公开(公告)号：CN111289225A

公开(公告)日：2020-06-16

申请号：CN202010119030.X

申请日：2020-02-26

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 刘晓凤 ,  汪小双 ,  李大伟 ,  赵元安 ,  胡国行 ,  朱美萍 ,  邵建达

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种连续激光加载下液晶波片相位调制特性变化的测量装置及测量方法，装置由探测激光器、第一反射镜、平面玻璃分光板、连续激光器、第二反射镜、待测液晶波片、等腰三角楔形板、光束质量分析仪和计算机组成。该方法利用平面玻璃分光板将探测光束分为两束，利用一块等腰三角楔形板使得所述的两束光束偏折，实现两束光的空间干涉。本发明光路简单，对环境不敏感，可以提高相位测试精度，可以准确评估不同激光参数作用对液晶波片相位调制特性的影响。

公开(公告)号：CN111289225B

公开(公告)日：2022-04-05

申请号：CN202010119030.X

申请日：2020-02-26

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 刘晓凤 ,  汪小双 ,  李大伟 ,  赵元安 ,  胡国行 ,  朱美萍 ,  邵建达

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种连续激光加载下液晶波片相位调制特性变化的测量装置及测量方法，装置由探测激光器、第一反射镜、平面玻璃分光板、连续激光器、第二反射镜、待测液晶波片、等腰三角楔形板、光束质量分析仪和计算机组成。该方法利用平面玻璃分光板将探测光束分为两束，利用一块等腰三角楔形板使得所述的两束光束偏折，实现两束光的空间干涉。本发明光路简单，对环境不敏感，可以提高相位测试精度，可以准确评估不同激光参数作用对液晶波片相位调制特性的影响。