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公开(公告)号：CN105357435A
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201510725470.9
申请日：2015-10-30
Applicant: 北京控制工程研究所
CPC classification number: H04N5/23212 , G01C21/02
Abstract: 一种白昼环境星光定向仪调焦方法，首先将星光定向仪安装固定在二轴转台上，并将单星模拟器安装在星光定向仪前方，生成带有白昼背景光的单星星图，然后调整二轴转台使单星星图的星点质心到达CCD像面中心，连续采集多幅单星星图，进而得到均值图像，最后计算均值图像的星点能量，将均值图像的星点能量峰值对应的调焦环作为最优调焦环。本发明与现有的调焦技术相比，在调焦过程中采用了图像叠加和指向精调的方法，消除了白昼杂光带来的时域噪声和空域噪声，解决了星点能量随调焦环厚度变化无规律的问题，能够准确快速的确定最优的调焦环厚度，提高了调焦效率。
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公开(公告)号：CN114040187B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202111116409.6
申请日：2021-09-23
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明一种适用于深空探测彩色相机图像传感器筛选测试方法及装置，针对深空探测彩色相机应用需要的各颜色通道在各个温度下的准确定量测试，以及大批量快捷测试，采用基于温控暗室、电机可控RGBD滤光片及自动曝光方式的光电参数测试，包括积分球，温控暗室，暗室具有玻璃开窗，玻璃开窗后为RGBD滤光片，待测试芯片与积分球、玻璃开窗及滤光片处于同轴放置，待测待测试芯片安装在芯片测试底板，暗室内电机及芯片测试底板通过测试线缆与测试计算机连接。通过计算机控制RGBD滤光片及芯片测试底板的自动曝光，实现在各个温度下对彩色相机图像传感器的三个颜色通道的明暗及暗场图像进行自动化快捷测试，从而满足深空探测任务的准确性及高可靠要求。
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公开(公告)号：CN114019662A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111116413.2
申请日：2021-09-23
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明一种基于微透镜阵列探测器的大视场照度均匀性光学系统。通过采用反远距型光学系统结构型式，将孔径光阑设置在后组上，前组承担较大的视场负担，减小光线入射角度，使得像方视场角小于物方视场角。并在孔径光阑处设置像差渐晕，解决光学系统设计照度不均匀性的问题，以使轴外光束的口径增大，像面上的照度余弦分布规律由高阶变为低阶。最后，通过光路优化设计与约束从而减小像方主光线的角度，使得像方出射光线角度与带有微透镜阵列的CMOS探测器最大量子效率相匹配，提高相机的量子效率和像面照度的均匀性。与传统大视场光学系统设计型式相比，同等光照条件下，对弱暗目标的探测能力增强，具有分辨率高，像面照度均匀性好，长度短，重量轻等优点。
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公开(公告)号：CN117615120A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311465832.6
申请日：2023-11-06
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: H04N17/00 , H04N25/533 , H04N25/63 , H04N5/202 , G01C21/02
Abstract: 星敏感器在长期存放及工作状态下，受辐照环境影响，有可能产生坏像素。本发明根据试验的实测数据，发明了一种星敏感器因辐照产生坏像素的检测及补偿方法。该方法具有可复用、适用性强的特点，在无需外部干预的情况下，通过优化星敏感器的工作流程，自动消除了坏像素对星敏感器功能性能的影响，极大的增强了星敏感器的工作寿命和环境适应性。一种星敏感器坏像素检测及补偿方法包括星敏感器上电后暗场下的参数记录、星敏感器上电后明场下的参数记录、星敏感器的坏像素检测及补偿三部分内容。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109521582B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201811482373.1
申请日：2018-12-05
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G02B27/62
Abstract: 本发明涉及一种光学镜头光轴表征方法、系统以及成像组件对准方法，属于光学器件装配领域。本发明实施例提供的一种光学镜头光轴表征方法，通过在光学镜头上设置基准元件，通过定心仪及两套六自由度位置调节组件，使基准元件的法线与光学镜头的光轴方向一致，根据两个基准元件对应的位置标识特征及位移量确定基准元件法线与光学镜头光轴在水平面内的相对位置，当向基准元件照射光时，根据基准元件反射回像及确定的相对位置即可表征光学镜头光轴，该方法表征的光轴指向精度高(光轴引出精度≤0.5′)，提高了光学镜头与其他成像组件的装调时的对准精度，对准精度≤1′。
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公开(公告)号：CN112504452A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202011269978.X
申请日：2020-11-13
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 空间极高精度指向测量仪器在杂光条件下的光线选择方法，在微弱恒星和强杂光同时进入星敏遮光罩后，首先通过杂光的偏振特性进行初步杂光抑制；进而通过合适的AOE自适应光学组件对需求光线的方向进行自主选择；之后结合不同源光线的光谱特性差异进行调制选通，最终将感兴趣的光线引入到超大满阱CMOS图像探测器进行探测成像，得到强散射杂光环境下的高信噪比恒星目标。试验验证结果表明，相对于传统探测成像方式，本光线选择方法的恒星探测灵敏度提升2Mv，遮光罩尺寸减少60％，为产品在杂光条件下的指向测量精度的提升奠定基础。
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公开(公告)号：CN114019662B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202111116413.2
申请日：2021-09-23
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明一种基于微透镜阵列探测器的大视场照度均匀性光学系统。通过采用反远距型光学系统结构型式，将孔径光阑设置在后组上，前组承担较大的视场负担，减小光线入射角度，使得像方视场角小于物方视场角。并在孔径光阑处设置像差渐晕，解决光学系统设计照度不均匀性的问题，以使轴外光束的口径增大，像面上的照度余弦分布规律由高阶变为低阶。最后，通过光路优化设计与约束从而减小像方主光线的角度，使得像方出射光线角度与带有微透镜阵列的CMOS探测器最大量子效率相匹配，提高相机的量子效率和像面照度的均匀性。与传统大视场光学系统设计型式相比，同等光照条件下，对弱暗目标的探测能力增强，具有分辨率高，像面照度均匀性好，长度短，重量轻等优点。
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公开(公告)号：CN114040187A
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202111116409.6
申请日：2021-09-23
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明一种适用于深空探测彩色相机图像传感器筛选测试方法及装置，针对深空探测彩色相机应用需要的各颜色通道在各个温度下的准确定量测试，以及大批量快捷测试，采用基于温控暗室、电机可控RGBD滤光片及自动曝光方式的光电参数测试，包括积分球，温控暗室，暗室具有玻璃开窗，玻璃开窗后为RGBD滤光片，待测试芯片与积分球、玻璃开窗及滤光片处于同轴放置，待测待测试芯片安装在芯片测试底板，暗室内电机及芯片测试底板通过测试线缆与测试计算机连接。通过计算机控制RGBD滤光片及芯片测试底板的自动曝光，实现在各个温度下对彩色相机图像传感器的三个颜色通道的明暗及暗场图像进行自动化快捷测试，从而满足深空探测任务的准确性及高可靠要求。
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公开(公告)号：CN112504452B
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202011269978.X
申请日：2020-11-13
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 空间极高精度指向测量仪器在杂光条件下的光线选择方法，在微弱恒星和强杂光同时进入星敏遮光罩后，首先通过杂光的偏振特性进行初步杂光抑制；进而通过合适的AOE自适应光学组件对需求光线的方向进行自主选择；之后结合不同源光线的光谱特性差异进行调制选通，最终将感兴趣的光线引入到超大满阱CMOS图像探测器进行探测成像，得到强散射杂光环境下的高信噪比恒星目标。试验验证结果表明，相对于传统探测成像方式，本光线选择方法的恒星探测灵敏度提升2Mv，遮光罩尺寸减少60％，为产品在杂光条件下的指向测量精度的提升奠定基础。
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