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公开(公告)号:CN102623439A
公开(公告)日:2012-08-01
申请号:CN201210019307.7
申请日:2012-01-20
Applicant: 精材科技股份有限公司
IPC: H01L23/64
CPC classification number: H01L23/642 , H01L23/48 , H01L24/13 , H01L24/16 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L25/0655 , H01L2224/13101 , H01L2224/16225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/48227 , H01L2224/49175 , H01L2924/00014 , H01L2924/01327 , H01L2924/1901 , H01L2924/3011 , H01L2924/00 , H01L2224/45099 , H01L2924/014
Abstract: 本发明公开一种电容耦合器封装结构,其包括:一基材,其上具有至少一电容器及一接收器,此电容器至少包含一第一电极层及一第二电极层,以及一电容介电层设置于其间,其中此第一电极层以一焊球与此接收器电连接;以及一传送器,与此第二电极层电连接。
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公开(公告)号:CN103165551B
公开(公告)日:2016-06-01
申请号:CN201210540336.8
申请日:2012-12-13
Applicant: 精材科技股份有限公司
CPC classification number: B81B7/007 , B81C1/0023 , B81C1/00301
Abstract: 一种半导体封装件及其制法,该半导体封装件包括:具有微机电系统的芯片第一部分、设于该第一部分上且具有通孔的芯片第二部分、以及形成于该通孔中的第一部分上的止蚀层。通过通孔的设计,可将电子组件收纳于该通孔中,使该半导体封装件具有微机电系统的功能及该电子组件的功能,所以不需于电路板上设置该电子组件,以有效达到缩减该电路板的布设空间的目的。
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公开(公告)号:CN102820264B
公开(公告)日:2014-10-29
申请号:CN201210192120.7
申请日:2012-06-11
Applicant: 精材科技股份有限公司
IPC: H01L21/78 , H01L21/50 , H01L23/485 , H01L23/488 , H01L23/31
CPC classification number: H01L23/544 , H01L21/561 , H01L21/6836 , H01L23/16 , H01L23/3114 , H01L23/49816 , H01L23/49827 , H01L23/562 , H01L24/13 , H01L24/29 , H01L24/30 , H01L24/32 , H01L24/73 , H01L24/83 , H01L24/94 , H01L2221/68327 , H01L2221/68377 , H01L2223/5446 , H01L2224/02377 , H01L2224/0401 , H01L2224/05008 , H01L2224/131 , H01L2224/29011 , H01L2224/29013 , H01L2224/29124 , H01L2224/2957 , H01L2224/296 , H01L2224/3003 , H01L2224/30155 , H01L2224/32225 , H01L2224/73253 , H01L2224/83125 , H01L2224/83127 , H01L2224/83192 , H01L2224/83895 , H01L2224/94 , H01L2924/014 , H01L2924/12041 , H01L2924/1461 , H01L2224/11 , H01L2224/03 , H01L2224/83 , H01L2924/00014 , H01L2924/01032 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种晶片封装结构及其制作方法,该晶片封装结构的制作方法包括:提供一第一基板,其定义有多个预定切割道;将一第二基板接合至第一基板,其中第一基板与第二基板之间具有一间隔层,间隔层具有多个晶片支撑环、一切割支撑结构、多个阻挡环、以及一间隙图案,晶片支撑环分别位于元件区中,切割支撑结构位于晶片支撑环的周围,阻挡环分别围绕晶片支撑环,间隙图案分隔开阻挡环、切割支撑结构以及晶片支撑环;以及沿着预定切割道切割第一基板与第二基板,以形成多个晶片封装结构。本发明使经切割后的基板的边缘可保持较为完整的形状,进而提升切割而成的晶片封装结构的可靠度。
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公开(公告)号:CN103165551A
公开(公告)日:2013-06-19
申请号:CN201210540336.8
申请日:2012-12-13
Applicant: 精材科技股份有限公司
CPC classification number: B81B7/007 , B81C1/0023 , B81C1/00301
Abstract: 一种半导体封装件及其制法,该半导体封装件包括:具有微机电系统的芯片第一部分、设于该第一部分上且具有通孔的芯片第二部分、以及形成于该通孔中的第一部分上的止蚀层。通过通孔的设计,可将电子组件收纳于该通孔中,使该半导体封装件具有微机电系统的功能及该电子组件的功能,所以不需于电路板上设置该电子组件,以有效达到缩减该电路板的布设空间的目的。
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公开(公告)号:CN102623439B
公开(公告)日:2015-09-09
申请号:CN201210019307.7
申请日:2012-01-20
Applicant: 精材科技股份有限公司
IPC: H01L23/64
CPC classification number: H01L23/642 , H01L23/48 , H01L24/13 , H01L24/16 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L25/0655 , H01L2224/13101 , H01L2224/16225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/48227 , H01L2224/49175 , H01L2924/00014 , H01L2924/01327 , H01L2924/1901 , H01L2924/3011 , H01L2924/00 , H01L2224/45099 , H01L2924/014
Abstract: 本发明公开一种电容耦合器封装结构,其包括:一基材,其上具有至少一电容器及一接收器,此电容器至少包含一第一电极层及一第二电极层,以及一电容介电层设置于其间,其中此第一电极层以一焊球与此接收器电连接;以及一传送器,与此第二电极层电连接。
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公开(公告)号:CN102820264A
公开(公告)日:2012-12-12
申请号:CN201210192120.7
申请日:2012-06-11
Applicant: 精材科技股份有限公司
IPC: H01L21/78 , H01L21/50 , H01L23/485 , H01L23/488 , H01L23/31
CPC classification number: H01L23/544 , H01L21/561 , H01L21/6836 , H01L23/16 , H01L23/3114 , H01L23/49816 , H01L23/49827 , H01L23/562 , H01L24/13 , H01L24/29 , H01L24/30 , H01L24/32 , H01L24/73 , H01L24/83 , H01L24/94 , H01L2221/68327 , H01L2221/68377 , H01L2223/5446 , H01L2224/02377 , H01L2224/0401 , H01L2224/05008 , H01L2224/131 , H01L2224/29011 , H01L2224/29013 , H01L2224/29124 , H01L2224/2957 , H01L2224/296 , H01L2224/3003 , H01L2224/30155 , H01L2224/32225 , H01L2224/73253 , H01L2224/83125 , H01L2224/83127 , H01L2224/83192 , H01L2224/83895 , H01L2224/94 , H01L2924/014 , H01L2924/12041 , H01L2924/1461 , H01L2224/11 , H01L2224/03 , H01L2224/83 , H01L2924/00014 , H01L2924/01032 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种晶片封装结构及其制作方法,该晶片封装结构的制作方法包括:提供一第一基板,其定义有多个预定切割道;将一第二基板接合至第一基板,其中第一基板与第二基板之间具有一间隔层,间隔层具有多个晶片支撑环、一切割支撑结构、多个阻挡环、以及一间隙图案,晶片支撑环分别位于元件区中,切割支撑结构位于晶片支撑环的周围,阻挡环分别围绕晶片支撑环,间隙图案分隔开阻挡环、切割支撑结构以及晶片支撑环;以及沿着预定切割道切割第一基板与第二基板,以形成多个晶片封装结构。本发明使经切割后的基板的边缘可保持较为完整的形状,进而提升切割而成的晶片封装结构的可靠度。
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