公开(公告)号：CN117615120A

公开(公告)日：2024-02-27

申请号：CN202311465832.6

申请日：2023-11-06

Applicant: 北京控制工程研究所

Inventor： 孙大开 ,  李全良 ,  夏梦琦 ,  王立 ,  李晓 ,  李丹凤 ,  乔川 ,  徐卿 ,  吕伟振 ,  闫蓬勃 ,  安思桦

IPC: H04N17/00 ,  H04N25/533 ,  H04N25/63 ,  H04N5/202 ,  G01C21/02

Abstract: 星敏感器在长期存放及工作状态下，受辐照环境影响，有可能产生坏像素。本发明根据试验的实测数据，发明了一种星敏感器因辐照产生坏像素的检测及补偿方法。该方法具有可复用、适用性强的特点，在无需外部干预的情况下，通过优化星敏感器的工作流程，自动消除了坏像素对星敏感器功能性能的影响，极大的增强了星敏感器的工作寿命和环境适应性。一种星敏感器坏像素检测及补偿方法包括星敏感器上电后暗场下的参数记录、星敏感器上电后明场下的参数记录、星敏感器的坏像素检测及补偿三部分内容。