半导体装置及其制造方法
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101261971A

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200810082197.2

    申请日:2008-03-07

    CPC classification number: H01L2224/48091 H01L2924/00014

    Abstract: 本发明提供一种通过采用不使用焊线的结构来提高电气特性并确保高的可靠性、能够提高制造的成品率并提高生产效率的半导体装置及其制造方法。具备:第一表面(5a)上配设有半导体元件的第一电极(5a1)并且与第一表面(5a)相对置的第二表面(5b)上配设有半导体元件的第二电极(5b1)的半导体芯片(5);连接在第一表面(5a)上的第一导电性部件(6a);连接在第二表面(5b)上的第二导电性部件(6b);与第一导电性部件(6a)连接并且具有比第一导电性部件(6a)大的连接面积的第一外部电极(2a);与第二导电性部件(6b)连接,并且具有比第二导电性部件(6b)大的连接面积的第二外部电极(2b);以及在第一和第二外部电极(2b、2b)之间利用加热进行熔融及硬化来密封半导体芯片(5)和导电性部件(6)的密封材料(3)。

    半导体装置及其制造方法
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101254892A

    公开(公告)日:2008-09-03

    申请号:CN200810082278.2

    申请日:2008-02-29

    CPC classification number: B81B7/0077 B81C2203/0136 B81C2203/0145

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置及其制造方法,在具有MEMS部的半导体装置中可以提高制造成品率并提高生产率,并且确保高可靠性。该半导体装置具有:半导体基板(2);MEMS部(3),形成于半导体基板(2)表面;以及,盖部,与MEMS部(3)离开距离配置,覆盖MEMS部(3)地设置于半导体基板(2)的表面;上述盖部由包围MEMS部(3)的侧壁区域(E)和具有中空层且同半导体基板(2)及侧壁区域(E)一起形成封闭空间的顶板区域(F)构成。

    发光装置的制造方法
    20.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102270709A

    公开(公告)日:2011-12-07

    申请号:CN201010283884.8

    申请日:2010-09-13

    Abstract: 一种发光装置的制造方法,具有:在衬底上层积具有发光层的半导体层并形成第一构造体的工序;在半导体层上形成第一电极及第二电极的工序;在半导体层上形成与第一电极导通的第一金属柱和与第二电极导通的第二金属柱的工序;在第一金属柱及第二金属柱之间埋入树脂的工序;以及,将衬底从半导体层剥离,形成通过树脂支承半导体层,并在树脂的与半导体层相反的一侧成为凸起的第二构造体的工序。

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