晶片封装体及其制造方法

    公开(公告)号:CN110491859B

    公开(公告)日:2021-05-25

    申请号:CN201910407970.6

    申请日:2019-05-15

    Abstract: 本发明提供一种晶片封装体及其制造方法。在所述晶片封装体中,第一接合结构位于第一重布线层上。第一晶片包括邻近一主动面的一感测区及一导电垫。第一晶片通过第一接合结构接合于第一重布线层上,且第一接合结构位于导电垫与第一重布线层之间。模塑料层覆盖第一重布线层且环绕第一晶片。第二重布线层位于模塑料层及第一晶片上,且第二重布线层电性连接至第一重布线层。第二晶片堆叠于第一晶片的非主动面上,且第二晶片通过第二重布线层、第一重布线层及第一接合结构电性连接至第一晶片。本发明能够简化制程步骤、减少制造时间且大幅降低制造成本。

    晶片封装体及其制造方法

    公开(公告)号:CN110491859A

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:CN201910407970.6

    申请日:2019-05-15

    Abstract: 本发明提供一种晶片封装体及其制造方法。在所述晶片封装体中,第一接合结构位于第一重布线层上。第一晶片包括邻近一主动面的一感测区及一导电垫。第一晶片通过第一接合结构接合于第一重布线层上,且第一接合结构位于导电垫与第一重布线层之间。模塑料层覆盖第一重布线层且环绕第一晶片。第二重布线层位于模塑料层及第一晶片上,且第二重布线层电性连接至第一重布线层。第二晶片堆叠于第一晶片的非主动面上,且第二晶片通过第二重布线层、第一重布线层及第一接合结构电性连接至第一晶片。本发明能够简化制程步骤、减少制造时间且大幅降低制造成本。

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