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公开(公告)号：CN114720481A
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202210378036.8
申请日：2022-04-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及检测技术领域，公开了LCD屏边框是否分层的检测方法及其质量检测方法，包括：使浸没有LCD屏的荧光染色剂溶液体系处于压力小于或等于‑0.1MPa的环境下，保持至少1min；取出LCD屏，去除其表面液体，将LCD屏从边缘撬开为两半；使用荧光激发光源照射撬开的LCD屏原本位于屏中间的一面；通过观察撬开的LCD屏是否存在荧光显色区域判断LCD屏边框是否分层，若观察到撬开的LCD屏内存在荧光染色区域则表明LCD屏边框存在分层，反之则无。LCD屏的质量检测方法，包括上述的LCD屏边框是否分层的检测方法。本申请提供的方法操作简单，可准确快速检测出LCD屏边框是否分层。
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公开(公告)号：CN117491814B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311440102.0
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种评估塑封界面绝缘可靠性方法，属于可靠性试验技术领域。该方法包括：将用于塑封界面绝缘可靠性评估的试样进行环境试验，获取待测塑封界面在试验前的界面电阻和界面击穿强度，以及获取塑封界面在试验后的界面电阻和界面击穿强度；根据以下公式计算绝缘可靠性系数：#imgabs0#该方法操作简单，能够在现有环境试验设备和绝缘测试设备的基础上，兼顾实用性和低成本，满足对塑封界面绝缘可靠性的评估需求。
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公开(公告)号：CN114252402B
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202111570433.7
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N23/22 , G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法，涉及印制电路板技术领域。通过表面形貌、表面粗糙度及成分分析方法判断失效类型，根据失效类型确定采用何种方法对阻焊膜进行失效复现，通过失效复现确认导致阻焊膜变色的源头，并提出改善阻焊膜变色的方法。本发明能够对印制电路板阻焊膜变色进行快速有效分析，分析准确性高，能够提高企业对印制电路板阻焊膜变色的分析能力及解决阻焊膜变色现象的能力。
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公开(公告)号：CN114252402A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202111570433.7
申请日：2021-12-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N21/25 , G01N21/3563 , G01N23/22 , G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法，涉及印制电路板技术领域。通过表面形貌、表面粗糙度及成分分析方法判断失效类型，根据失效类型确定采用何种方法对阻焊膜进行失效复现，通过失效复现确认导致阻焊膜变色的源头，并提出改善阻焊膜变色的方法。本发明能够对印制电路板阻焊膜变色进行快速有效分析，分析准确性高，能够提高企业对印制电路板阻焊膜变色的分析能力及解决阻焊膜变色现象的能力。
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公开(公告)号：CN117491814A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311440102.0
申请日：2023-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种评估塑封界面绝缘可靠性方法，属于可靠性试验技术领域。该方法包括：将用于塑封界面绝缘可靠性评估的试样进行环境试验，获取待测塑封界面在试验前的界面电阻和界面击穿强度，以及获取塑封界面在试验后的界面电阻和界面击穿强度；根据以下公式计算绝缘可靠性系数：该方法操作简单，能够在现有环境试验设备和绝缘测试设备的基础上，兼顾实用性和低成本，满足对塑封界面绝缘可靠性的评估需求。
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