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公开(公告)号：CN117491814B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311440102.0
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种评估塑封界面绝缘可靠性方法，属于可靠性试验技术领域。该方法包括：将用于塑封界面绝缘可靠性评估的试样进行环境试验，获取待测塑封界面在试验前的界面电阻和界面击穿强度，以及获取塑封界面在试验后的界面电阻和界面击穿强度；根据以下公式计算绝缘可靠性系数：#imgabs0#该方法操作简单，能够在现有环境试验设备和绝缘测试设备的基础上，兼顾实用性和低成本，满足对塑封界面绝缘可靠性的评估需求。
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公开(公告)号：CN114252402B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202111570433.7
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N23/22 , G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法，涉及印制电路板技术领域。通过表面形貌、表面粗糙度及成分分析方法判断失效类型，根据失效类型确定采用何种方法对阻焊膜进行失效复现，通过失效复现确认导致阻焊膜变色的源头，并提出改善阻焊膜变色的方法。本发明能够对印制电路板阻焊膜变色进行快速有效分析，分析准确性高，能够提高企业对印制电路板阻焊膜变色的分析能力及解决阻焊膜变色现象的能力。
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公开(公告)号：CN117368664A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311302057.2
申请日：2023-10-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种环氧塑封料绝缘可靠性评估的电场应力施加装置、试验系统、试验单元和评估方法，其中，电场应力施加装置包括第一绝缘基板、第一金属电极和第一导线等结构。本申请能够对环氧塑封料绝缘可靠性进行评估并获得评估结果，同时，本申请具有试验成本低、可避免环境试验过程中出现空气击穿等优点。
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公开(公告)号：CN115824800A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211293483.X
申请日：2022-10-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种板材载荷测试装置，包括：支撑组件，支撑组件用于支撑待测板；分配梁机构，分配梁机构包括主分配梁单元及层叠设置于主分配梁单元与待测板之间的至少一层次级分配梁组件，每层次级分配梁组件均包括沿待测板的长度方向间隔设置的至少两个次级分配梁单元；加载机构，加载机构用于向主分配梁单元施加朝向待测板方向的载荷。当加载机构作业时，加载机构集中向主分配梁单元施加的载荷可通过每层次级分配梁组件中多个次级分配梁单元进行分散，最后施加在待测板上各处，如此，可精确还原待测板的使用环境，使得待测板的受力更加贴近其实际使用时的受力情况。
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公开(公告)号：CN114252402A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202111570433.7
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N23/22 , G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法，涉及印制电路板技术领域。通过表面形貌、表面粗糙度及成分分析方法判断失效类型，根据失效类型确定采用何种方法对阻焊膜进行失效复现，通过失效复现确认导致阻焊膜变色的源头，并提出改善阻焊膜变色的方法。本发明能够对印制电路板阻焊膜变色进行快速有效分析，分析准确性高，能够提高企业对印制电路板阻焊膜变色的分析能力及解决阻焊膜变色现象的能力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113740331A
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN202110843154.7
申请日：2021-07-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明公开了一种稀土金属氧化物晶体的位错检测方法，包括以下步骤：利用质量分数为75％～95％的磷酸溶液在80℃～200℃下对所述稀土金属氧化物晶体刻蚀处理10分钟～60分钟，制备预处理样品；对所述预处理样品进行观察，获取所述稀土金属氧化物晶体的位错特征。通过对稀土金属氧化物晶体选择适当的刻蚀温度以及刻蚀液，使晶体结构中的位错易于在光学显微镜下以及扫描电子显微镜下进行观察，不仅可以判断稀土金属氧化物的晶体结构中位错的类型，还能进一步计算出晶体位错密度。上述测试方法成本低且周期短，避免传统透射电子显微镜对样品进行繁琐处理以及X射线衍射不能对晶体位错类型进行判断的缺陷。
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公开(公告)号：CN115248170B
公开(公告)日：2023-02-07
申请号：CN202211152563.3
申请日：2022-09-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种有机硅体系的热界面材料的性能检测方法，包括对试样进行状态稳定性检测，所述状态稳定性检测的方法包括以下步骤：准备试样，设置于化学分析滤纸上，称量试样的初始重量；将试样连同所述化学分析滤纸板置于温度为75℃~200℃的环境中，静置4~3000小时后取出；取出后，称量试样的剩余重量，计算试样的重量变化率，测量所述化学分析滤纸上形成的渗出渍区域的尺寸。上述性能检测方法将试样设置于化学分析滤纸上，在高温条件下，加速热界面材料中有机物的渗出，再测量热界面材料的重量变化率和渗出渍区域的尺寸，从而综合评价试样的状态稳定性。
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公开(公告)号：CN115326370A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210734016.X
申请日：2022-06-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种弹簧试验装置及弹簧试验系统，所述弹簧试验装置包括：支撑架，挡板，所述挡板与所述支撑架可拆卸连接围成实验腔；测试组件，所述测试组件包括活动平台、连接杆及传感器，所述活动平台设置于所述实验腔内并与所述支撑架活动连接，所述活动平台用于沿所述支撑架的高度方向运动，所述连接杆穿入所述实验腔内与所述活动平台连接，所述传感器与所述连接杆感应配合，所述传感器用于检测所述连接杆的受力；夹具组件。本弹簧试验装置，使用步骤简单，便于操作，且挡板有利于人和外部环境对被测弹簧的直接接触，有利于减少外部环境干扰因素和人为干扰因素，从而提高试验结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN115127985A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202210781550.6
申请日：2022-07-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明公开了一种敷形涂覆材料防硫化腐蚀性能的评价方法，属于测试评价技术领域。该评价方法包括以下步骤：于试验基板的同侧表面按相同的条件覆盖第一金属箔片和第二金属箔片，第一金属箔片与第二金属箔片相等且相互间隔设置；于第一金属箔片的表面涂覆敷形涂料，第二金属箔片的表面不涂覆敷形涂料；随后，依据预设的硫化腐蚀试验方法和测试条件对试样基板进行硫化腐蚀试验；试验完成后，根据第一金属箔片与第二金属箔片的发黑面积评价敷形涂覆材料的防硫化腐蚀性能；评价标准为：若第一金属箔片的发黑面积小于第二金属箔片内的发黑面积，表明敷形涂料具有防硫化腐蚀作用。该方法能够有效定性定量评价敷形涂料的防硫化腐蚀性能。
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公开(公告)号：CN114923752A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210538669.0
申请日：2022-05-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N1/28 , G01N1/34 , G01N1/40 , G01N21/3563 , G01N23/2005 , G01N23/207 , G01N23/2202 , G01N23/2251
Abstract: 本发明公开了一种有机硅胶粘剂填料的鉴别方法，属于填料鉴别技术领域。该方法包括以下步骤：将待鉴别的有机硅胶粘剂填料进行纯化；将部分纯化后的有机硅胶粘剂填料附着于导电胶表面，得到A样；将剩余部分纯化后的有机硅胶粘剂填料在制成A样后进行固封，制作暴露出填料颗粒截面的金相切片，得到B样；分别A样和B样中的填料成分进行分析鉴定。该方法能够有效规避有机硅成分对鉴别效果的干扰，实现从表面和截面两个维度对填料进行鉴别，得到尺寸、形貌、结构、元素分布及物相组成等多种用于鉴别填料的信息，快速获得准确的鉴别结果。
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