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公开(公告)号：CN114295536A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111406433.3
申请日：2021-11-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N17/00
Abstract: 本申请涉及一种高分子材料评估方法、装置、计算机设备和存储介质。装置包括：测试主体装置以及老化箱，测试主体装置包括容器以及设置在容器内的支架，容器，用于盛放目标液体介质，目标液体介质与待测试的高分子材料所处应用环境中的液体特性参数相匹配，支架，用于分层放置待测试的高分子材料，使得待测试的高分子材料与目标液体介质接触，老化箱，用于容纳测试主体装置，提供测试主体装置的老化测试环境。能够在一定程度上排除温度之外的其他应力对高分子材料寿命测试的干扰，提高对高分子材料老化性能的测试准确性。
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公开(公告)号：CN117491814B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311440102.0
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种评估塑封界面绝缘可靠性方法，属于可靠性试验技术领域。该方法包括：将用于塑封界面绝缘可靠性评估的试样进行环境试验，获取待测塑封界面在试验前的界面电阻和界面击穿强度，以及获取塑封界面在试验后的界面电阻和界面击穿强度；根据以下公式计算绝缘可靠性系数：#imgabs0#该方法操作简单，能够在现有环境试验设备和绝缘测试设备的基础上，兼顾实用性和低成本，满足对塑封界面绝缘可靠性的评估需求。
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公开(公告)号：CN114252402B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202111570433.7
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N23/22 , G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法，涉及印制电路板技术领域。通过表面形貌、表面粗糙度及成分分析方法判断失效类型，根据失效类型确定采用何种方法对阻焊膜进行失效复现，通过失效复现确认导致阻焊膜变色的源头，并提出改善阻焊膜变色的方法。本发明能够对印制电路板阻焊膜变色进行快速有效分析，分析准确性高，能够提高企业对印制电路板阻焊膜变色的分析能力及解决阻焊膜变色现象的能力。
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公开(公告)号：CN117368664A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311302057.2
申请日：2023-10-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供一种环氧塑封料绝缘可靠性评估的电场应力施加装置、试验系统、试验单元和评估方法，其中，电场应力施加装置包括第一绝缘基板、第一金属电极和第一导线等结构。本申请能够对环氧塑封料绝缘可靠性进行评估并获得评估结果，同时，本申请具有试验成本低、可避免环境试验过程中出现空气击穿等优点。
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公开(公告)号：CN115440320A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202210945278.0
申请日：2022-08-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G16C60/00 , G06F30/20 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种材料寿命确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法应用于电磁屏蔽导电高分子材料，包括基于第一数量个的环境参数和第二数量个的频率子范围，构建多组试验参数；获取在各组试验参数下对目标材料分别进行老化试验而得到试验结果，每次老化试验得到的试验结果包括目标材料的多个关键特征的特征值；对于每个关键特征，根据对应于相同环境参数的老化试验而得到的相应关键特征的特征值，确定与相应关键特征对应的目标特征值；对于每个环境参数，基于各目标特征值分别达到临界值所经历的时间段，确定在相应环境参数下目标材料的材料寿命。采用本方法能够对实际使用环境下的电磁屏蔽导电高分子材料进行寿命预测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114252402A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202111570433.7
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N23/22 , G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法，涉及印制电路板技术领域。通过表面形貌、表面粗糙度及成分分析方法判断失效类型，根据失效类型确定采用何种方法对阻焊膜进行失效复现，通过失效复现确认导致阻焊膜变色的源头，并提出改善阻焊膜变色的方法。本发明能够对印制电路板阻焊膜变色进行快速有效分析，分析准确性高，能够提高企业对印制电路板阻焊膜变色的分析能力及解决阻焊膜变色现象的能力。
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公开(公告)号：CN118376492A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410507031.X
申请日：2024-04-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种用应变片测试多孔芯材泊松比的方法，属于泊松比检测技术领域。其中所述方法包括：将耐高温胶膜贴合在目标多孔芯材表面；将目标多孔芯材放入压机中并在目标多孔芯材下方垫硅橡胶缓冲垫，通过压机进行热压处理；对应变片进行预处理；去除目标多孔芯材表面上所述耐高温胶膜的保护膜，滴加胶水并将应变片粘贴在耐高温胶膜表面；去除多余胶水，固化后进行泊松比测试。本发明采用的用应变片测试多孔芯材泊松比的方法在现有试验技术的基础上，利用胶膜阻隔胶水渗透泡沫，与多孔芯材成为一个整体，测试简单、便捷，并且方法满足标准测试方法要求，填补了相关技术空白。
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公开(公告)号：CN117491814A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311440102.0
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种评估塑封界面绝缘可靠性方法，属于可靠性试验技术领域。该方法包括：将用于塑封界面绝缘可靠性评估的试样进行环境试验，获取待测塑封界面在试验前的界面电阻和界面击穿强度，以及获取塑封界面在试验后的界面电阻和界面击穿强度；根据以下公式计算绝缘可靠性系数：该方法操作简单，能够在现有环境试验设备和绝缘测试设备的基础上，兼顾实用性和低成本，满足对塑封界面绝缘可靠性的评估需求。
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公开(公告)号：CN115479883A
公开(公告)日：2022-12-16
申请号：CN202210946096.5
申请日：2022-08-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种材料寿命确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法应用于5G天线高分子材料，包括获取在属于相同环境应力的不同环境参数下，分别对多组目标材料进行老化试验而得到的与目标材料的多个关键特征分别对应的老化试验时间；基于与目标材料的多个关键特征分别对应的老化试验时间，从多个关键特征中确定目标材料的敏感特征；将每组环境参数下敏感特征所对应的老化试验时间，作为目标材料的材料寿命，得到与各环境参数分别对应的材料寿命；将各环境参数、以及各环境参数分别对应的材料寿命，输入与环境应力对应的寿命加速模型，得到材料寿命与环境应力的对应关系。采用本方法能够评估在实际使用环境下的5G天线高分子材料的寿命。
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公开(公告)号：CN115424683A
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202210946082.3
申请日：2022-08-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G16C60/00 , G06F30/20 , G06F119/04 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种材料寿命确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法应用于LCP高分子材料，包括获取属于相同环境应力的多个不同的环境参数；在通过各组试验参数分别对目标材料在流延方向、垂直方向上进行老化试验时，获得目标材料的多个关键特征的第一老化试验时间、第二老化试验时间；对于每个环境参数，基于各关键特征分别对应的第一老化试验时间和第二老化试验时间，确定在相应环境参数下目标材料的材料寿命；将各环境参数、以及各环境参数分别对应的材料寿命，输入与环境应力对应的寿命加速模型，得到材料寿命与环境应力的对应关系。采用本方法能够评估在实际使用环境下的LCP高分子材料的寿命。
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