背对式两光栅相互平行的调节方法及调节装置

    公开(公告)号:CN116560028A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202310592376.5

    申请日:2023-05-24

    Abstract: 本发明为一种背对式两光栅相互平行的调节方法及调节装置,包括调节两光栅栅面平行和调节两光栅栅线平行,采用的调节装置包括第一光栅A、第二光栅B、红光光源、接收屏、光栅安装板、小孔光阑、准直光源、分别设于光栅四个角的螺纹结构和用于光栅与光栅安装板连接安装的伸缩式卡槽旋转机构,通过调节分设于光栅安装板正反两面的第一光栅A和第二光栅B分别与同一水平准直光源垂直来实现两光栅的栅面平行调节,通过红光光源发射光线,由接收屏分次显示两光栅形成的衍射图样,并对两个或以上的衍射光斑分别标记后连线,调节第一光栅A使其标记连线与第二光栅B的标记连线平行,完成两光栅的栅线平行调节。

    一种基于支持向量机的手语翻译方法

    公开(公告)号:CN111428802B

    公开(公告)日:2023-02-07

    申请号:CN202010242973.1

    申请日:2020-03-31

    Abstract: 本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法,其特征在于:包括以下:1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号;2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库;3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序,所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法,采用有向无环方案构成的多分类模型;4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语;5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组,将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。

    一种复合型纳米膜厚标准样板及其循迹方法

    公开(公告)号:CN113237446A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110414926.5

    申请日:2021-04-17

    Abstract: 本发明为一种复合型纳米膜厚标准样板及其循迹方法,其特征在于:所述的标准样板包括分设于基底上的第一测量工作区域和第二测量工作区域两个工作区域,所述的第一测量工作区域为几何薄膜结构测量工作区域,所述的第二测量工作区域为物性薄膜结构测量工作区域,两测量工作区域厚度参数相同,所述的第一测量工作区域设有几何结构工作框,所述的工作框四边外周设有一级循迹标识,在工作框内部设有二级循迹标识,工作框中部则设有中心几何薄膜结构,所述的第二测量工作区域设有物性薄膜结构中心圆,其外周布置有带箭头循迹标识,所述物性薄膜结构中心圆的外周还顺序设有第一外环、第二外环和第三外环。

    一种基于改进蚁群算法拟合螺纹中轴线的方法

    公开(公告)号:CN111967100A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN202010725389.1

    申请日:2020-07-24

    Abstract: 本发明为一种基于改进蚁群算法拟合螺纹中轴线的方法,其特征在于:步骤1:由光学扫描或螺纹测量仪器获得螺纹表面点云的三维坐标数据作为改进蚁群算法的输入样本;步骤2:根据螺纹表面三维坐标点到中轴线的距离方差最小的原则建立立体几何数学模型,根据两点确定一条直线的原则确定螺纹内部区域内两点共6个坐标值;步骤3:将采集的螺纹三维数据投影到二维面上,估算出中轴线上两点坐标共六个参数的初始区间;步骤4:建立改进蚁群算法框架,算法框架由设置初始状态,信息素更新,设定选择概率,选定转移方法,贪婪处理以及结束原则六部分组成。步骤5:通过拟合程序将上述步骤过程及获得的数据整合后输出螺纹中轴线的两点式。

    采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法

    公开(公告)号:CN109238155B

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201811296986.6

    申请日:2018-11-01

    Abstract: 本发明为一种采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法,其特征在于:所述测量SiO2薄膜厚度的方法是基于椭偏法采用微纳米薄膜厚度标准样片结合等效物理结构模型进行测量SiO2薄膜的厚度,所述的等效物理结构模型是根据SiO2薄膜的实际多层膜物理结构模型建立的简化等效物理结构模型,实际多层膜物理结构模型顺序包括表面粗糙层、SiO2薄膜层、中间混合层及Si基底层,其中所述的中间混合层为Si基底层与SiO2薄膜层之间反应产生的SixOy产物膜层。本发明可保证不同厂家、型号的椭偏仪建立薄膜物理结构模型的统一性与结果的一致性,为建立和完善微纳米薄膜量值溯源体系奠定基础。

    一种微纳米台阶标准样板及其循迹方法

    公开(公告)号:CN106931916A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201710130912.4

    申请日:2017-03-07

    CPC classification number: G01B21/042 G01B15/00 G01Q40/02

    Abstract: 本发明为一种微纳米台阶标准样板及其循迹方法,其特征在于:所述的微纳米台阶标准样板包括A工作区域及B循迹区域;所述的A工作区域内设有一个纳米级台阶、四个校准定位块及四个循迹参考定位块,通过所述B循迹区域内两对相互对称的等腰三角形形状的循迹标识符配合设置的设计单位标识符和样板型号标识符,确定微纳米台阶标准样板摆放方向与具体位置,通过所述A工作区域内的四个校准定位块在A工作区域内从纵向上快速校准定位,通过所述A工作区域内的四个循迹参考定位块在A工作区域内从横向上快速进行定位,并通过两两循迹参考定位块间的间隙确定测量的初始位置,完成整个校准过程,实现快速、高效的定位和校准,并具有很好的重复性。

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