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公开(公告)号：CN101504273A
公开(公告)日：2009-08-12
申请号：CN200910056935.0
申请日：2009-03-06
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明为一种物体平面微、纳米尺寸的测量装置及其测量方法，其特征在于：包括纳米定位测量机、光学显微镜测头和数据处理器，纳米定位测量机箱体内设有三个微型平面镜干涉仪和两个角度传感器来实现计量性的定位和测量，纳米定位测量机箱体一侧垂直支撑其固定支架，固定支架的另一端安装光学显微镜测头，光学显微镜测头底下是被测物体和载物台；被测物体经光学显微镜测头成像后，图像数据传递到数据处理器，数据处理器将接收到的数据进行数值转换获取被测物体在光学显微镜测头视场内的灰度图，在灰度图中设定线宽方向，然后设定沿此方向的区域，计算所述区域内各像素点的灰度算术平均值，并将所述灰度算术平均值经数模转换后发送到纳米测量机。
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公开(公告)号：CN113237446B
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202110414926.5
申请日：2021-04-17
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种复合型纳米膜厚标准样板及其循迹方法，其特征在于：所述的标准样板包括分设于基底上的第一测量工作区域和第二测量工作区域两个工作区域，所述的第一测量工作区域为几何薄膜结构测量工作区域，所述的第二测量工作区域为物性薄膜结构测量工作区域，两测量工作区域厚度参数相同，所述的第一测量工作区域设有几何结构工作框，所述的工作框四边外周设有一级循迹标识，在工作框内部设有二级循迹标识，工作框中部则设有中心几何薄膜结构，所述的第二测量工作区域设有物性薄膜结构中心圆，其外周布置有带箭头循迹标识，所述物性薄膜结构中心圆的外周还顺序设有第一外环、第二外环和第三外环。
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公开(公告)号：CN118347405A
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202410455706.0
申请日：2024-04-16
Abstract: 本发明公开了一种坐标标准场测量质量监控方法、系统及相关设备，涉及计量测试技术领域，包括用于控制位于站位j的激光跟踪仪对参考点i实施测量并获取测量数据，对激光跟踪仪在站位j测得参考点i的数据进行单次测量异常辨识、基于历史数据的异常辨识和单站异常辨识，根据辨识出的异常的类型选择不同的处置方式并实施；利用激光跟踪仪对站位内多个参考点的测量数据进行最优化计算，得到参考点坐标；实现在激光跟踪仪多站协同测量坐标标准场的过程中监控测量质量，快速发现异常数据，通过分类处置指导测量人员排除故障并及时复测，减少了测量返工的次数，在保证坐标标准场的准确度的前提下缩短坐标标准场的溯源过程的用时。
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公开(公告)号：CN117029725A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310518456.6
申请日：2023-05-09
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B11/25
Abstract: 本发明公开了一种相位测量轮廓术多频外差相位展开的相位跳变误差消除方法，基于多频外差原理，通过后一像素点相位幅值减去当前像素点相位幅值计算展开相位的梯度，找出展开相位中可能存在误差的可疑点，根据误差的幅值判断误差来源并确定误差的起始和终止像素点位置，消除跳变误差并对跳跃点处加以平滑，该方法可判别实际形貌落差与跳变误差，消除阴影部分以外的跳变误差部分，使相位展开后得到的绝对相位更加平整且无跳变，从而使得整幅光栅条纹的相位展开图连续、光滑、无跳变，提高了三维形貌测量结果的精确度及稳定性。
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公开(公告)号：CN115790396A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211674933.X
申请日：2022-12-26
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明涉及一种激光跟踪仪镜面折转测长的光路快速调整装置及调整方法，调整装置包括具有圆弧面的激光发射器、球形光栅、四自由度调整架；激光发射器位于被测长度的一端点上，用于发射激光束；球形光阑位于被测长度的另一端点上，用于限制激光束，使激光束与被测长度平行；四自由度调整镜架位于被测长度的延长线上，且靠近球形光阑，用于安装平面镜并调整平面镜的位置及姿态，使激光束经平面镜反射后过激光跟踪仪的原点，调整方法是通过复现激光跟踪仪镜面折转测长的光路实现光路快速粗调，以及通过计算实现光路定量精调。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111792363B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202010661541.4
申请日：2020-07-10
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种双砝码传送、交替加载的装置，包括：装置主体，包括基座和罩体，罩体安装于所述基座，罩体和基座围绕形成加载空间；工作台，工作台安装于基座，用于放置待测量砝码和/或配衡砝码；质量比较仪，质量比较仪安装于基座，用于测量待测量砝码的质量；砝码传送机构，包括驱动组件和传送臂，驱动组件安装于基座，传送臂安装于驱动组件，驱动组件能够驱动传送臂将待测量砝码和/或所述配衡砝码在工作台与质量比较仪之间传送；其中传送臂的砝码放置部的宽度能够满足两个克组砝码沿着所述砝码放置部的宽度方向并排放置，凹槽能够实现砝码自动定中心，提高砝码测量精度和传送、检测的效率。
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公开(公告)号：CN111428871A
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN202010243856.7
申请日：2020-03-31
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种基于BP神经网络的手语翻译方法，其特征在于：包括以下步骤：1、利用树莓派3B通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子编制成手语语句库；3、编写包括BP神经网络结构框架模型、数据传输模块和储存模块的神经网络分类程序，BP神经网络结构框架模型采用输入层、输出层以及隐藏层的三层神经网络；4、将每次收到的手势电压信号通过BP神经网络框架模型转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合神经网络及传感技术实现了手语自动实时翻译识别。
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公开(公告)号：CN109375355A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811221733.2
申请日：2018-10-19
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种共聚焦三维测量装置及其多孔径尼普科夫圆盘，由于在多孔径尼普科夫圆盘上至少设有一个环形的扫描带，不同的扫描带中的透过孔的直径不同，这样，就可以根据显微物镜的放大倍率而选择具有合适直径的透光孔的扫描带来过滤和聚焦光线，从而使得合适直径的透光孔处于工作状态，使得测量装置的分辨力和精度指标达到最优状态。由此可见，本发明的一种共聚焦三维测量装置中的多孔径尼普科夫圆盘能够提高测量分辨力和精度。
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公开(公告)号：CN104677480A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201510115053.2
申请日：2015-03-17
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国船舶重工集团公司第七〇四研究所
IPC: G01G23/01
Abstract: 本发明提供了一种砝码自动检测装置，包括：砝码盛放部，包含：多个砝码工位、多个砝码盘；称重部，包含：用于层层叠加放置至少一个砝码组件或至少一个砝码盘的秤盘、质量传感单元；夹取部，包含：将砝码组件夹取至秤盘上的夹取单元、用于驱动夹取单元移动从而进行夹取的驱动单元以及用于引导夹取单元移动的导轨；以及控制部，包含：基于预定顺序并根据夹取规则控制夹取单元进行夹取的控制单元，对应存储有标准砝码的标准折算质量的存储单元，根据标准折算质量、砝码盘质量和组件质量并基于预定算法计算出待检砝码的待检折算质量的计算单元。
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公开(公告)号：CN104236501A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201410483545.2
申请日：2014-09-22
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01B21/04
Abstract: 本发明公开了一种二维栅格板的栅格点系统误差自校准方法，利用测量精度不高于栅格板本身的二维影像测量仪作为测量工具,将二维栅格板通过承载夹具安装在影像测量仪工作台上。通过影像测量仪读取栅格板上每个栅格点的坐标，接着将栅格板相对初始位置旋转90度，再次读取栅格板上每个栅格点的坐标，然后以初始位置为基准向左及向右各平移一个栅格间距，再次读取栅格板上每个栅格点的坐标。针对上述4个栅格位置或更多位置下的测量数据，建立测量系统矩阵方程，基于最小二乘法可以求解出二维栅格板的栅格点系统误差。本发明实现了利用低精度的影像测量仪标定二维栅格板的功能，无需额外的高精度标定工具，适用于各种类型的二维栅格板的精度标定。
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