一种导模法生长氧化镓单晶的生长装置及生长方法

    公开(公告)号:CN118880463A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202411185614.1

    申请日:2024-08-27

    Abstract: 本发明公开一种导模法生长氧化镓单晶的生长装置及生长方法。所述生长装置包括坩埚和位于所述坩埚中的模具,所述生长装置还包括:发热体,所述发热体位于所述坩埚外围,所述发热体的上边缘高于所述坩埚的上边缘10‑15mm;盖板,所述盖板盖于所述发热体上,所述盖板的中心处设置有通孔。本发明采用了一定的后热设计和大间距的隔热盖板,并结合特定的功率控制工艺,巧妙利用了氧化镓的结晶习性,实现了可控的分步放肩过程。放肩过程分步可控,避免了宽厚二维随机放肩,单晶成品率高。所有流程单次连续完成,流程简单。通常放肩三角部作为不可加工部分,会造成原料浪费,本发明这种方法大大降低了原料的浪费率。

    一种用于KDP和DKDP晶体线切割机的切削液恒温循环供给装置

    公开(公告)号:CN117817868A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311636238.9

    申请日:2023-12-01

    Abstract: 一种用于KDP和DKDP晶体线切割机的切削液恒温循环供给装置,包括L型的控制箱和嵌入在该控制箱内的切削液箱;在切削液箱的上方设有循环泵,用于抽取切削液,该循环泵外接进液管路,切削液箱通过隔板分为沉淀区和供给区,且沉淀区经过滤板分为上下二层,排液管道伸入至所述沉淀区的下层;切削液箱内切削液初始为装满状态,循环泵将切削液送往进液管道,进液管道直达DKDP晶体切割机的前端需要切削液冲淋的位置,切削液冲淋过后,经过排液管道回到切削液箱的沉淀区内,其中较大的杂质会通过重力的作用沉淀下去,切削液中小的杂质会被所述过滤板过滤掉,然后到达供给区。本发明具有升温速率快,切削液供给质量稳定,切削液的温度可调,切削液可循环使用。

    DKDP晶体长籽晶二维运动生长方法

    公开(公告)号:CN113089074B

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202110341818.X

    申请日:2021-03-30

    Abstract: 一种基于二维运动的DKDP晶体长籽晶生长方法,具有两大优势,一是沿柱面生长晶体,不存在低光学质量的柱锥交界面;二是免除了转晶法晶体生长中不可避免的迎流、侧流和尾流三种易引起包裹物形成的流动区域。长籽晶在新鲜溶液中周期运动,运动一周四个柱面能实现可逆剪切流,且柱面上任一点在一个运动周期内经历完全一样的流体力学条件,使溶质供应既充分又均匀,生长速度得以提高,形貌稳定性能得到保证。该方法有利于快速生长高质量的DKDP晶体,为ICF激光装置所需的大尺寸、高质量DKDP晶体生长提供较好的解决方案。

    KDP类晶体生长参数的实时测量系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN108680106B

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201810620203.9

    申请日:2018-06-15

    Abstract: 一种KDP类晶体生长参数的实时测量系统及其测量方法,包括晶体生长槽、位于晶体生长槽内部的载晶架,载晶架通过载晶架连杆与位于晶体生长槽外部的旋转电机相连,晶体生长槽的侧壁开有观察窗,载晶架连杆上安装有编码器,观察窗外侧安装有相机,相机通过相机支架固定,编码器和相机都与计算机通信连接。该用于KDP类晶体生长参数的实时测量系统及其测量方法,可以实时准确得到晶体的尺寸、生长速度以及过饱和度,有利于科研人员掌握KDP类晶体的生长规律,优化KDP类晶体生长工艺和提高晶体质量,助力ICF装置的顺利完工。

    一种KDP类长籽晶单锥晶体生长的载晶架

    公开(公告)号:CN109943881A

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201910283597.8

    申请日:2019-04-10

    Abstract: 一种KDP类长籽晶单锥晶体生长的载晶架,包括上横梁、下托盘、两个搅拌桨以及连接杆,所述的搅拌桨为等腰三角立柱结构;所述的下托盘的上表面的正中央为籽晶的固定位置,所述的两个搅拌桨的顶点棱边朝向下托盘的中心,所述的两个搅拌桨、连接杆、上横梁在同一竖直平面上,所述的两个搅拌桨的下端固定在所述的下托盘同一直径的两端,所述的连接杆下端固定在所述的上横梁的正中间;所有连接处均平滑相连,并在整个载晶架上涂有一层膜以保证光滑。本发明为长籽晶单锥晶体生长提供了合适的载晶架,使得溶质分布更均匀,从而长出更均匀高质量的晶体。

    KDP类晶体生长参数的实时测量系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN108680106A

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201810620203.9

    申请日:2018-06-15

    Abstract: 一种KDP类晶体生长参数的实时测量系统及其测量方法,包括晶体生长槽、位于晶体生长槽内部的载晶架,载晶架通过载晶架连杆与位于晶体生长槽外部的旋转电机相连,晶体生长槽的侧壁开有观察窗,载晶架连杆上安装有编码器,观察窗外侧安装有相机,相机通过相机支架固定,编码器和相机都与计算机通信连接。该用于KDP类晶体生长参数的实时测量系统及其测量方法,可以实时准确得到晶体的尺寸、生长速度以及过饱和度,有利于科研人员掌握KDP类晶体的生长规律,优化KDP类晶体生长工艺和提高晶体质量,助力ICF装置的顺利完工。

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