一种复合零级的液晶波片设计方法

    公开(公告)号:CN114509839A

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN202210120389.8

    申请日:2022-02-07

    Abstract: 一种复合零级液晶波片,该发明是由一个向列相液晶波片和波片表面镀制一层双折射薄膜构成,可以实现电控相位延迟量从最大值到零以及从零到最大值之间的连续可调,可用于光通信、光信息处理和偏振光谱成像等领域。所述复合零级的液晶波片主要包括向列相液晶盒,以及有效光轴方向与前者光轴垂直的双折射薄膜组成。该器件基于向列相液晶电控双折射原理,通过合理的结构设计和电压驱动,使得双折射薄膜的相位延迟量对液晶波片在高电压条件下的残余相位延迟量进行补偿,实现整个器件的相位延迟量能够从最大延迟量到零以及从零到最大延迟量的连续调谐。

    一种光学材料热扩散系数的测量方法

    公开(公告)号:CN114113207A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202111342499.0

    申请日:2021-11-12

    Abstract: 一种光学材料热扩散系数的测量方法,所用的装置包括激光控制单元,连续激光器,红外热像仪,计算机,真空腔装置和样品夹持装置;测试中使用连续激光束作为热源加热光学材料,由红外热像仪采集光学材料表面温度分布数据,由不同时间点的温度场分布计算相应热扩散长度,进一步通过热扩散长度与热扩散系数之间的关系可求解材料的热扩散系数。本发明的加热方式是非接触式,减小了接触热阻带来的影响;采用红外热成像记录温度场分布,具有瞬时性及同步性等特点,并结合热扩散长度的定义来推算热扩散系数,无需等待材料达到稳态温度分布。本发明具有高效、便捷等优点,同时直流热源以及真空环境的引入也可极大提高测量准确性。

    测量光学元器件反射率与透射率的装置和方法

    公开(公告)号:CN112229605A

    公开(公告)日:2021-01-15

    申请号:CN202011003266.3

    申请日:2020-09-22

    Abstract: 一种测量光学元器件反射率与透射率的装置和方法,包括锁相放大器、激光器、斩波器、楔形片、测试光路探测器、空测光路探测器微调平台、参考光路探测器、参考光路探测器微调平台、样品夹具及测试光路探测器微调平台。本发明方法可通过锁相放大器得到参考信号值、空测时参考光与测试光的信号差值以及有样品时参考光与测试光的信号差值,由此计算出光学元器件的反射率与透射率。本发明可有效实现对超高反射率与透射率光学元器件的测量,提高反射率和透射率的测量精度。

    一种光学薄膜激光损伤阈值测试系统及其方法

    公开(公告)号:CN110542684A

    公开(公告)日:2019-12-06

    申请号:CN201910722421.8

    申请日:2019-08-06

    Abstract: 本发明涉及一种光学薄膜激光损伤阈值测试方法,包括如下步骤:S1、测试得到光学薄膜单脉冲激光损伤时的激光能量密度Fth;S2、使单脉冲激光对光学薄膜进行辐照,记录下光学薄膜表面激光损伤边界不再增大时的激光损伤区域边界坐标(xi,yi),同时记录下单脉冲激光辐照的次数n;S3、将激光能量密度的高斯分布与激光损伤区域分布对照,得到光学薄膜多脉冲激光辐照损伤时的激光损伤阈值FN;S4、不断改变入射的激光能量密度,重复执行步骤S2、S3,得到不同脉冲数目的飞秒激光辐照下光学薄膜的激光损伤阈值曲线。有益效果是不仅仅保证多脉冲激光辐照下光学薄膜激光损伤阈值测量准确性、同时大大提高多脉冲辐照下光学薄膜损伤阈值的测试效率。

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