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公开(公告)号：CN117471182A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311765666.1
申请日：2023-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电路板的介电性能测试系统、方法和存储介质。所述系统包括：测试夹具，用于分别将多层电路板中各介质层单独接入测试环路，其中，所述测试环路由所述测试夹具、所述测试夹具夹持的介质层和网络分析仪组成；所述网络分析仪，用于在所述测试环路中向所述多层电路板的介质层输出预设频率的电磁波信号，并接收所述预设频率的电磁波信号通过所述多层电路板的介质层产生的电磁波反馈信号；上位机，用于根据所述网络分析仪接收的电磁波反馈信号，测试所述多层电路板中各介质层的介电性能参数。采用本系统可以直接对电路板进行介电性能测试，提高了电路板介电性能测试的方便性。
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公开(公告)号：CN114720775A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210339326.1
申请日：2022-04-01
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明涉及一种介电性能测试工具、测试系统和测试方法。包括样品容器，样品容器内设有谐振腔，谐振腔用于容纳测试样品，谐振腔的侧壁内设有加热部和制冷部。该介电性能测试工具可以直接对谐振腔进行加热，而不需要借助外界其他加热设备，操作方便，测试效率高。并且加热部、制冷部与设置在谐振腔的侧壁内，与谐振腔距离近，加热效果好，加热速率快，有效提高了批量测试样品介电性能的测试效率，也提高了介电性能热稳定性的测试效率。
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公开(公告)号：CN115291081A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202210925273.1
申请日：2022-08-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供一种耐电化学迁移的试验方法，其中，该方法包括：在目标测样上的满足预设条件的位置进行钻孔，得到固定孔，其中，所述满足预设条件的位置为不影响对所述目标测样进行耐电化学迁移测试的位置；对所述目标测样的焊盘进行点焊，使所述目标测样的焊盘附着有焊锡；对所述目标测样进行清洗，以清洗点焊接残留物；将所述目标测样放入至高温烘箱中烘干，并在所述高温烘箱冷却到室温时，将所述目标测样从所述高温烘箱中取出；将高阻监测设备配套的监测线一端焊接于所述目标测样的焊盘上；将所述目标测样放入湿热试验箱中并基于所述固定孔将所述目标测样固定于所述湿热试验箱，以通过所述高阻监测设备监测所述目标测样在不同温湿度条件下的电阻变化。本申请能够对目标测样进行电化学迁移性能测试。
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公开(公告)号：CN115542116A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211151614.0
申请日：2022-09-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种印制电路板测试系统、方法、装置、设备及存储介质，涉及印制电路板技术领域。该印制电路板测试系统可包括：待测电路板、电阻测试线、采集设备以及处理设备，电阻测试线包括多根子测试线，待测电路板的第一预设位置上设置有电阻线固定孔；各子测试线的一端与采集设备连接，各子测试线的另一端分别穿过电阻线固定孔与待测电路板上设置的电阻测试点连接；采集设备用于从待测电路板送入设置有温度参数的测试体的时刻开始，实时通过电阻测试线中的各子测试线采集电阻测试数据；处理设备用于在待测电路板离开测试体后根据采集设备采集的电阻测试数据得到待测电路板的测试结果。这样可避免影响测试的正常执行，进而提高测试效率。
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公开(公告)号：CN112034218A
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN202011005331.6
申请日：2020-09-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请实施例提供一种CAF测试装置及测试方法，涉及电子元器件测试技术领域，该装置包括CAF测试板，其上设置有焊接区域；测试夹具，其一端与在线监测系统的监测线电连接，另一端用于夹设至所述焊接区域，以使所述监测线与所述CAF测试板导通；固定组件，用于将所述监测线可拆卸地固定至所述焊接区域，省去了焊接导线、清洗助焊剂残留物、脱焊等步骤，提高测试效率，节省大量时间，解决现有的焊接方法需要耗费大量时间和精力的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112034218B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202011005331.6
申请日：2020-09-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请实施例提供一种CAF测试装置及测试方法，涉及电子元器件测试技术领域，该装置包括CAF测试板，其上设置有焊接区域；测试夹具，其一端与在线监测系统的监测线电连接，另一端用于夹设至所述焊接区域，以使所述监测线与所述CAF测试板导通；固定组件，用于将所述监测线可拆卸地固定至所述焊接区域，省去了焊接导线、清洗助焊剂残留物、脱焊等步骤，提高测试效率，节省大量时间，解决现有的焊接方法需要耗费大量时间和精力的问题。
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公开(公告)号：CN115876592A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202310017471.2
申请日：2023-01-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种印制板焊盘拉脱测试方法、系统和拉脱线，其中，印制板焊盘拉脱测试方法包括：读取试验参数，其中，所述试验参数包括：拉脱试验速率、拉脱线加热目标温度、焊接时间、焊接次数和冷却温度；获取待测试印制板的版图信息，并基于所述待测试印制板的版图信息确定目标焊盘的坐标；基于所述目标焊盘的坐标控制可移动拉脱装置移动到目标焊盘上方等步骤。本申请能够实现印制板焊盘拉脱测试的自动化，并避免人工操作引入的操作失误，从而提高测试准确率和降低测试失败概率。
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公开(公告)号：CN114966259A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210377174.4
申请日：2022-04-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种贴片器件损耗测试装置及方法。装置包括：测试板；多条第一测试线，第一端位于测试板的设定区域内且排布成多行两列的阵列，第二端位于测试板的设定区域外，且损耗相同；至少一条第二测试线，损耗等于一条或者两条第一测试线的损耗；多条接地线，相邻两条第一测试线之间、第二测试线和第一测试线之间均设有接地线；网络分析仪，用于在贴片器件与至少两条第一测试线的第一端焊接之后，分别连接贴片器件焊接的两条第一测试线的第二端和至少一条接地线，确定测试线路的损耗，并分别连接第二测试线的两端和至少一条接地线，确定去嵌线路的损耗，以根据测试线路的损耗和去嵌线路的损耗，得到贴片器件的损耗。本申请能够满足实际需要。
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公开(公告)号：CN117471182B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311765666.1
申请日：2023-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电路板的介电性能测试系统、方法和存储介质。所述系统包括：测试夹具，用于分别将多层电路板中各介质层单独接入测试环路，其中，所述测试环路由所述测试夹具、所述测试夹具夹持的介质层和网络分析仪组成；所述网络分析仪，用于在所述测试环路中向所述多层电路板的介质层输出预设频率的电磁波信号，并接收所述预设频率的电磁波信号通过所述多层电路板的介质层产生的电磁波反馈信号；上位机，用于根据所述网络分析仪接收的电磁波反馈信号，测试所述多层电路板中各介质层的介电性能参数。采用本系统可以直接对电路板进行介电性能测试，提高了电路板介电性能测试的方便性。
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公开(公告)号：CN115901435A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211149314.9
申请日：2022-09-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及材料检测技术领域，特别是涉及一种材料检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取检测温度和检测压力；通过测试夹具，将检测温度和检测压力同时施加于待检测材料；控制抵接在待检测材料上的网络分析仪，对施加有检测温度和检测压力的待检测材料进行压力温度检测，并根据检测结果，确定待检测材料的耐用度。本申请提高了压力温度检测的效率，保证了待检测材料能够在检测温度和检测压力的前提下完成压力温度检测，降低了压力温度检测的操作难度。
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