-
公开(公告)号：CN118896758A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410916569.6
申请日：2024-07-09
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种评估激光光学元件安全运行通量和筛选元件的方法，该方法包括三步测试，分别达到确定激光光学元件无损伤激光通量、排除缺陷损伤影响和筛选合格样品，以及验证长期稳定性的目的，从而确保激光光学元件在高功率激光系统中的高可靠性。第一步测试通过逐步扫描测试，确定光学元件的无损伤激光通量Fun；第二步测试以无损伤激光通量Fun对光学元件进行多次全口径扫描，排除原生缺陷损伤和累积效应影响，获得合格样品；第三步测试利用多脉冲对合格的激光光学元件进行稳定性验证。与现有的激光损伤测试方法相比，该方法可有效评估高性能要求激光系统中激光光学元件的抗激光损伤能力，确定安全运行通量，筛选出高可靠性激光光学元件。
-
公开(公告)号：CN115825010B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202211525242.3
申请日：2022-11-30
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供了一种测量光学透明块体材料折射率温度系数的方法，包括设计测量光路，实验测量过程，样品的温度场仿真以及数据处理共四个步骤，其中测量光路设计简单，由激光器输出的光束经准直垂直入射样品的入射面，然后由出射面出射，出射光垂直进入CCD相机，由CCD相机采集到整个光强分布图像，且样品需置于加热台上；实验测量过程中用计算机保存CCD相机采集的常温下的光强分布图像数据和设置温度下的光强分布图像数据；采用仿真软件进行样品在设置温度下的温度场仿真，使仿真结果与热电偶实际测量的样品各个点的温度相同。最后根据测量的光强分布图像数据和仿真的温度场数据计算出折射率温度系数即可。本发明测试装置简单易行，测出的折射率温度系数精度较高，且可以测量不同温度下的折射率温度系数。
-
公开(公告)号：CN112968341B
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202110138461.5
申请日：2021-02-01
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: H01S3/00
Abstract: 一种用于宽带超短激光及其相关应用领域的能量衰减装置，该装置由半波片、单面镀膜的第一楔板偏振片、单面镀膜的第二楔板偏振片及吸收池组成，通过所述半波片对宽带超短激光的偏振方向进行调制，通过所述第一楔板偏振片对宽带超短激光S分量反射光进行检偏，通过旋转所述半波片的角度实现对宽带超短激光脉冲能量的连续衰减调整，并利用所述第二楔板偏振片实现所述第二楔板偏振片的反射光方向与所述第一楔板偏振片入射宽带超短激光平行。上述装置可以降低宽带超短激光传输过程中的能量损耗以及激光系统中光学元件发生损伤的几率，避免宽带超短激光传输过程中产生的色散效应及脉宽展宽，便于对后续光路的准直和调节。
-
公开(公告)号：CN112903622B
公开(公告)日：2023-01-20
申请号：CN202110096556.5
申请日：2021-01-25
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N21/3563 , G01N21/59
Abstract: 一种多光子聚合物的局部聚合度测量装置，包括单脉冲长焦距多光子曝光装置和显微光谱测量装置；所述的单脉冲长焦距多光子曝光装置包括：超快激光器、第一可调波片、偏振片、第二可调波片、快门、聚焦透镜、激光分光镜、供光刻胶样品放置的电控位移台、光电探测器、光束质量分析仪和计算机。本发明可以避免高重频脉冲诱导聚合中可能存在的热效应和非线性副效应的影响，单纯地分析聚合度与激光参量的关系，有助于理解多光子聚合物的特性与激光参量的关系，并加以调控。
-
公开(公告)号：CN113203680A
公开(公告)日：2021-08-03
申请号：CN202110382141.4
申请日：2021-04-09
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种基于表面热透镜技术测量薄膜元件及体材料热扩散率的装置和方法，包括泵浦光激光器、泵浦光路功率调节部件、斩波器、泵浦光路反射镜、泵浦光路透镜、透镜二维位移平台、待测样、样品二维位移平台、探测光激光器、探测光路功率调节部件、探测光路反射镜、探测光路透镜、光阑、探测器、探测器二维位移平台、计算机、锁相放大器。本发明通过光热信号的相位与探测距离之间的关系，以及热扩散长度与调制频率的关系计算出薄膜材料的热扩散率。本发明可有效实现对薄膜元件及体材料的热扩散率测量。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112595493A
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN202011207685.9
申请日：2020-11-03
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种激光损伤阈值和非线性吸收的共靶面测量装置和方法，装置包括：超快激光器、可调衰减片、快门、聚焦透镜、第一分光镜、第一光电探测器、待测样品、电控位移台、第二分光镜、第二光电探测器、扩束镜组、CCD相机、计算机和光束质量分析仪。沿所述的激光器的激光输出方向上依次是可调衰减片、快门、聚焦透镜、第一分光镜、待测样品、第二分光镜、扩束镜组、CCD相机；采用光束质量分析仪对激光焦点的有效面积进行测量。本发明还采用了同一聚焦光场和像传递法，确保了造成样品损伤的光源和激发样品非线性吸收的光源具有完全同等的靶面光斑分布，方便进一步分析激光损伤与样品非线性吸收的关系。
-
公开(公告)号：CN109141828B
公开(公告)日：2020-08-28
申请号：CN201810798007.0
申请日：2018-07-19
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种连续激光辐照下液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法，所述的测量装置包括探测激光器、第一偏振分光镜、第一半波片、聚焦透镜、样品台、第二半波片、第二偏振分光镜、功率计和计算机，该方法通过探测激光的功率变化在线实时测量连续激光作用下液晶器件相位调控特性变化。该方法简单易行，可以准确评估不同激光参数作用对液晶器件相位调控特性的影响。
-
公开(公告)号：CN111238773A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010064738.X
申请日：2020-01-20
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种高分辨激光输出功率变化量监测装置与方法，包括斩波器、第一光电探测器、第二光电探测器、楔形片和锁相放大器。本发明利用光电探测器分别接收两束光并转换为电压信号后输入到所述的锁相放大器，并做差分运算后测量差值信号大小，另外所述的斩波器的同步信号输入锁相放大器作为参考信号。本发明可有效实现监测激光输出功率变化量，显著提高监测分辨率。
-
公开(公告)号：CN110079788A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910366232.1
申请日：2019-05-05
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: C23C16/40 , C23C16/455 , C23C16/513
Abstract: 一种基于等离子体增强原子层沉积(PEALD)的紫外减反射薄膜的镀制方法，采用类似于熔石英体材料化学反应的原理沉积SiO2薄膜材料。本发明能够避免溶胶-凝胶技术(sol-gel)薄膜稳定性差、电子束沉积(E-beam deposition)薄膜纳米吸收性缺陷密度高的问题，获得同时具备高稳定性和高激光损伤阈值的高性能紫外减反射薄膜。
-
公开(公告)号：CN109883956A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910078617.8
申请日：2019-01-28
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01N21/21
Abstract: 一种薄膜光学常数随温度变化的测量装置与测量方法，通过对薄膜样品在密闭环境中控温加热，分别测量同一样品的基底和膜面随温度变化的椭偏参数，以相同温度下所测量的基底光学常数作为膜层光学常数拟合的基底参数，排除基底在受热过程中面形及光学特性变化而对膜层测量结果的影响，实现薄膜光学常数随温度变化的精确测量。本发明中薄膜光学常数的测量有效排除基底特性随温度变化的影响提高测量精度。测量过程中严格控制变量条件，减小测量误差，操作简单有效，有利于提高测量的精确性和稳定性。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
129
records
(took 0.041 seconds)
