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公开(公告)号:CN115684871A
公开(公告)日:2023-02-03
申请号:CN202211147281.4
申请日:2022-09-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供了一种传输线性能监测装置,该装置包括测试设备、测试线缆、测试夹具;测试线缆的一端与测试设备连接,测试线缆的另一端与测试夹具的一端连接,测试夹具的另一端与印制电路板通过焊盘连接;测试设备,通过测试线缆监测待测试传输线的性能参数;其中,印制电路板中印制有待测试传输线,且印制电路板处于环境应力发生变化的空间中。采用本装置能够加固测试线缆和PCB,有效地获取PCB上印制的传输线的性能参数。
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公开(公告)号:CN113607528A
公开(公告)日:2021-11-05
申请号:CN202110972908.9
申请日:2021-08-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N1/28
Abstract: 本申请提供一种离子清洁度检测治具及离子清洁度检测方法,其中,离子清洁度检测治具包括支撑装置;滚动链条,其绕过所述支撑装置的顶端和所述支撑装置的底端;驱动装置,与所述滚动链条传动连接,用于驱动所述滚动链条绕经所述支撑装置的顶端和底端做旋转滚动;试样槽体,其与所述滚动链条连接。本申请能够通过控制试样槽体的上升和下降,有效地减少投入试样过程中引入其他污染,另一方面,本申请还能够避免夹具损坏待检测电路板。
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公开(公告)号:CN111579972A
公开(公告)日:2020-08-25
申请号:CN202010636526.4
申请日:2020-07-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供一种PCBA板级组件的寿命检测方法,该方法包括步骤:对PCBA组件进行寿命测试并得到测试结果;根据所述测试结果确定所述PCBA组件的失效点及确定所述失效点的环境应力因素;根据所述失效点的环境应力因素匹配寿命评估模型;根据所述寿命评估模型对所述PCBA组件进行加速应力测试,得出所述PCBA组件在第一预设应力等级下功能失效时的测试时间;根据所述PCBA组件在第一预设应力等级下功能失效时的测试时间和加速因子计算出所述PCBA组件在第二预设应力等级下的使用时间,并将所述PCBA组件在第二预设应力等级下的使用时间作为所述PCBA组件的寿命。本申请的PCBA板级组件的寿命检测方法具有检测精确度高、置信度高的优点。
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公开(公告)号:CN111397778A
公开(公告)日:2020-07-10
申请号:CN202010388903.7
申请日:2020-05-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供了一种应力检测方法、装置及系统,其中,应力检测方法包括步骤:获取图像采集设备采集的待检测电路板的第一成像,第一成像为待检测电路板在加载力之前的成像;获取图像采集设备采集的待检测电路板的第二成像,第二成像为待检测电路板在加载力之后的成像;根据第一成像和第二成像确定待检测电路板中的应力最大区域;获取应力最大区域的电阻值,电阻值为应力最大区域的应变时的电阻值;根据应力最大区域的电阻值计算得到应力最大区域的应力检测结果。本申请能够确定待检测电路板板中的应力最大区域,且具有更优的检测效率和检测精度。
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公开(公告)号:CN119249104B
公开(公告)日:2025-05-06
申请号:CN202411758953.4
申请日:2024-12-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/20
Abstract: 本申请涉及一种元器件工艺性能评估方法、装置、计算机设备和可读存储介质。方法包括:获取元器件的初始工艺性能测试指标,确定初始工艺性能测试指标与元器件工艺性能的关联度,并基于关联度,从初始工艺性能测试指标中筛选工艺性能测试指标,根据工艺性能测试指标,对元器件进行性能评估,得到工艺性能测试结果,确定工艺性能测试指标的指标权重系数,并根据指标权重系数、工艺性能测试结果以及工艺性能测试结果,生成元器件的工艺性能评估结果。采用本方法能够准确进行元器件工艺性能评估。
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公开(公告)号:CN115358562B
公开(公告)日:2024-11-22
申请号:CN202210981086.5
申请日:2022-08-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06Q10/0639 , G06Q50/04 , G07C3/14
Abstract: 本申请提供了一种印制线路板的质量测试方法、装置及电子设备,印制线路板的质量测试方法包括:针对目标供应商生产的目标型号的多个印制线路板,按照与目标型号相适配的多个预设测试参数项,对每个印制线路板进行质量测试,确定每个印制线路板在每个预设测试参数项下的测试结果数据;根据各个预设测试参数项对应的测试结果数据和各个预设测试参数项对应的测试权重,确定目标供应商生产的多个印制线路板的质量测试得分。本申请实现了能够对供应商生产的印制线路板进行更全面的测试,通过印制线路板的质量测试得分可以反映出供应商生产的印制线路板的优劣程度,增强了检测的全面性和准确率。
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公开(公告)号:CN118150989A
公开(公告)日:2024-06-07
申请号:CN202410579384.0
申请日:2024-05-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及电路板测试技术领域,特别是涉及一种挠性板浸水可靠性的模拟测试方法及装置。方法包括:针对挠性板的待测样品连接电源设备所形成的测试回路,获取测试回路的初始导通电阻值;将待测样品没入密闭容器的液体中,将待测样品的连接垫片置于液体底部,调节密闭容器内的空气压力值;在空气压力值达到预设模拟水深对应的压力值的情况下,对测试回路持续施加电流;获取测试回路的实际导通电阻值;根据初始导通电阻值和实际导通电阻值,获取待测样品的电阻值变化率;在电阻值变化率达到预设变化率阈值时,停止施加电流,记录待测样品的失效时间。采用本方法能够通过模拟实际浸水环境,对挠性电路板进行防水性能测试。
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公开(公告)号:CN117452176A
公开(公告)日:2024-01-26
申请号:CN202311786835.X
申请日:2023-12-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种器件耐功率测试系统、方法和夹具。所述系统包括:测试夹具,用于安装待测器件;网络分析仪,用于采集待测器件的性能参数;信号源,连接于待测器件,用于提供待测器件所需的测试信号;第一功率计,用于检测输入至待测器件输入端的输入功率值;第二功率计,用于检测待测器件输出端的输出功率值;计算单元,用于根据输入功率值和输出功率值,确定待测器件是否达到耐功率状态,并根据待测器件在耐功率状态下对应的性能参数,判断待测器件是否失效。采用本方法能够准确掌握器件的最大耐功率值。
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公开(公告)号:CN113447857B
公开(公告)日:2023-07-14
申请号:CN202110725067.1
申请日:2021-06-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种电连接器可靠性的评估方法及装置,电连接器可靠性的评估方法,包括:获取待评估样本的测试结果及一致性分析结果;获取所述待评估样本的结构分析结果;根据所述测试结果、所述一致性分析结果、所述结构分析结果及预设的评估细则,得到待评估样本的评估结果。本申请电连接器可靠性的评估方法及装置,可在电连接器使用前进行,并且,可以较为全面、准确地对电连接器的可靠性做评估,较为适用于对电连接器的可靠性要求较高的设备或场景的电连接器。
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公开(公告)号:CN111879220B
公开(公告)日:2023-02-21
申请号:CN202010606575.3
申请日:2020-06-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01B5/252
Abstract: 本发明公开了一种PCB板背钻孔对准度检测装置及方法,所述检测装置包括测试支架和刻度尺,所述测试支架包括底座和位于底座之上的支撑杆,所述刻度尺的中心位置开口,在检测状态下,所述底座卡在PCB板的首钻孔外侧,所述支撑杆插入PCB板的首钻孔,其上端部从PCB板的背钻孔伸出,所述刻度尺的开口套入所述支撑杆的上端部,并与所述支撑杆的上端部贴合。本发明能够快速高效地检测背钻孔对准度,提高检测效率。
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