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公开(公告)号：CN117406145A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311371911.0
申请日：2023-10-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电连接器可靠性分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：基于待测样品的实际使用状态，确定待测样品的测试类型；对于待测样品同批次的多个参考样品，根据测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据；根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定待测样品的接触电阻变化规律；以及接触电阻最大值；根据所述接触电阻变化规律和所述接触电阻最大值，分析所述待测样品的实际可靠性以及剩余使用寿命。通过标准化的测试装置可以完成反复插拔测试和接触持久性测试，能够得到每一待测样品的实际接触电阻最大值，进而对元件级或产品级的电连接器的可靠性和剩余寿命进行精准分析。
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