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公开(公告)号：CN117406145A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311371911.0
申请日：2023-10-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电连接器可靠性分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：基于待测样品的实际使用状态，确定待测样品的测试类型；对于待测样品同批次的多个参考样品，根据测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据；根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定待测样品的接触电阻变化规律；以及接触电阻最大值；根据所述接触电阻变化规律和所述接触电阻最大值，分析所述待测样品的实际可靠性以及剩余使用寿命。通过标准化的测试装置可以完成反复插拔测试和接触持久性测试，能够得到每一待测样品的实际接触电阻最大值，进而对元件级或产品级的电连接器的可靠性和剩余寿命进行精准分析。
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公开(公告)号：CN115326370A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210734016.X
申请日：2022-06-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种弹簧试验装置及弹簧试验系统，所述弹簧试验装置包括：支撑架，挡板，所述挡板与所述支撑架可拆卸连接围成实验腔；测试组件，所述测试组件包括活动平台、连接杆及传感器，所述活动平台设置于所述实验腔内并与所述支撑架活动连接，所述活动平台用于沿所述支撑架的高度方向运动，所述连接杆穿入所述实验腔内与所述活动平台连接，所述传感器与所述连接杆感应配合，所述传感器用于检测所述连接杆的受力；夹具组件。本弹簧试验装置，使用步骤简单，便于操作，且挡板有利于人和外部环境对被测弹簧的直接接触，有利于减少外部环境干扰因素和人为干扰因素，从而提高试验结果的可靠性。
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公开(公告)号：CN115127985A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202210781550.6
申请日：2022-07-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本发明公开了一种敷形涂覆材料防硫化腐蚀性能的评价方法，属于测试评价技术领域。该评价方法包括以下步骤：于试验基板的同侧表面按相同的条件覆盖第一金属箔片和第二金属箔片，第一金属箔片与第二金属箔片相等且相互间隔设置；于第一金属箔片的表面涂覆敷形涂料，第二金属箔片的表面不涂覆敷形涂料；随后，依据预设的硫化腐蚀试验方法和测试条件对试样基板进行硫化腐蚀试验；试验完成后，根据第一金属箔片与第二金属箔片的发黑面积评价敷形涂覆材料的防硫化腐蚀性能；评价标准为：若第一金属箔片的发黑面积小于第二金属箔片内的发黑面积，表明敷形涂料具有防硫化腐蚀作用。该方法能够有效定性定量评价敷形涂料的防硫化腐蚀性能。
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公开(公告)号：CN114923752A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210538669.0
申请日：2022-05-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N1/28 , G01N1/34 , G01N1/40 , G01N21/3563 , G01N23/2005 , G01N23/207 , G01N23/2202 , G01N23/2251
Abstract: 本发明公开了一种有机硅胶粘剂填料的鉴别方法，属于填料鉴别技术领域。该方法包括以下步骤：将待鉴别的有机硅胶粘剂填料进行纯化；将部分纯化后的有机硅胶粘剂填料附着于导电胶表面，得到A样；将剩余部分纯化后的有机硅胶粘剂填料在制成A样后进行固封，制作暴露出填料颗粒截面的金相切片，得到B样；分别A样和B样中的填料成分进行分析鉴定。该方法能够有效规避有机硅成分对鉴别效果的干扰，实现从表面和截面两个维度对填料进行鉴别，得到尺寸、形貌、结构、元素分布及物相组成等多种用于鉴别填料的信息，快速获得准确的鉴别结果。
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公开(公告)号：CN117491814B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311440102.0
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种评估塑封界面绝缘可靠性方法，属于可靠性试验技术领域。该方法包括：将用于塑封界面绝缘可靠性评估的试样进行环境试验，获取待测塑封界面在试验前的界面电阻和界面击穿强度，以及获取塑封界面在试验后的界面电阻和界面击穿强度；根据以下公式计算绝缘可靠性系数：#imgabs0#该方法操作简单，能够在现有环境试验设备和绝缘测试设备的基础上，兼顾实用性和低成本，满足对塑封界面绝缘可靠性的评估需求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117368664A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311302057.2
申请日：2023-10-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种环氧塑封料绝缘可靠性评估的电场应力施加装置、试验系统、试验单元和评估方法，其中，电场应力施加装置包括第一绝缘基板、第一金属电极和第一导线等结构。本申请能够对环氧塑封料绝缘可靠性进行评估并获得评估结果，同时，本申请具有试验成本低、可避免环境试验过程中出现空气击穿等优点。
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公开(公告)号：CN113740331A
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN202110843154.7
申请日：2021-07-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明公开了一种稀土金属氧化物晶体的位错检测方法，包括以下步骤：利用质量分数为75％～95％的磷酸溶液在80℃～200℃下对所述稀土金属氧化物晶体刻蚀处理10分钟～60分钟，制备预处理样品；对所述预处理样品进行观察，获取所述稀土金属氧化物晶体的位错特征。通过对稀土金属氧化物晶体选择适当的刻蚀温度以及刻蚀液，使晶体结构中的位错易于在光学显微镜下以及扫描电子显微镜下进行观察，不仅可以判断稀土金属氧化物的晶体结构中位错的类型，还能进一步计算出晶体位错密度。上述测试方法成本低且周期短，避免传统透射电子显微镜对样品进行繁琐处理以及X射线衍射不能对晶体位错类型进行判断的缺陷。
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公开(公告)号：CN113611853A
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN202110531898.5
申请日：2021-05-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H01M4/58 , B82Y30/00 , C01G23/00 , H01M4/62 , H01M10/054
Abstract: 二维钛基纳米材料及其制备方法与其储镁应用，本发明提供了一种二维纳米材料，所述二维纳米材料由钛酸钠组成，晶面间距为0.85nm。这独特的形貌能够充分暴露钛酸钠材料的活性晶面，缩短镁离子传输路径，加强材料的离子导电性，从而提高其电化学动力学性能；同时，该二维纳米材料应用于电极材料时能够通过贯穿的钛酸钠和金属钛界面进行电子传输，提高材料的电子传输效率，进而增强整个电极的电子导电性。此外，该二维纳米材料还表现出优异的储镁性能。
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公开(公告)号：CN114295536B
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202111406433.3
申请日：2021-11-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本申请涉及一种高分子材料评估方法、装置、计算机设备和存储介质。装置包括：测试主体装置以及老化箱，测试主体装置包括容器以及设置在容器内的支架，容器，用于盛放目标液体介质，目标液体介质与待测试的高分子材料所处应用环境中的液体特性参数相匹配，支架，用于分层放置待测试的高分子材料，使得待测试的高分子材料与目标液体介质接触，老化箱，用于容纳测试主体装置，提供测试主体装置的老化测试环境。能够在一定程度上排除温度之外的其他应力对高分子材料寿命测试的干扰，提高对高分子材料老化性能的测试准确性。
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公开(公告)号：CN114994449B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202210839763.X
申请日：2022-07-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电子材料的兼容性测试装置、方法和计算机设备。电子材料制备于清洗后的电极板上，电极板包括多种间距类型的梳形电极，不同间距类型的梳形电极之间的导电带宽不同，不同间距类型的梳形电极之间的导电带间隙不同，且多种间距类型的梳形电极中的至少一个梳形电极的导电带宽小于预设标准带宽且导电带间隙小于预设标准带间隙；兼容性测试装置包括清洗后的电极板、金手指；清洗后的电极板与金手指连接，用于对电子材料进行兼容性测试，以得到电子材料的兼容性测试结果。采用本装置能够对印刷电路中的电子材料开展兼容性测试。
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