基板处理装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103930829A

    公开(公告)日:2014-07-16

    申请号:CN201280055389.9

    申请日:2012-09-12

    Abstract: 本发明涉及基板处理装置(10),其包括支撑框架(60),用于将辐射投射至待处理基板上的辐射投射系统(20),用于支撑基板的基板支撑结构(30),和流体输送系统(150)。该辐射投射系统包括冷却装置(130),且由支撑框架支撑并与其振动解耦,使得支撑框架的在预定最大频率之上的振动基本从辐射投射系统分离。该流体输送系统包括固定在两点(151,152)处的至少一个管(140),并包括挠性部分。挠性部分的主要部分在与基板支撑结构表面基本平行的平面上延伸。挠性部分的刚性适于将第二固定点处的高于预定最大频率的振动从第一固定点基本解耦。

    扫描电子显微镜
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102473577A

    公开(公告)日:2012-05-23

    申请号:CN201080031156.6

    申请日:2010-07-20

    CPC classification number: H01J37/28 F16F15/04 H01J37/16 H01J2237/0216

    Abstract: 本发明想要解决的课题在于,在将电子显微镜主体、排气系统、包括电源及空气冷却风扇的控制系统设置在一个底板上的台式电子显微镜中,获得更高分辨率的图像。本发明是将电子显微镜主体、对电子显微镜主体的内部进行排气的排气系统、及上述电子显微镜主体的控制系统配置在由底板及罩包围而成的空间内部的电子显微镜,其特征在于,上述控制系统配置在上述底板上,在上述底板上具有开口部,上述电子显微镜主体借助于通过上述开口部的缓冲器设置在设置有上述底板的地面上。通过防止由空气冷却风扇等装置内部产生的振动传播到电子显微镜主体,能够获得更高分辨率的观察图像。

    扫描电子显微镜
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102473577B

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201080031156.6

    申请日:2010-07-20

    CPC classification number: H01J37/28 F16F15/04 H01J37/16 H01J2237/0216

    Abstract: 本发明想要解决的课题在于,在将电子显微镜主体、排气系统、包括电源及空气冷却风扇的控制系统设置在一个底板上的台式电子显微镜中,获得更高分辨率的图像。本发明是将电子显微镜主体、对电子显微镜主体的内部进行排气的排气系统、及上述电子显微镜主体的控制系统配置在由底板及罩包围而成的空间内部的电子显微镜,其特征在于,上述控制系统配置在上述底板上,在上述底板上具有开口部,上述电子显微镜主体借助于通过上述开口部的缓冲器设置在设置有上述底板的地面上。通过防止由空气冷却风扇等装置内部产生的振动传播到电子显微镜主体,能够获得更高分辨率的观察图像。

    带电粒子装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103597571A

    公开(公告)日:2014-02-19

    申请号:CN201280027699.X

    申请日:2012-05-31

    Abstract: 本发明提供一种带电粒子装置,其具有筒形的镜筒(10)、设于该镜筒内部的带电粒子线光学系统、设于该镜筒的试料台(103)、以及支承所述镜筒的支承装置(211、212)。所述支承装置具有在沿所述镜筒的轴线方向设定的多个支承点对所述镜筒进行简支的简支构造,所述镜筒的支承点被设定在如下位置:将所述镜筒视为两端为自由端的梁时的、与梁的振动的波节的位置对应的位置。由此,能够不增加镜筒自身的重量,使镜筒高刚性化,使作用于镜筒的振动降低。

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