄片易受损伤的问题。

    一种高精度红外探测器时间常数测试系统及方法

    公开(公告)号:CN108267799A

    公开(公告)日:2018-07-10

    申请号:CN201711478559.5

    申请日:2017-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种高精度红外探测器时间常数测试系统及方法。其中该系统包括:红外光源单元、红外光学系统单元、红外探测器适配器单元、光电信号采集单元和信息处理单元;其中,红外光源单元产生调制的红外光信号,经过红外光学系统单元进行光学整形,垂直投射到红外探测器适配器单元,经红外探测器适配器单元将光信号转换为电信号,电信号经过光电信号采集单元采集读取,并通过信息处理单元得到红外探测器时间常数。本发明解决了现有测试技术存在的精度差、效率低的问题。

    一种无损测试红外探测器峰值电压的方法

    公开(公告)号:CN107607206A

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201710700715.1

    申请日:2017-08-16

    Abstract: 本发明公开了一种无损测试红外探测器峰值电压的方法,该方法包括如下步骤:直到万用表电压显示到5±0.5V,记下此时的万用表及皮安计读数,分别为第一电压V1及第一电流I1,根据第一电压V1及第一电流I1得出第一电阻R1;当万用表显示电压在30V以上时,减小直流电源电压递增步长为1V~3V,并不断记下万用表的读数和皮安计的读数,根据万用表的读数和皮安计的读数实时得到电阻值R2’;当R1/R2’为1.8~2.1时,停止增加直流电源电压并记下此时的万用表的读数即第二电压V2和皮安计的读数即第二电流I2,得到第二电阻R2;得到红外探测器的灵敏元薄片的热阻阻抗Z;得到红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压VP。本发明解决了红外探测器的灵敏元薄片易受损伤的问题。

    一种用于制备红外探测器内引极的工装

    公开(公告)号:CN203163879U

    公开(公告)日:2013-08-28

    申请号:CN201320110625.4

    申请日:2013-03-12

    Abstract: 本实用新型涉及一种用于制备红外探测器内引极的工装,属于红外探测器技术领域。该工装包括真空镊子和固定装置。本实用新型的工装能够提高金浆内引极改进的工艺可操作性,该工艺改进后探测器合格率及可靠性得到大幅提高;该工装可用于热敏电阻薄片的固定,能提高红外探测器的生产效率及可靠性;同时可以推广应用于类似的具有尺寸小、厚度薄、强度差的薄片型物体的固定,具有广阔的应用前景;本实用新型的工装能有效固定热敏电阻薄片,操作简单、效率高,使用该工装制备的探测器,其成品率及长期稳定性高,具有很强的实用性。

Patent Agency Ranking