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公开(公告)号：CN118169540A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410372081.1
申请日：2024-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN118150989A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410579384.0
申请日：2024-05-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及电路板测试技术领域，特别是涉及一种挠性板浸水可靠性的模拟测试方法及装置。方法包括：针对挠性板的待测样品连接电源设备所形成的测试回路，获取测试回路的初始导通电阻值；将待测样品没入密闭容器的液体中，将待测样品的连接垫片置于液体底部，调节密闭容器内的空气压力值；在空气压力值达到预设模拟水深对应的压力值的情况下，对测试回路持续施加电流；获取测试回路的实际导通电阻值；根据初始导通电阻值和实际导通电阻值，获取待测样品的电阻值变化率；在电阻值变化率达到预设变化率阈值时，停止施加电流，记录待测样品的失效时间。采用本方法能够通过模拟实际浸水环境，对挠性电路板进行防水性能测试。
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公开(公告)号：CN118190317B
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202410358898.3
申请日：2024-03-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种振动应力极值的检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：根据多个振动应力参数对目标焊点施加振动应力；其中，多个振动应力参数中的目标振动应力参数与施加振动应力的时间正相关，目标焊点为电子元器件的镀金引脚与印刷电路板之间焊接形成的质量合格的焊点；对目标焊点施加检测电信号，并获取目标焊点输出的反馈电信号；在根据反馈电信号确定目标焊点开裂失效的情况下，获取目标焊点的振动应力极值；其中，振动应力极值为目标焊点开裂失效时，目标振动应力参数的值。采用本方法能够对目标焊点焊接状态进行实时监测，提高了检测效率，还实现了对于目标焊点的振动应力极值的检测。
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公开(公告)号：CN118169540B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202410372081.1
申请日：2024-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN118191559A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410377380.4
申请日：2024-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及电路可靠性测试技术领域，涉及一种CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下，获取所述CPLD器件的待测功能项目请求；设置多种测试环境，每种测试环境包含至少一个环境应力参数；在多种测试环境下，响应于所述待测功能项目请求，对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试，获得测试数据；对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理，获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。采用本方法能够自动有效识别在不同运行环境下的参数差异，准确评估CPLD器件的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118465495B
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202410545931.3
申请日：2024-05-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种测试电路及芯片测试方法，包括：FPGA控制模组、电源模组和至少一个数字电阻模组，FPGA控制模组用于响应输入指令输出控制信号，其中，输入指令包括目标电压信息，各数字电阻模组分别与FPGA控制模组和电源模组连接，数字电阻模组用于作为电源模组的分压元件，并根据控制信号改变输出阻值，以调节电源模组的输出电压，使电源模组的输出电压对应目标电压信息。本申请中的测试电路可根据测试需求改变输出电压，且测试电路可包括多个数字电阻模组，以便同时输出多个不同的输出电压，从而降低对电源的依赖性，提高测试电路的简便性，进而提高测试效率。
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公开(公告)号：CN118150989B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202410579384.0
申请日：2024-05-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及电路板测试技术领域，特别是涉及一种挠性板浸水可靠性的模拟测试方法及装置。方法包括：针对挠性板的待测样品连接电源设备所形成的测试回路，获取测试回路的初始导通电阻值；将待测样品没入密闭容器的液体中，将待测样品的连接垫片置于液体底部，调节密闭容器内的空气压力值；在空气压力值达到预设模拟水深对应的压力值的情况下，对测试回路持续施加电流；获取测试回路的实际导通电阻值；根据初始导通电阻值和实际导通电阻值，获取待测样品的电阻值变化率；在电阻值变化率达到预设变化率阈值时，停止施加电流，记录待测样品的失效时间。采用本方法能够通过模拟实际浸水环境，对挠性电路板进行防水性能测试。
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公开(公告)号：CN118430632A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410824841.8
申请日：2024-06-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种存储器的可靠性测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品。方法包括：响应于针对目标存储器的可靠性测试指令，对目标存储器进行质量分析，得到目标存储器的质量分析结果；在质量分析结果表征目标存储器质量达标的情况下，对目标存储器的当前测试环境进行环境更新，得到目标测试环境；在目标测试环境下，对目标存储器进行功能测试，得到目标存储器的第一功能测试结果；根据第一功能测试结果，对目标存储器进行可靠性评估，得到目标存储器的可靠性评估结果。采用本方法能够提高随机存储器可靠性测试的准确性。
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公开(公告)号：CN118194583A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410399154.6
申请日：2024-04-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种元器件结构分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，通过对元器件进行结构单元分解，得到至少一个结构单元，确定与结构单元对应的故障模式和故障原因，根据故障模式和故障原因，确定元器件的结构分析要素，基于结构分析要素，对元器件进行结构分析，能够针对指定的结构分析要素进行结构分析，保证结构分析准确性，进而提高结构分析效率。
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公开(公告)号：CN118465495A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410545931.3
申请日：2024-05-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种测试电路及芯片测试方法，包括：FPGA控制模组、电源模组和至少一个数字电阻模组，FPGA控制模组用于响应输入指令输出控制信号，其中，输入指令包括目标电压信息，各数字电阻模组分别与FPGA控制模组和电源模组连接，数字电阻模组用于作为电源模组的分压元件，并根据控制信号改变输出阻值，以调节电源模组的输出电压，使电源模组的输出电压对应目标电压信息。本申请中的测试电路可根据测试需求改变输出电压，且测试电路可包括多个数字电阻模组，以便同时输出多个不同的输出电压，从而降低对电源的依赖性，提高测试电路的简便性，进而提高测试效率。
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