公开(公告)号：CN1115101A

公开(公告)日：1996-01-17

申请号：CN95101903.1

申请日：1995-02-06

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 中村正行 ,  松本哲郎 ,  梶谷一彦

IPC: G11C11/40 ,  H01L27/10

Abstract: 一种半导体存储器，其存储器阵列带有一1MOS型存储器单元矩阵，其高速存储器阵列带有一3MOS型存储器单元矩阵，其中X系统选取高速存储器阵列的操作由地址储存电路和地址比较器执行，前者储存分配给写/读字线的X地址，后者比较存储于前者的数据和X系统地址信号。当高速存储器阵列中有数据时从其中输出读出信号，当字线具有的数据与其相同时把储存存储器阵列中的位线放大信号传送到高速存储器阵列以刷新高速存储器阵列。

公开(公告)号：CN1092898A

公开(公告)日：1994-09-28

申请号：CN94100573.9

申请日：1994-01-24

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 梶谷一彦 ,  高桥继雄 ,  大一义 ,  中村正行 ,  大鸟浩 ,  松本哲郎 ,  河原尊之

IPC: G11C21/00 ,  H01L27/108

CPC classification number: G11C11/4097 ,  G11C11/4091

Abstract: 一种采用对成对MOSFET特性偏差进行补偿的读出放大器的动态RAM，位线的寄生电容至少是存储单元的电容的20倍。每根位线被开关MOSFET分成两部分，需要时可以断开。电路中提供了许多组存储器矩阵，每一组包括一个开关MOSFET，用于互连与读出放大器相连的公共源极线，因此在它们之间可以对公共源极线进行循环充电。

公开(公告)号：CN1702869A

公开(公告)日：2005-11-30

申请号：CN200510073838.4

申请日：2005-05-24

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  尔必达存储器株式会社

Inventor： 竹村理一郎 ,  秋山悟 ,  半泽悟 ,  关口知纪 ,  梶谷一彦

IPC: H01L27/108 ,  G11C11/34

CPC classification number: G11C11/405 ,  G11C11/4097 ,  H01L27/0207 ,  H01L27/108 ,  H01L27/10814 ,  H01L27/10873

Abstract: 提供一种半导体存储装置，能实现高速工作，或能实现高集成化且高速工作。将晶体管(MT1、MT2)配置在连接存储信息的电容器(CAP)的扩散层区(DIFF(SN))的两侧，将各个晶体管(MT1、MT2)的另一扩散层区(DIFF)连接在同一条位线(BL)上。对存储单元(MC)进行存取时，将两个晶体管(MT1、MT2)激活，进行读出。另外对存储单元(MC)进行写入工作时，用两个晶体管(MT1、MT2)将电荷写入电容器中。

公开(公告)号：CN100354971C

公开(公告)日：2007-12-12

申请号：CN02829837.3

申请日：2002-11-08

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  尔必达存储器株式会社 ,  日立超大规模集成电路系统株式会社

Inventor： 关口知纪 ,  宫武伸一 ,  阪田健 ,  竹村理一郎 ,  野田浩正 ,  梶谷一彦

IPC: G11C7/06

CPC classification number: G11C7/062 ,  G11C5/063 ,  G11C7/065 ,  G11C7/08 ,  G11C7/1078 ,  G11C7/1096 ,  G11C7/12 ,  G11C7/18 ,  G11C8/08 ,  G11C11/4087 ,  G11C11/4091 ,  G11C11/4094 ,  G11C11/4096 ,  G11C11/4097 ,  G11C29/1201 ,  G11C2207/002 ,  G11C2207/005 ,  H01L27/0207 ,  H01L27/10814 ,  H01L27/10882 ,  H01L27/10897

Abstract: 本发明的直接读出放大器，在作为位线连接到栅极的差动对而动作的MOS晶体管和RLIO线之间，设置由在位线方向上布线的读出列选择线所控制的MOS晶体管而使其隔离，进而，把作为差动对而动作的MOS晶体管的源极连接到在字线方向上布线的共同源极线上。在读出动作时，通过利用读出列选择线和共同源极线仅在选择栅网上激活直接读出放大器，而大幅度地减少读出动作时的消耗电力。而且，从局部IO线隔离作为差动对动作的MOS晶体管的寄生电容，减少局部IO线的负载能力，实现读出速度的高速化。另外，降低读出动作中的局部IO线的负载能力的数据模式依赖性，使制造后的试验容易化。

公开(公告)号：CN1695249A

公开(公告)日：2005-11-09

申请号：CN02829837.3

申请日：2002-11-08

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  尔必达存储器株式会社 ,  日立超大规模集成电路系统株式会社

Inventor： 关口知纪 ,  宫武伸一 ,  阪田健 ,  竹村理一郎 ,  野田浩正 ,  梶谷一彦

IPC: H01L27/108 ,  H01L21/8242 ,  G11C11/407 ,  G11C11/409

CPC classification number: G11C7/062 ,  G11C5/063 ,  G11C7/065 ,  G11C7/08 ,  G11C7/1078 ,  G11C7/1096 ,  G11C7/12 ,  G11C7/18 ,  G11C8/08 ,  G11C11/4087 ,  G11C11/4091 ,  G11C11/4094 ,  G11C11/4096 ,  G11C11/4097 ,  G11C29/1201 ,  G11C2207/002 ,  G11C2207/005 ,  H01L27/0207 ,  H01L27/10814 ,  H01L27/10882 ,  H01L27/10897

Abstract: 本发明的直接读出放大器，在作为位线连接到栅极的差动对而动作的MOS晶体管和RLIO线之间，设置由在位线方向上布线的列选择线所控制的MOS晶体管而使其隔离，进而，把作为差动对而动作的MOS晶体管的源极连接到在字线方向上布线的共同源极线上。在读出动作时，通过利用列选择线和共同源极线仅在选择栅网上激活直接读出放大器，而大幅度地减少读出动作时的消耗电力。而且，从局部IO线隔离作为差动对动作的MOS晶体管的寄生电容，减少局部IO线的负载能力，实现读出速度的高速化。另外，降低读出动作中的局部IO线的负载能力的数据模式依赖性，使制造后的试验容易化。

公开(公告)号：CN1041581C

公开(公告)日：1999-01-06

申请号：CN94101411.8

申请日：1994-02-19

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 梶谷一彦 ,  堀口真志 ,  中込仪延 ,  堀陵一 ,  松本哲郎 ,  久保征治

IPC: H01L27/10 ,  G11C11/34

CPC classification number: G11C29/44 ,  G06F11/006 ,  G11C7/1045

Abstract: 将一个设有按照存入非易失存储元件中的信息，来选择存储器功能的功能选择电路的半导体芯片密封在封装内，而且通过在上述状态或半导体芯片被安装在印刷板的状态下写入非易失存储器元件，最后设置存储器功能。通过根据上述过程来设置半导存储器类型，从圆片工艺到组装步骤的过程都能变得相同，因此，可便于批量生产和生产控制。可在短期内提供具有符合用户技术规格的存储器功能的半导体存储器。

公开(公告)号：CN1181632A

公开(公告)日：1998-05-13

申请号：CN97121179.5

申请日：1997-10-24

Applicant: 株式会社日立制作所 ,  日立超爱尔、爱斯、爱工程股份有限公司

Inventor： 中村正行 ,  长谷川雅俊 ,  成井诚司 ,  田中洋介 ,  宫武伸一 ,  久保内修一 ,  梶谷一彦

IPC: H01L27/108

CPC classification number: G11C11/4074 ,  G11C11/408 ,  G11C11/4087

Abstract: 在动态RAM中,动态存储单元设置于字线和一对位线的一根的交叉处,对应于电源电压的选择电平信号和对应于低于电路地电位的负电位的非选择电平提供给字线。由读出放大器读到成对位线的存储单元信号被放大,所述读出放大器在电路地电位和通过使电源电压降低等于地址选择MOSFET的阈值电压而形成的内部电压下工作。动态RAM具有接收电源电压和电路地电位的振荡器,及接收由振荡器产生的振荡脉冲的电路,用于产生负电位。