一种大口径材料表面散射的高速测量装置和方法

    公开(公告)号:CN106404794A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201610902337.0

    申请日:2016-10-17

    Abstract: 本发明提出了一种大口径材料表面散射的高速测量装置和方法,包括激光器、激光扩束系统、第一高反镜、起偏器、偏振分光棱镜、1/4波片、第二高反镜、旋转棱镜、振镜、远心场镜、被测样品、散射光探测器、反射光探测器和行触发探测器。测量系统通过散射光探测器收集材料表面的散射信号,结合棱镜和振镜的复合旋转运动实现了激光光束在大口径样品表面的高速扫描,从而完成了大口径材料表面散射的测量,与传统大口径材料表面散射的测量技术相比,本发明提出的测量装置和方法可以实现大口径样品表面散射的高速测量,从而大大降低了大口径材料表面散射测量所需要的时间,同时测量系统具有较高的结构紧凑性和较低的构建成本。

    紫外光刻二维平台
    83.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104597721A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201510026050.1

    申请日:2015-01-20

    Abstract: 一种紫外光刻二维平台,该平台包括底板、立板、L形托板、深沟轴承、锁母、轴承盖、第一旋转台、传动支座、传感器、限位板、限位杆、第二旋转台、气嘴连接杆、平板、基板和限位块,利用本发明紫外光刻二维平台,将气嘴连接杆连接真空泵将涂有光刻胶的基底和光刻掩模板吸附在一起,保持固定不动,采用水平和竖直方向上的两个一维旋转台精确控制基底相对于光源的倾斜和旋转状态,实现各式各样复杂微结构的制作。该装置具有结构简单紧凑、变化自由多样化、可操作性强、自动化程度高等特点,实现了对传统曝光方式的改变,具有良好的应用前景。

    梯形金属介质膜宽带脉冲压缩光栅

    公开(公告)号:CN103728685A

    公开(公告)日:2014-04-16

    申请号:CN201310544973.7

    申请日:2013-11-06

    Abstract: 一种梯形金属介质膜宽带脉冲压缩光栅,特点在于其是由石英基底,金层,两层介质膜组成的匹配层和三层介质膜组成的梯形光栅脊一体构成,最外层为SiO2。该梯形光栅的周期为490-640纳米;占空比为0.2-0.7;光栅脊底角为60°-89°,光栅脊中间层为高折射率层,内外层为低折射率层SiO2;匹配层外层为高折射率层,内层低折射率层;金属层厚度大于50纳米。本发明金属介质膜宽带脉冲压缩光栅可用作800纳米中心波长的高功率超短脉冲激光系统的脉冲压缩光栅。

    基于波长移相干涉的多通道面形检测装置与方法

    公开(公告)号:CN118031842A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410178465.X

    申请日:2024-02-09

    Abstract: 本发明基于波长移相干涉的多通道面形检测装置与方法属于移相干涉测量技术领域,该装置包括波长调谐激光器、总入射光纤、光纤分束器、第一通道光纤、菲索干涉仪模块、第二通道光纤和泰曼格林干涉仪模块,菲索干涉仪模块包括分光镜、第一准直透镜、第一标准透镜、第一待测镜、成像透镜和第一探测器;泰曼格林干涉仪模块包括第二准直透镜、反射镜、分束器、参考镜、第二标准透镜、第二待测镜、成像系统和第二探测器;该方法包括稳定光源、系统调节、移相标定、采集干涉图、解算面形相位、包裹解算和系统复位的步骤;本发明通过波长调谐激光器的输出波长来完成移相,实现一次移相多通道并行测量,减少了设备数量,降低了应用成本,提高了测量效率。

    宽光谱球面透射标准镜
    90.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111367045B

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202010199957.9

    申请日:2020-03-20

    Abstract: 一种宽光谱球面透射标准镜,其构成包括沿激光入射方向上依次的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜和第五透镜构成的镜组,第四透镜可沿光轴方向移动。该镜组最大通光口径为Φ100mm、镜组长度不大于150mm、F数设计范围为0.75~3.30、工作波段为532nm~1550nm,本发明在不同波长下工作时的F数保持不变、波前误差峰谷值均≤0.025λ。本发明可应用于多波长平面激光干涉仪中,实现在多种波长下,对凸面或凹面光学元件的波前参数进行高精度测量。

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