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公开(公告)号：CN120044267A
公开(公告)日：2025-05-27
申请号：CN202510349972.X
申请日：2025-03-24
Abstract: 本发明为一种光电型测速传感器响应阈值测定装置及其测定方法，测定装置包括设于底座上的多个导轨，其中一导轨上设有光电型测速传感器的调节定位模块，另两导轨为距离梳运动导轨，由牵引电机带动距离梳至高处后释放，数据采集卡采集距离梳在下落经过光电型测速传感器时的电压信号，并传输至数据处理器处理和保存，分别提取距离梳最后一齿和最后相邻两齿之间的齿隙对应的时间点拐点，并计算相邻两段时间点拐点的电压平均值，依次提取各段数据穿越阈值电压时的时间点，计算经过的实际时间比值与理论时间比值的相对偏差，直至测算的相对偏差符合允许的相对偏差，确定阈值电压。本发明可以准确确认光电型测速传感器阈值，减小测量误差，保障试验质量。
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公开(公告)号：CN113834565B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202111315207.4
申请日：2021-11-08
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01H17/00
Abstract: 本发明为一种多类型振动传感器校准用结构化自动采集方法及测量装置，所述的测量装置是在现有的振动传感器测量装置上增设了传感器信号接线端组、传感器信号接入并线模块、传感器信号导出分线模块、电荷放大器、IEPE测量放大器、及D/A转换模块，并为每一传感器配置相应的存储有传感器信息、测量设置和测量结果的结构化电子文档的存储器，第三方仅需将待测传感器配套的结构化电子文档的存储器接入测量装置相应接口，再安装好待测传感器，测量装置根据读取的传感器信息和历史证书信息或测量模板，自动选择与待测传感器对应的信号通道，并根据结构化电子文档的存储器中的结构化电子文档信息自动开展测量。
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公开(公告)号：CN101504273B
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200910056935.0
申请日：2009-03-06
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明为一种物体平面微、纳米尺寸的测量装置及其测量方法，其特征在于：包括纳米定位测量机、光学显微镜测头和数据处理器，纳米定位测量机箱体内设有三个微型平面镜干涉仪和两个角度传感器来实现计量性的定位和测量，纳米定位测量机箱体一侧垂直支撑其固定支架，固定支架的另一端安装光学显微镜测头，光学显微镜测头底下是被测物体和载物台；被测物体经光学显微镜测头成像后，图像数据传递到数据处理器，数据处理器将接收到的数据进行数值转换获取被测物体在光学显微镜测头视场内的灰度图，在灰度图中设定线宽方向，然后设定沿此方向的区域，计算所述区域内各像素点的灰度算术平均值，并将所述灰度算术平均值经数模转换后发送到纳米测量机。
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公开(公告)号：CN116448607A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202310456187.5
申请日：2023-04-25
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明为一种通过结构化文档自动规划定位测量硬度块的系统及方法，包括圆形硬度块及自动规划定位系统，所述的自动规划定位系统包括位于底部的定位平台、设于定位平台上的轴向移动平台、设于轴向移动平台上的旋转机构、固定于旋转机构上的环形的固定机构、以及主机和结构化信息采集接口，所述的圆形硬度块还配置有一个以结构化电子文档方式存储了其有效测量区域内全部测量点位置信息的存储器，本发明采用极坐标模式驱动圆形硬度块按照规定路径测量，所取的n个测试点以向外发散的螺旋状分布，更合理地表征硬度块不同区域的硬度值，并自动循迹到最近的有效测量区域，尽可能减少有效测量区域的浪费，实现硬度块使用面积最优化。
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公开(公告)号：CN109238561B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201811075797.6
申请日：2018-09-14
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01L25/00
Abstract: 本发明为一种力传感器动态灵敏度的测量方法，其特征在于：所述测量方法使用的测量装置包括连接件、力传感器、标准冲击加速度传感器和冲击加速度测量装置，所述的连接件采用结构相同质量不等的两个连接件；所述的测量方法为：采用质量为M1的连接件将力传感器与标准冲击加速度传感器连接成一体再安装在冲击加速度测量装置上，并进行测量信号通道连接，然后利用多次调整冲击加速度测量装置产生的不同冲击力，测量获得多次力传感器的冲击加速度灵敏度S1，并计算平均值S1'，接着将更换为质量为M2的连接件以相同方式获得力传感器的冲击加速度灵敏度平均值S2'，最后通过公式计算获得力传感器的动态灵敏度S。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102829855B
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：CN201210322155.8
申请日：2012-09-04
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明为一种激光聚焦式测头测量微幅振动的方法及其使用的装置，其特征在于：将待测振动装置移动至激光聚焦式测头正下方，数据采集卡采集激光聚焦式测头的信号传输至数据处理器，数据处理器输出数字信号给数据采集卡后又转换成模拟信号输出给电动升降平台控制器，由其驱动电动升降平台在激光聚焦式测头焦平面附近移动，当待测振动装置开始振动时，其表面与激光聚焦式测头表面的距离变化，激光聚焦式测头信号相应发生变化，激光聚焦式测头信号的频率和波形就反应了振动装置的振动频率和波形，根据移动距离L和测头信号U之间的线性关系U=k*L+b，b是L为零时测头的输出信号，振幅为测头信号振幅的1/k倍。
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公开(公告)号：CN102829855A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210322155.8
申请日：2012-09-04
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明为一种激光聚焦式测头测量微幅振动的方法及其使用的装置，其特征在于：将待测振动装置移动至激光聚焦式测头正下方，数据采集卡采集激光聚焦式测头的信号传输至数据处理器，数据处理器输出数字信号给数据采集卡后又转换成模拟信号输出给电动升降平台控制器，由其驱动电动升降平台在激光聚焦式测头焦平面附近移动，当待测振动装置开始振动时，其表面与激光聚焦式测头表面的距离变化，激光聚焦式测头信号相应发生变化，激光聚焦式测头信号的频率和波形就反应了振动装置的振动频率和波形，根据移动距离L和测头信号U之间的线性关系U=k*L+b，b是L为零时测头的输出信号，振幅为测头信号振幅的1/k倍。
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公开(公告)号：CN101504374B
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200910056934.6
申请日：2009-03-06
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明为激光聚焦式测头应用于特殊结构测量中的标定和扫描方法。通过对具有多种材料表面的被测样品进行预先多次标定，在扫描过程中通过自动或手动设置FES信号线性拟合系数，对具有多种材料表面的被测样品进行焦平面位置修正。本发明在不改变原有测量系统硬件结构的基础上，克服激光聚焦方法在测量对象和分辨力上的缺陷，拓展了该方法的应用领域。
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公开(公告)号：CN101504374A
公开(公告)日：2009-08-12
申请号：CN200910056934.6
申请日：2009-03-06
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明为激光聚焦式测头应用于特殊结构测量中的标定和扫描方法。通过对具有多种材料表面的被测样品进行预先多次标定，在扫描过程中通过自动或手动设置FES信号线性拟合系数，对具有多种材料表面的被测样品进行焦平面位置修正。本发明在不改变原有测量系统硬件结构的基础上，克服激光聚焦方法在测量对象和分辨力上的缺陷，拓展了该方法的应用领域。
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公开(公告)号：CN112285385B
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202011396622.2
申请日：2020-12-03
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: G01P21/02
Abstract: 本发明为一种光电型测速传感器校准用装置及校准方法，所述的光电型测速传感器校准用装置包括设有支撑柱的底座及设于底座端部的固定柱，支撑柱顶端连接有设有摆锤的连杆，通过摆锤的U形夹钳夹持标准光电型测速传感器和待测光电型测速传感器，底座上还固定有环形轨道，分列于环形轨道左右两侧的若干对光电门切割板在弯折向环形轨道内侧处的截面呈U字形，形成空隙通道，摆锤绕连杆在空隙通道内来回旋转摆动，对标准光电型测速传感器和待测光电型测速传感器对应的标准信号U和测量信号u进行同步采集，每次摆锤运动过程中，标准信号U和测量信号u产生一系列对应的Vi、vi，Vi即vi对应的标准值，其偏差就是待测光电型测速传感器的测量误差。
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