一种用于微纳米坐标测量的多测头测量方法与装置

    公开(公告)号:CN101793499A

    公开(公告)日:2010-08-04

    申请号:CN201010136223.2

    申请日:2010-03-30

    Inventor: 李源 陈欣 王丽华

    Abstract: 本发明为一种用于微纳米坐标测量的多测头测量方法与装置。将微纳米多测头系统安装在三维高精度位移平台上,Z向平移台上安装载物台,载物台下面有俯仰和偏摆微调机构。多测头系统的测量装置放置在隔离腔中,测量装置的控制信号和多测头系统的传感信号与隔离腔外的DAQ卡,控制箱和计算机相连。将一个测头中心作为坐标系的原点,把其他几个测头所在位置坐标依次匹配到坐标系中。对多测头系统进行校准,对各测头在统一坐标系中的位置坐标进行校准。测量时,由与被测点最近的测头进行测量。将各被测点对应的三维位移平台的位移量,转换为各被测点在坐标系中的坐标,计算出被测尺寸。本发明方法具有工作效率高、测量精度高的优点。

    一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头

    公开(公告)号:CN103075952B

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201210557870.X

    申请日:2012-12-20

    Abstract: 本发明为一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头,其特征在于:所述的微触觉测头由圆形基底、电容式传感器阵列、悬梁、测针、悬挂弹簧及限位结构组成;圆形基底用于固定传感器阵列及悬梁;电容式传感器阵列作为敏感单元,用以感知位移变化;悬梁用于连接测针及传感器阵列;测针直接与被测物接触,以探测并传递位移量;悬挂弹簧起悬挂、调平悬梁的作用,并可调节测量力;限位结构用来限制悬梁及测针运动的自由度,使其只能以悬梁顶端的小球球心为原点旋转,从而消除了测针和悬梁的整体偏移,保证了横向位移测量的精度。

    共聚焦三维测量装置及其多孔径尼普科夫圆盘

    公开(公告)号:CN109375355A

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201811221733.2

    申请日:2018-10-19

    Abstract: 本发明涉及一种共聚焦三维测量装置及其多孔径尼普科夫圆盘,由于在多孔径尼普科夫圆盘上至少设有一个环形的扫描带,不同的扫描带中的透过孔的直径不同,这样,就可以根据显微物镜的放大倍率而选择具有合适直径的透光孔的扫描带来过滤和聚焦光线,从而使得合适直径的透光孔处于工作状态,使得测量装置的分辨力和精度指标达到最优状态。由此可见,本发明的一种共聚焦三维测量装置中的多孔径尼普科夫圆盘能够提高测量分辨力和精度。

    一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头

    公开(公告)号:CN103075952A

    公开(公告)日:2013-05-01

    申请号:CN201210557870.X

    申请日:2012-12-20

    Abstract: 本发明为一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头,其特征在于:所述的微触觉测头由圆形基底、电容式传感器阵列、悬梁、测针、悬挂弹簧及限位结构组成;圆形基底用于固定传感器阵列及悬梁;电容式传感器阵列作为敏感单元,用以感知位移变化;悬梁用于连接测针及传感器阵列;测针直接与被测物接触,以探测并传递位移量;悬挂弹簧起悬挂、调平悬梁的作用,并可调节测量力;限位结构用来限制悬梁及测针运动的自由度,使其只能以悬梁顶端的小球球心为原点旋转,从而消除了测针和悬梁的整体偏移,保证了横向位移测量的精度。

    一种用于微纳米坐标测量的多测头测量方法与装置

    公开(公告)号:CN101793499B

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN201010136223.2

    申请日:2010-03-30

    Abstract: 本发明为一种用于微纳米坐标测量的多测头测量方法与装置。将微纳米多测头系统安装在三维高精度位移平台上,Z向平移台上安装载物台,载物台下面有俯仰和偏摆微调机构。多测头系统的测量装置放置在隔离腔中,测量装置的控制信号和多测头系统的传感信号与隔离腔外的DAQ卡,控制箱和计算机相连。将一个测头中心作为坐标系的原点,把其他几个测头所在位置坐标依次匹配到坐标系中。对多测头系统进行校准,对各测头在统一坐标系中的位置坐标进行校准。测量时,由与被测点最近的测头进行测量。将各被测点对应的三维位移平台的位移量,转换为各被测点在坐标系中的坐标,计算出被测尺寸。本发明方法具有工作效率高、测量精度高的优点。

    一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头

    公开(公告)号:CN202974172U

    公开(公告)日:2013-06-05

    申请号:CN201220709671.1

    申请日:2012-12-20

    Abstract: 本实用新型为一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头,其特征在于:所述的微触觉测头由圆形基底、电容式传感器阵列、悬梁、测针、悬挂弹簧及限位结构组成;圆形基底用于固定传感器阵列及悬梁;电容式传感器阵列作为敏感单元,用以感知位移变化;悬梁用于连接测针及传感器阵列;测针直接与被测物接触,以探测并传递位移量;悬挂弹簧起悬挂、调平悬梁的作用,并可调节测量力;限位结构用来限制悬梁及测针运动的自由度,使其只能以悬梁顶端的小球球心为原点旋转,从而消除了测针和悬梁的整体偏移,保证了横向位移测量的精度。

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