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公开(公告)号：CN109411171B
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN201811242010.0
申请日：2018-10-24
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种负温度系数珠状热敏电阻的制备方法。采用三氧化二钴、四氧化三锰、氧化镍、三氧化二铁和氧化镁为原材料，经过球磨法制备五元系氧化物热敏电阻粉体材料；采用有机溶剂配制热敏电阻浆料；采用点胶机定量控制珠状成型；经过高温烧结、焊接外引线后，采用无机高温胶封装、焊接测试线后制得珠状热敏电阻。本发明制备的热敏电阻适用于高温，材料常数B25℃/50℃为3500K±5％，温度0℃时电阻值为45kΩ±10％，温度900℃，高温老化200h后R0℃阻值变化率小于±4％。本发明制备的高温热敏电阻高温性能稳定，一致性好，老化性能稳定，适用于航空航天、汽车领域温度测量与控制。
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公开(公告)号：CN109411171A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811242010.0
申请日：2018-10-24
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种负温度系数珠状热敏电阻的制备方法。采用三氧化二钴、四氧化三锰、氧化镍、三氧化二铁和氧化镁为原材料，经过球磨法制备五元系氧化物热敏电阻粉体材料；采用有机溶剂配制热敏电阻浆料；采用点胶机定量控制珠状成型；经过高温烧结、焊接外引线后，采用无机高温胶封装、焊接测试线后制得珠状热敏电阻。本发明制备的热敏电阻适用于高温，材料常数B25℃/50℃为3500K±5％，温度0℃时电阻值为45kΩ±10％，温度900℃，高温老化200h后R0℃阻值变化率小于±4％。本发明制备的高温热敏电阻高温性能稳定，一致性好，老化性能稳定，适用于航空航天、汽车领域温度测量与控制。
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公开(公告)号：CN108981934A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810695259.0
申请日：2018-06-29
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明涉及一种热敏电阻型红外探测器噪声测试系统及测试方法，针对锰钴镍氧化物红外探测器的结构特点，在详细分析噪声模型的基础上，设计了其不同偏压下噪声测试方法和相应测试系统的设计方案。与现有技术相比，本发明系统可以准确测试红外探测器噪声时域信号和频域信号，提取范围内带频噪声、点频噪声、爆裂噪声的幅度、特征频率等信息，也可以切换不同偏置电压，进行不同偏压下噪声的测试分析，通过测试不同偏压下的噪声系数，可用于提前剔除存在疑点的探测器。
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公开(公告)号：CN113340567A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110477853.4
申请日：2021-04-30
Applicant: 北京控制工程研究所
Inventor： 田广 , 杨宇 , 吕志强 , 曹振 , 赵晓雨 , 邵逸恺 , 刘航 , 汪艳 , 张运方 , 李松 , 王婧烨 , 孟庆红 , 杨立洲 , 刘旭光 , 梁稳 , 刘田欣 , 朱烨 , 赵娇娇
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统和方法：初始状态下，光学系统安装、图像探测装置均在平行光管的出射光路上，且三者在基体转台和U型转台均为0°位置时保持同轴，平行光管出射的光照在标靶上，标靶的图像经过光学系统之后进入图像探测装置，显示在图像探测装置界面；通过调整基体转台转轴和光学系统安装架转轴的方向，即可获得被测光学系统全输入视场范围内不同方向、不同大小的入射角度；不同的入射角度下，使显示在图像探测装置界面的标靶图像与显示界面中心重合时对应的U型转台转轴的角度即为被测光学系统在对应入射角度下的出射角度，入射角度与出射角度的比值即为获得光学系统的角放大率。
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公开(公告)号：CN111964785A
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN202010694432.2
申请日：2020-07-17
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种预估红外探测器真空筛选试验合格率的方法，包括：对样本数据进行采集，整理得到特征量；根据整理得到的特征量，建立Logistic回归模型；采样交叉验证法，对Logistic回归模型进行训练，得到训练后的Logistic回归模型；根据训练后的Logistic回归模型，对待预测红外探测器进行失效预测；根据待预测红外探测器的失效预测的结果，对预测结果为合格的待预测红外探测器，按照失效预测概率进行排序，并输出结果。通过本发明能够在试验前对探测器合格情况进行预测，优先选择性能较好且稳定的子样进行试验，避免失效率高的器件混入正样，提高了筛选的有效性、降低了成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108303857A
公开(公告)日：2018-07-20
申请号：CN201810073945.4
申请日：2018-01-25
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种提高双面光刻一致性的方法、系统和存储介质，研制非标的双面曝光机，采用了水平位置调整装置调整和固定工件的位置，减少曝光过程中的移动，引入了接触力的概念，采用接触力可调整的装置，解决了曝光过程中接触力较小的问题，并可使曝光时的接触力可调。本发明降低了双面曝光机使用时工艺重复性误差，改变了单面曝光机单面对准、单面曝光、中途翻转的方式，解决了小尺寸圆柱形光学零件双面光刻一致性较差的问题，使工件上下两面图形的同轴度≤0.03mm，峰峰值不对称度符合产品技术要求。使双面曝光的一致性误差由原来的不小于0.005mm降低到0.003mm以内。可有效提高双面光刻一致性。
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公开(公告)号：CN113340567B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110477853.4
申请日：2021-04-30
Applicant: 北京控制工程研究所
Inventor： 田广 , 杨宇 , 吕志强 , 曹振 , 赵晓雨 , 邵逸恺 , 刘航 , 汪艳 , 张运方 , 李松 , 王婧烨 , 孟庆红 , 杨立洲 , 刘旭光 , 梁稳 , 刘田欣 , 朱烨 , 赵娇娇
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统和方法：初始状态下，光学系统安装、图像探测装置均在平行光管的出射光路上，且三者在基体转台和U型转台均为0°位置时保持同轴，平行光管出射的光照在标靶上，标靶的图像经过光学系统之后进入图像探测装置，显示在图像探测装置界面；通过调整基体转台转轴和光学系统安装架转轴的方向，即可获得被测光学系统全输入视场范围内不同方向、不同大小的入射角度；不同的入射角度下，使显示在图像探测装置界面的标靶图像与显示界面中心重合时对应的U型转台转轴的角度即为被测光学系统在对应入射角度下的出射角度，入射角度与出射角度的比值即为获得光学系统的角放大率。
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公开(公告)号：CN108303857B
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN201810073945.4
申请日：2018-01-25
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种提高双面光刻一致性的方法、系统和存储介质，研制非标的双面曝光机，采用了水平位置调整装置调整和固定工件的位置，减少曝光过程中的移动，引入了接触力的概念，采用接触力可调整的装置，解决了曝光过程中接触力较小的问题，并可使曝光时的接触力可调。本发明降低了双面曝光机使用时工艺重复性误差，改变了单面曝光机单面对准、单面曝光、中途翻转的方式，解决了小尺寸圆柱形光学零件双面光刻一致性较差的问题，使工件上下两面图形的同轴度≤0.03mm，峰峰值不对称度符合产品技术要求。使双面曝光的一致性误差由原来的不小于0.005mm降低到0.003mm以内。可有效提高双面光刻一致性。
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公开(公告)号：CN107607206B
公开(公告)日：2019-06-18
申请号：CN201710700715.1
申请日：2017-08-16
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种无损测试红外探测器峰值电压的方法，该方法包括如下步骤：直到万用表电压显示到5±0.5V，记下此时的万用表及皮安计读数，分别为第一电压V1及第一电流I1，根据第一电压V1及第一电流I1得出第一电阻R1；当万用表显示电压在30V以上时，减小直流电源电压递增步长为1V～3V，并不断记下万用表的读数和皮安计的读数，根据万用表的读数和皮安计的读数实时得到电阻值R2’；当R1/R2’为1.8～2.1时，停止增加直流电源电压并记下此时的万用表的读数即第二电压V2和皮安计的读数即第二电流I2，得到第二电阻R2；得到红外探测器的灵敏元薄片的热阻阻抗Z；得到红外探测器的灵敏元薄片的峰值电压VP。本发明解决了红外探测器的灵敏元薄片易受损伤的问题。
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公开(公告)号：CN108981934B
公开(公告)日：2020-03-24
申请号：CN201810695259.0
申请日：2018-06-29
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明涉及一种热敏电阻型红外探测器噪声测试系统及测试方法，针对锰钴镍氧化物红外探测器的结构特点，在详细分析噪声模型的基础上，设计了其不同偏压下噪声测试方法和相应测试系统的设计方案。与现有技术相比，本发明系统可以准确测试红外探测器噪声时域信号和频域信号，提取范围内带频噪声、点频噪声、爆裂噪声的幅度、特征频率等信息，也可以切换不同偏置电压，进行不同偏压下噪声的测试分析，通过测试不同偏压下的噪声系数，可用于提前剔除存在疑点的探测器。
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