一种Micro-LED和QLED混合全彩显示器件单片集成结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN118338730A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410275494.8

    申请日:2024-03-12

    Abstract: 本发明提出一种Micro‑LED和QLED混合全彩显示器件单片集成结构及其制备方法,在同一块外延衬底上外延生长刻蚀出蓝色μLED与Bank,其中红绿色QLED位于Bank内部,红绿色QLED结构从下到上分别为阳极、空穴注入层、空穴传输层、量子点发光层、电子传输层和阴极;蓝色μLED与红绿色QLED在衬底上呈水平分布,蓝色μLED的阴极与红绿色QLED阳极相连,蓝色μLED的阳极与红绿色QLED阴极相连。通过喷墨印刷技术在结构化的蓝色Micro‑LED基板上制备红绿色QLED像素,集成了PM混合全彩显示器件,该技术可避免巨量转移的技术难题,制备工艺简单,同时可实现RGB三色的高效率显示,为显示领域提供新型的全彩技术方案。

    基于超浸润体系的金属自生长互联的方法

    公开(公告)号:CN117334588A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311329127.3

    申请日:2023-10-13

    Abstract: 本发明涉及基于超浸润体系的金属自生长互联的方法,包括对镀液进行浸润性调配;在Micro‑LED和CMOS电路的目标衬底表面进行图案化后,进行等离子体表面处理,得到Micro‑LED和CMOS电路的亲水性图案化表面;将制备的衬底对位贴合,密封于微流控通道内注入浸润性调配的镀液,实现Micro‑LED和CMOS电路的金属凸点自生长及互联;有效解决高密度Micro‑LED金属凸点制备过程中存在瘤状物、均匀性差、尺寸较大的问题,克服了传统高密度Micro‑LED与CMOS电路键合工艺对大压力键合的苛刻要求。该工艺成本低廉,生产效率较高,安全性较高,可应用于高密度封装器件中。

    一种硅片键合后去衬底的湿法刻蚀工艺

    公开(公告)号:CN114334640B

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202111522470.0

    申请日:2021-12-14

    Abstract: 本发明提出一种硅片键合后去衬底的湿法刻蚀工艺,包括以下步骤;步骤A、选取晶向为(111)的硅片M和选取晶向为(100)的硅片N,对硅片进行清洗;步骤B、对硅片M和硅片N进行高温键合,形成组合硅片;步骤C、对组合硅片的硅片N的非键合面以高分子聚合物进行密封保护;步骤D、对组合硅片的硅片M一面进行碱法刻蚀,使该面粗化;步骤E、将粗化处理后的组合硅片放入碱性溶液,油浴恒温至所需温度进行加热刻蚀;步骤F、将完成蚀刻的硅片用去离子水超声清洗,然后用氮气进行吹干,并在热板上进行干燥;本发明有助于解决Micro‑LED显示技术中巨量转移难题中的去衬底部分,能简化操作步骤,降低工艺成本。

    一种利用全喷墨印刷制备高密度全彩QLED器件的方法

    公开(公告)号:CN117835769A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410050005.9

    申请日:2024-01-12

    Abstract: 本发明涉及一种利用全喷墨印刷制备高密度全彩QLED器件的方法。该方法使用喷墨印刷技术在透明衬底上印刷功能层材料以制造电致QLED器件,QLED器件由透明基板/ITO/空穴注入层(Hole injection layer,HIL)/空穴传输层(Hole transport layer,HTL)/量子点(Quantum dots,QDs)/电子传输层(Electron transport layer,ETL)/金属电极组成,各个印刷薄膜直接图案化,其中每种功能层材料墨水均为定制,定制的墨水在特定的衬底上能够实现依次稳定成膜,印刷薄膜厚度均匀,无咖啡环,进而来制造一种全喷墨印刷的电致QLED。本发明方法制备的QLED器件具有工艺简单、生产成本低、器件亮度和外量子效率较高,可用于商业化QLED显示器件制造、Micro‑LED全彩化显示、传感器制造以及医疗生物和防伪技术等领域。

    一种硅片键合后去衬底的湿法刻蚀工艺

    公开(公告)号:CN114334640A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111522470.0

    申请日:2021-12-14

    Abstract: 本发明提出一种硅片键合后去衬底的湿法刻蚀工艺,包括以下步骤;步骤A、选取晶向为(111)的硅片M和选取晶向为(100)的硅片N,对硅片进行清洗;步骤B、对硅片M和硅片N进行高温键合,形成组合硅片;步骤C、对组合硅片的硅片N的非键合面以高分子聚合物进行密封保护;步骤D、对组合硅片的硅片M一面进行碱法刻蚀,使该面粗化;步骤E、将粗化处理后的组合硅片放入碱性溶液,油浴恒温至所需温度进行加热刻蚀;步骤F、将完成蚀刻的硅片用去离子水超声清洗,然后用氮气进行吹干,并在热板上进行干燥;本发明有助于解决Micro‑LED显示技术中巨量转移难题中的去衬底部分,能简化操作步骤,降低工艺成本。

    一种高密度Micro-LED阵列结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN115799243A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211569447.1

    申请日:2022-12-08

    Abstract: 本发明涉及一种高密度Micro‑LED阵列结构及其制备方法,包括驱动基板层,用于连接LED芯片层与驱动基板层的键合层,n层在垂直基板方向上堆叠的LED芯片层,用于连接n层芯片的键合层,n≥2。所述键合层由有机介质,多组金属墙结构和多个金属电极组成。有机介质实现芯片层与驱动基板层、不同芯片层之间的物理键合连接;芯片电极分别与金属电极电性连接,金属电极与金属墙电性连接,金属墙实现芯片之间、芯片与驱动电路之间的电性连接。该结构键合连接可靠,电性连接好,芯片制备过程可实现微纳米级高精度对位;金属墙可抑制光串扰,对出射光光形进行整形。

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