一种基于支持向量机的手语翻译方法

    公开(公告)号:CN111428802B

    公开(公告)日:2023-02-07

    申请号:CN202010242973.1

    申请日:2020-03-31

    Abstract: 本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法,其特征在于:包括以下:1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号;2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库;3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序,所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法,采用有向无环方案构成的多分类模型;4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语;5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组,将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。

    采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法

    公开(公告)号:CN109238155B

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201811296986.6

    申请日:2018-11-01

    Abstract: 本发明为一种采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法,其特征在于:所述测量SiO2薄膜厚度的方法是基于椭偏法采用微纳米薄膜厚度标准样片结合等效物理结构模型进行测量SiO2薄膜的厚度,所述的等效物理结构模型是根据SiO2薄膜的实际多层膜物理结构模型建立的简化等效物理结构模型,实际多层膜物理结构模型顺序包括表面粗糙层、SiO2薄膜层、中间混合层及Si基底层,其中所述的中间混合层为Si基底层与SiO2薄膜层之间反应产生的SixOy产物膜层。本发明可保证不同厂家、型号的椭偏仪建立薄膜物理结构模型的统一性与结果的一致性,为建立和完善微纳米薄膜量值溯源体系奠定基础。

    一种点衍射干涉三坐标测量装置探头端面调平方法

    公开(公告)号:CN109341523A

    公开(公告)日:2019-02-15

    申请号:CN201811166364.1

    申请日:2018-10-08

    Abstract: 本发明提供一种点衍射干涉三坐标测量装置探头端面调平方法,涉及测量技术领域。采用基于波面对称的探头零点位置调整方法,探测器获取初始波面数据,将探头旋转180°,平移探头再次获取波面,将波面数据旋转180°后与初始波面数据作差值,将探头平移至初始位置和差值为极小值位置的中点位置,为探头零点位置,调整探头的倾斜角并获取波面数据,利用泽尼克多项式拟合方法对波面数据进行拟合得到xy方向倾斜项系数,调节至该系数为极大值时的角度,实现探头端面调平。本发明解决了现有技术中探头端面相对探测面调平困难影响测量精度的技术问题。本发明有益效果为:确定探头端面状态,满足测量模型求解要求,使三维坐标重构结果更加快速和精确。

    一种透射元件多表面面形检测方法

    公开(公告)号:CN109307480B

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN201811163319.0

    申请日:2018-09-30

    Abstract: 本发明提供一种透射元件多表面面形检测方法,涉及测量技术领域。利用逆向哈特曼光路检测装置测得待测元件波像差的前提下,使用计算机建立的模型化检测系统,在光线追迹模型中对待测元件各表面面形添加多组不同面形误差,获得相应波像差,通过求解模型化检测系统中波像差与实测波像差的差值最小值,最终得到待测透射元件的实际面形误差。本发明解决了现有技术中对透射元件的多表面检测不具有高精度及通用性的技术问题。本发明有益效果为:为透射元件多表面面形检测提供了一种高精度大动态范围的检测方法。

    一种透射元件多表面面形检测方法

    公开(公告)号:CN109307480A

    公开(公告)日:2019-02-05

    申请号:CN201811163319.0

    申请日:2018-09-30

    Abstract: 本发明提供一种透射元件多表面面形检测方法,涉及测量技术领域。利用逆向哈特曼光路检测装置测得待测元件波像差的前提下,使用计算机建立的模型化检测系统,在光线追迹模型中对待测元件各表面面形添加多组不同面形误差,获得相应波像差,通过求解模型化检测系统中波像差与实测波像差的差值最小值,最终得到待测透射元件的实际面形误差。本发明解决了现有技术中对透射元件的多表面检测不具有高精度及通用性的技术问题。本发明有益效果为:为透射元件多表面面形检测提供了一种高精度大动态范围的检测方法。

    一种点衍射干涉三坐标测量装置探头端面调平方法

    公开(公告)号:CN109341523B

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN201811166364.1

    申请日:2018-10-08

    Abstract: 本发明提供一种点衍射干涉三坐标测量装置探头端面调平方法,涉及测量技术领域。采用基于波面对称的探头零点位置调整方法,探测器获取初始波面数据,将探头旋转180°,平移探头再次获取波面,将波面数据旋转180°后与初始波面数据作差值,将探头平移至初始位置和差值为极小值位置的中点位置,为探头零点位置,调整探头的倾斜角并获取波面数据,利用泽尼克多项式拟合方法对波面数据进行拟合得到xy方向倾斜项系数,调节至该系数为极大值时的角度,实现探头端面调平。本发明解决了现有技术中探头端面相对探测面调平困难影响测量精度的技术问题。本发明有益效果为:确定探头端面状态,满足测量模型求解要求,使三维坐标重构结果更加快速和精确。

    一种基于支持向量机的手语翻译方法

    公开(公告)号:CN111428802A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN202010242973.1

    申请日:2020-03-31

    Abstract: 本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法,其特征在于:包括以下:1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号;2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库;3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序,所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法,采用有向无环方案构成的多分类模型;4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语;5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组,将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。

    采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法

    公开(公告)号:CN109238155A

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201811296986.6

    申请日:2018-11-01

    Abstract: 本发明为一种采用等效物理结构模型测量SiO2薄膜厚度的方法,其特征在于:所述测量SiO2薄膜厚度的方法是基于椭偏法采用微纳米薄膜厚度标准样片结合等效物理结构模型进行测量Si/SiO2薄膜的厚度,所述的等效物理结构模型是根据Si/SiO2薄膜的实际多层膜物理结构模型建立的简化等效物理结构模型,实际多层膜物理结构模型顺序包括表面粗糙层、SiO2薄膜层、中间混合层及Si基底,其中所述的中间混合层为Si基底与SiO2薄膜层之间反应产生的SixOy产物膜层。本发明可保证不同厂家、型号的椭偏仪建立薄膜物理结构模型的统一性与结果的一致性,为建立和完善微纳米薄膜量值溯源体系奠定基础。

    一种基于BP神经网络的手语翻译方法

    公开(公告)号:CN111428871A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN202010243856.7

    申请日:2020-03-31

    Abstract: 本发明为一种基于BP神经网络的手语翻译方法,其特征在于:包括以下步骤:1、利用树莓派3B通过可穿戴数据手套采集手势电压信号;2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子编制成手语语句库;3、编写包括BP神经网络结构框架模型、数据传输模块和储存模块的神经网络分类程序,BP神经网络结构框架模型采用输入层、输出层以及隐藏层的三层神经网络;4、将每次收到的手势电压信号通过BP神经网络框架模型转换为手语词语;5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组,将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合神经网络及传感技术实现了手语自动实时翻译识别。

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