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公开(公告)号：CN118739001A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410918766.1
申请日：2024-07-10
Abstract: 本发明为一种小型全覆式光学倍频晶体温控炉，所述的温控炉由外向内依次包括外部的保温壳、中层套筒及内部用于夹持光学倍频晶体的内芯夹具，保温壳包括螺纹连接的保温壳主体和保温壳盖，在保温壳的两端中心部位处分别嵌有透明透镜，所述的中层套筒设有中心轴向通孔，外表面覆有电加热膜，包括通过前盖紧固螺钉连接的中层套筒前盖和中层套筒本体，在中层套筒本体上设有针孔温度传感器，底部设有用于与内芯夹具装配的卡接锁定结构，所述的内芯夹具中心轴向设有夹具透光孔，包括用以对光学倍频晶体进行固定的夹具部分及用于与中层套筒底部的卡接锁定结构配合安装固定的锁定部分，所述的光学倍频晶体位于夹具透光孔中轴线上。
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公开(公告)号：CN117140386A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202310941988.0
申请日：2023-07-28
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: B25B11/00
Abstract: 本发明为一种多自由度自定心光学镜片夹持支架，包括设于底座上的伸缩杆、与伸缩杆顶部固定连接的外圈、设于外圈内侧的中圈和设于中圈内侧的内圈，通过伸缩杆实现镜片高度调节和左右转动角度调节，通过中圈相对外圈的翻转活动实现镜片俯仰角度调节，通过带自定心夹持功能的内圈相对中圈的环面旋转实现镜片的自定心及径向旋转角度调节，从而在光学检测中实现了对不同尺寸的光学镜片的自定心夹持工作并可对其进行多自由度调节的功能，且结构简单，定位精准度高，同时能够实现不同尺寸的镜片夹持。
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公开(公告)号：CN115877037A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202211365264.8
申请日：2022-11-03
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 同济大学
IPC: G01Q40/00
Abstract: 本发明公开了一种电子探针显微分析仪器的参数误差校准方法，基于原子光刻技术制备一维光栅标准样板，计算该一维光栅标准样板的光栅理论周期值D；将一维光栅标准样板静置于电子探针显微分析仪器的载物台设定时间，使测试状态保持稳定；待电子探针显微分析仪器聚焦清晰后，电子探针显微分析仪器扫描载物台上的一维光栅标准样板，对一维光栅标准样板的栅格间距进行图像采集和测量，得到光栅扫描距离测量值L,并记下此时的放大倍率，根据D和L计算获得该放大倍率下的校准因子K。本发明的电子探针显微分析仪器的参数误差校准方法，缩短了对仪器进行校准的溯源链长度，降低了量值传递过程的误差积累，提升了不同仪器之间的校准一致性，操作方便。
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公开(公告)号：CN113237446B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202110414926.5
申请日：2021-04-17
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种复合型纳米膜厚标准样板及其循迹方法，其特征在于：所述的标准样板包括分设于基底上的第一测量工作区域和第二测量工作区域两个工作区域，所述的第一测量工作区域为几何薄膜结构测量工作区域，所述的第二测量工作区域为物性薄膜结构测量工作区域，两测量工作区域厚度参数相同，所述的第一测量工作区域设有几何结构工作框，所述的工作框四边外周设有一级循迹标识，在工作框内部设有二级循迹标识，工作框中部则设有中心几何薄膜结构，所述的第二测量工作区域设有物性薄膜结构中心圆，其外周布置有带箭头循迹标识，所述物性薄膜结构中心圆的外周还顺序设有第一外环、第二外环和第三外环。
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公开(公告)号：CN117029725A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310518456.6
申请日：2023-05-09
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种相位测量轮廓术多频外差相位展开的相位跳变误差消除方法，基于多频外差原理，通过后一像素点相位幅值减去当前像素点相位幅值计算展开相位的梯度，找出展开相位中可能存在误差的可疑点，根据误差的幅值判断误差来源并确定误差的起始和终止像素点位置，消除跳变误差并对跳跃点处加以平滑，该方法可判别实际形貌落差与跳变误差，消除阴影部分以外的跳变误差部分，使相位展开后得到的绝对相位更加平整且无跳变，从而使得整幅光栅条纹的相位展开图连续、光滑、无跳变，提高了三维形貌测量结果的精确度及稳定性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111428871A
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN202010243856.7
申请日：2020-03-31
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种基于BP神经网络的手语翻译方法，其特征在于：包括以下步骤：1、利用树莓派3B通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子编制成手语语句库；3、编写包括BP神经网络结构框架模型、数据传输模块和储存模块的神经网络分类程序，BP神经网络结构框架模型采用输入层、输出层以及隐藏层的三层神经网络；4、将每次收到的手势电压信号通过BP神经网络框架模型转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合神经网络及传感技术实现了手语自动实时翻译识别。
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公开(公告)号：CN118623767A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202411044172.9
申请日：2024-07-31
Abstract: 本发明为一种基于激光跟踪仪的立体标准器测量系统及其测量方法，采用平面反射装置使激光跟踪仪的激光光路发生镜面折转而改变其激光光路，使激光跟踪仪镜像原点与立体标准器两两顶点的靶球处在同一测量轴线上，减少需对立体标准器进行多次搬动调整位置的动作，即可实现激光跟踪仪干涉测距模块的高精度测量工作，实现激光跟踪仪干涉模块测量立体标准器的各边长，再根据立体标准器的几何关系，以立体标准器的四个顶点建立笛卡尔坐标系，建立顶点‑边长关系方程，计算出各顶点的坐标值，从而获得立体标准器各顶点的参考坐标值。本发明操作便捷、测量精度高、不受限于立体标准器尺寸大小，实现了立体标准器各顶点坐标值的精确测量。
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公开(公告)号：CN117006950A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202311081467.9
申请日：2023-08-25
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明为一种基于光栅干涉式测量的纳米位移台校准装置，包括准直光源、置于所述准直光源光路上的光电探测模块、与所述光电探测模块位置对应的待校准的纳米位移台、置于所述待校准的纳米位移台上的光栅、与所述光电探测模块电路连接的信号处理系统以及与所述待校准的纳米位移台电路连接的位移台驱动系统，所述位移台驱动系统驱动待校准的纳米位移台带动光栅同步运动，所述的光电探测模块设有用于采集干涉信号的光电探测器，所述光电探测器采集的干涉信号转化为电流信号传输至信号处理系统，由信号处理系统对干涉信号进行数据处理，获得光栅和待校准的纳米位移台的位移信息。
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公开(公告)号：CN111428871B
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202010243856.7
申请日：2020-03-31
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种基于BP神经网络的手语翻译方法，其特征在于：包括以下步骤：1、利用树莓派3B通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子编制成手语语句库；3、编写包括BP神经网络结构框架模型、数据传输模块和储存模块的神经网络分类程序，BP神经网络结构框架模型采用输入层、输出层以及隐藏层的三层神经网络；4、将每次收到的手势电压信号通过BP神经网络框架模型转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合神经网络及传感技术实现了手语自动实时翻译识别。
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公开(公告)号：CN119268563A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411599697.9
申请日：2024-11-11
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明为一种基于激光干涉仪的纳米光栅位姿校准系统，包括光路系统及位移台驱动系统，所述的位移台驱动系统包括四轴位移台，所述的四轴位移台的安装台面上设有用于安装纳米光栅的纳米光栅支架和激光干涉仪，所述的纳米光栅通过四轴位移台依次对纳米光栅三轴方向角度分别进行修正，包括俯仰、横滚与偏摆三自由度上的自由转动以及光栅轴线方向上的线位移。本发明采用激光干涉仪测量值作为光栅姿态的修正反馈，将光栅位移测量系统的测量值与其进行比对，判断四轴位移台各轴的调整方向，最后再经由多次驱动四轴位移台，将纳米光栅支架调整至理想位置，解决纳米光栅位姿误差问题。
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