-
公开(公告)号：CN112034218A
公开(公告)日：2020-12-04
申请号：CN202011005331.6
申请日：2020-09-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请实施例提供一种CAF测试装置及测试方法，涉及电子元器件测试技术领域，该装置包括CAF测试板，其上设置有焊接区域；测试夹具，其一端与在线监测系统的监测线电连接，另一端用于夹设至所述焊接区域，以使所述监测线与所述CAF测试板导通；固定组件，用于将所述监测线可拆卸地固定至所述焊接区域，省去了焊接导线、清洗助焊剂残留物、脱焊等步骤，提高测试效率，节省大量时间，解决现有的焊接方法需要耗费大量时间和精力的问题。
-
公开(公告)号：CN110211876A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910351680.4
申请日：2019-04-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H01L21/304
Abstract: 本申请提供了一种芯片的加工方法，涉及半导体器件处理技术领域。本申请实施例提供的芯片加工方法，通过对印制电路板上的芯片进行调平、初次减薄和二次减薄等步骤后，可以将芯片的厚度减薄至满足地面单粒子效应测试的厚度，通过这样的物理减薄，避免先减薄后焊接的操作流程中，重新焊接芯片带来的芯片变形等情况，同时避免了化学减薄过程中很容易出现的过腐蚀或腐蚀不足的情况。即使使用能量交底的低能重离子，也可以对本申请中减薄后的芯片进行单粒子效应测试，降低了单粒子效应测试中对重离子加速器的能量要求。
-
公开(公告)号：CN119575150A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411946570.X
申请日：2024-12-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/309
Abstract: 本申请涉及电路测试技术领域，特别是涉及一种电路板的探测装置及其方法、分析装置。电路板的探测设备包括：射频探头，用于连接待测电路板的测试线路的一端；分析装置，连接射频探头，分析装置经由射频探头向待测电路板的测试线路发射探测信号，探测信号沿待测电路板的测试线路中传播并发生反射生成反射信号，射频探头还用于接收反射信号并将反射信号发送至分析装置，分析装置用于基于反射信号确定电路板的缺陷情况。本申请中，通过设置分析装置连接射频探头，从而可以通过射频探头向待测电路板发射探测信号，分析装置也可以获取反射信号并基于反射信号确定电路板的缺陷情况，从而无需对待测电路板切割即可快速确定待测电路板的缺陷情况。
-
公开(公告)号：CN118794794A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202411089507.9
申请日：2024-08-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请PCB板性能检测技术领域，特别是涉及一种盲孔抗拉强度原位测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：采样获得具有至少三个电镀盲孔结构的测试板；对所述电镀盲孔结构和拉拔探头进行表面粗糙度处理；控制所述拉拔探头对准所述电镀盲孔结构，并将所述拉拔探头的表面与所述电镀盲孔结构的表面进行常温键合；按照预设速度，对所述拉拔探头进行原位拉拔，直至所述测试板出现预设变化现象时，记录所述电镀盲孔结构的抗拉强度值。采用本方法能够直接反映电镀盲孔结构的实际状态且提高抗拉强度准确性。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113607528A
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN202110972908.9
申请日：2021-08-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N1/28
Abstract: 本申请提供一种离子清洁度检测治具及离子清洁度检测方法，其中，离子清洁度检测治具包括支撑装置；滚动链条，其绕过所述支撑装置的顶端和所述支撑装置的底端；驱动装置，与所述滚动链条传动连接，用于驱动所述滚动链条绕经所述支撑装置的顶端和底端做旋转滚动；试样槽体，其与所述滚动链条连接。本申请能够通过控制试样槽体的上升和下降，有效地减少投入试样过程中引入其他污染，另一方面，本申请还能够避免夹具损坏待检测电路板。
-
公开(公告)号：CN111397778A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010388903.7
申请日：2020-05-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请提供了一种应力检测方法、装置及系统，其中，应力检测方法包括步骤：获取图像采集设备采集的待检测电路板的第一成像，第一成像为待检测电路板在加载力之前的成像；获取图像采集设备采集的待检测电路板的第二成像，第二成像为待检测电路板在加载力之后的成像；根据第一成像和第二成像确定待检测电路板中的应力最大区域；获取应力最大区域的电阻值，电阻值为应力最大区域的应变时的电阻值；根据应力最大区域的电阻值计算得到应力最大区域的应力检测结果。本申请能够确定待检测电路板板中的应力最大区域，且具有更优的检测效率和检测精度。
-
公开(公告)号：CN218546897U
公开(公告)日：2023-02-28
申请号：CN202222617936.1
申请日：2022-09-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本实用新型涉及一种探测装置和探测系统，探测装置可以通过调节第一转动件相对于基座绕第一方向转动的角度，以及通过调节第二转动件相对于第一转动件绕第二方向转动的角度，从而将探测件根据信号线的实际测试需求调整至任意方向、任意角度，进而克服传统测试方案难以对设于不同平面的不同角度的信号线进行测量的问题，实现对复杂布局的信号线进行测量，提高了测试的便捷性和精确性，同时，由于本实用新型涉及的探测装置和探测系统能够测试复杂信号线结构的精确度，电路板上的信号线能够采取更灵活的布线方式，从而节省布线位置空间，进而减少了产品的体积。
-
公开(公告)号：CN216645400U
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202122713463.0
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01D11/00
Abstract: 本实用新型提供一种测试系统，测试系统包括：信号源模块，与待测件连接，用于为待测件提供功率信号；温度采集模块，与待测件连接，用于对待测件在功率信号下的温度进行监测。本实用新型的测试系统通过使用信号源模块和温度采集模块测试待测件的温升系数，将信号源模块和温度采集模块分别与待测件连接，通过信号源模块用于为待测件提供功率信号，通过温度采集模块用于对待测件在功率信号下的温度进行监测，以快速获得材料在高功率条件下的温升系数，为研究人员提供高效便捷直观的试验结果，并且帮助加快电子器件的研发进程，帮助研发人员研究温度对器件的寿命和可靠性的影响。
-
公开(公告)号：CN209606227U
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201920232433.8
申请日：2019-02-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本实用新型公开了一种测试件及拉力测试组件，测试件包括主体部及勾部，所述主体部与所述勾部连接，所述勾部用于伸入电路板与引脚之间，所述勾部包括相对的第一侧面及第二侧面，所述第一侧面为平面，所述第二侧面用于与所述引脚接触。上述测试件，可将勾部伸入电路板与引脚之间，并通过拉动主体部，对电路板与引脚之间的连接强度进行测试，由于第二侧面用于与引脚接触，则第一侧面与电路板接触或间隔设置，而第一侧面为平面，可使勾部以较为平均的形态卡在电路板与引脚之间，在测试时勾部不易滑脱，不会对引脚造成损伤，方便了测试操作，不会影响测试结果。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
29
records
(took 0.067 seconds)
