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公开(公告)号：CN115127781B
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202210730152.1
申请日：2022-06-24
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种皮秒激光光学元件的全角度真空激光损伤阈值测试装置及方法，包括光学元件固定系统，损伤用皮秒激光系统，皮秒激光损伤监测系统和激光防护模块；该装置中与真空环境相关的在线CCD成像系统和待测光学元件放置角度固定，将需要调节的部分限制在调节自由度比较大的空气环境，通过利用旋转和上下移动的偏振片方便地实现了真空环境中皮秒激光光学元件的全角度激光损伤测试，避免了涉及真空环境调节不便的问题。该方法在测试区域内采用光斑叠合测试方法，并结合多脉冲辐照考察损伤的稳定性，能够准确评估光学元件在皮秒激光应用下可安全承受的能量密度。
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公开(公告)号：CN112595493B
公开(公告)日：2023-08-11
申请号：CN202011207685.9
申请日：2020-11-03
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 一种激光损伤阈值和非线性吸收的共靶面测量装置和方法，装置包括：超快激光器、可调衰减片、快门、聚焦透镜、第一分光镜、第一光电探测器、待测样品、电控位移台、第二分光镜、第二光电探测器、扩束镜组、CCD相机、计算机和光束质量分析仪。沿所述的激光器的激光输出方向上依次是可调衰减片、快门、聚焦透镜、第一分光镜、待测样品、第二分光镜、扩束镜组、CCD相机；采用光束质量分析仪对激光焦点的有效面积进行测量。本发明还采用了同一聚焦光场和像传递法，确保了造成样品损伤的光源和激发样品非线性吸收的光源具有完全同等的靶面光斑分布，方便进一步分析激光损伤与样品非线性吸收的关系。
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公开(公告)号：CN112730262A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011508827.5
申请日：2020-12-18
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种提升KDP类晶体飞秒激光诱导损伤阈值的装置及方法，构成包括脉宽可调激光器、第一快门、第一波片、第一偏振片、第一凸透镜、第一楔形片、第一光束质量分析仪、第一光电探测器、第一反射镜、第二反射镜、电控位移台、待处理KDP类晶体、CCD相机、吸收池、飞秒激光器、第二快门、第二波片、第二偏振片、第一凹透镜、第二凸透镜、第三凸透镜、第二楔形片、第二光束质量分析仪、第二光电探测器、连续激光器、第三反射镜、第四反射镜和计算机，本发明不仅能够对飞秒激光器用KDP类晶体倍频元件进行大面积激光预处理，也能通过测量预处理前后样品损伤阈值变化情况评估预处理效果，为有效提升飞秒激光器的倍频能量输出提供解决方案。
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公开(公告)号：CN119804453A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411835150.4
申请日：2024-12-13
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种基于散射光成像实现光学元件真空皮秒激光损伤在线检测装置和方法，该装置包括：皮秒激光器、第一反射镜、真空舱室、二维位移样品台、CCD成像系统、第一吸收阱、第二吸收阱、第一连续变倍扩束镜、第二反射镜、第一探测激光器、第二连续变倍扩束镜、第三反射镜、第二探测激光器和控制计算机。该方法利用所述的CCD相机捕捉由探测激光辐照元件损伤测试区域产生的暗场散射光图像，并根据测试激光辐照前后的散射光图像对比实现光学元件真空皮秒激光损伤的精确诊断。该方法灵活便利，探测光可根据待测光学元件性质从其前表面或后表面入射，利用损伤点物像的散射光增强信号，提高成像系统对皮秒激光诱导产生的典型点状损伤形貌的检测分辨极限。
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公开(公告)号：CN113203680B
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202110382141.4
申请日：2021-04-09
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种基于表面热透镜技术测量薄膜元件及体材料热扩散率的装置和方法，包括泵浦光激光器、泵浦光路功率调节部件、斩波器、泵浦光路反射镜、泵浦光路透镜、透镜二维位移平台、待测样、样品二维位移平台、探测光激光器、探测光路功率调节部件、探测光路反射镜、探测光路透镜、光阑、探测器、探测器二维位移平台、计算机、锁相放大器。本发明通过光热信号的相位与探测距离之间的关系，以及热扩散长度与调制频率的关系计算出薄膜材料的热扩散率。本发明可有效实现对薄膜元件及体材料的热扩散率测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117175328A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311039641.3
申请日：2023-08-17
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: H01S3/00
Abstract: 一种从高能高重频激光器输出脉冲中抽取单脉冲的装置和方法，其特征在于该装置包括：高能高重频激光器、数字延时信号发生器、第一快门、继电器、第二快门、计算机。该方法利用高能高重频激光器输出的同步信号作为基准信号输入到数字延时信号发生器，数字延时信号发生器实现降频并将降频之后的开门信号经继电器后分别输入到第一快门和第二快门，并调节两信号之间的相对延时使得两快门开启时间的重叠长度小于激光器输出脉冲的周期长度即可完成单脉冲选取。其中计算机通过输出给继电器高低电平实现两个快门控制信号的通断，根据实际需求实现脉冲激光的抽取。该装置结构简单、扩展性强，可极大拓展高能高重频激光器的应用范围，节约装置成本。
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公开(公告)号：CN112432898A
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN202011206315.3
申请日：2020-11-03
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种KDP类晶体锥柱生长区域的判别方法和测试装置，其中方法包括：测量深紫外某一波长激光光束的初始能量E1或者光功率P1，在所述深紫外激光光路上放置KDP类晶体，测量透过KDP类晶体后激光束能量E2或者光功率P2，利用公式T＝E2/E1*100％或者T＝P2/P1*100％计算出该KDP类晶体测量点处的透过率T。根据透过率T判断晶体锥柱生长区域：透过率T高于70％，为KDP类晶体的锥面生长区；透过率T低于50％，为KDP类晶体的柱面生长区；透过率T在[50％，70％]，则为KDP类晶体的锥柱交界区。该方法可简便、快速判别快速生长KDP类晶体的锥柱生长区类别。
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公开(公告)号：CN113203680A
公开(公告)日：2021-08-03
申请号：CN202110382141.4
申请日：2021-04-09
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种基于表面热透镜技术测量薄膜元件及体材料热扩散率的装置和方法，包括泵浦光激光器、泵浦光路功率调节部件、斩波器、泵浦光路反射镜、泵浦光路透镜、透镜二维位移平台、待测样、样品二维位移平台、探测光激光器、探测光路功率调节部件、探测光路反射镜、探测光路透镜、光阑、探测器、探测器二维位移平台、计算机、锁相放大器。本发明通过光热信号的相位与探测距离之间的关系，以及热扩散长度与调制频率的关系计算出薄膜材料的热扩散率。本发明可有效实现对薄膜元件及体材料的热扩散率测量。
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