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公开(公告)号：CN116931873B
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311159955.7
申请日：2023-09-11
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明涉及两字节乘法电路及其任意位宽为2次幂的乘法电路与芯片。所述两字节乘法电路包括四个与门电路和两个半加器电路。每个半加器电路包括三个PMOS晶体管和三个NMOS晶体管。半加器电路结构在仅用六个晶体管的情况下能达到全摆幅输出。在四个门电路模块和两个半加器电路模块组合下，完成一个2bit乘法器电路设计，同时两字节乘法电路可根据不同位宽乘法运算的需要进行不同电路的组合设计，通过配置加法器和移位器，使得运算器进行任意位宽为2次幂的乘法，可以避免高位运算的大体积的乘法器，可以实现数据位宽的灵活调节，进而实现更多复杂数据的运算，同时降低芯片运行功耗，使运算效率大大提高。
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公开(公告)号：CN116931873A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202311159955.7
申请日：2023-09-11
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明涉及两字节乘法电路及其任意位宽为2次幂的乘法电路与芯片。所述两字节乘法电路包括四个与门电路和两个半加器电路。每个半加器电路包括三个PMOS晶体管和三个NMOS晶体管。半加器电路结构在仅用六个晶体管的情况下能达到全摆幅输出。在四个门电路模块和两个半加器电路模块组合下，完成一个2bit乘法器电路设计，同时两字节乘法电路可根据不同位宽乘法运算的需要进行不同电路的组合设计，通过配置加法器和移位器，使得运算器进行任意位宽为2次幂的乘法，可以避免高位运算的大体积的乘法器，可以实现数据位宽的灵活调节，进而实现更多复杂数据的运算，同时降低芯片运行功耗，使运算效率大大提高。
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公开(公告)号：CN116340150A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310181903.3
申请日：2023-02-24
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明设计集成电路设计领域，具体涉及一种基于UVM的可重用的寄存器性能交互验证系统及其应用。该验证系统应用于一个包含主机和从机的验证设备中。验证系统采用system verilog语言编写，并基于UVM库创建，运行于验证设备的主机中。从机与主机采用接口通信连接；从机为使用verilog或者system verilog语言编写的RTL设计方案。本发明提供的寄存器性能交互验证系统包括：配置模块、测试用例模块、激励序列库模块、验证层，以及事务级建模通信单元。该验证系统不用更改内部代码，只需要对主、从机之间的通信内容进行配置即可用于其它项目验证。因此，本发明可以解决现有芯片设计过程中，验证系统和工具在不同项目间无法重用导致的项目的仿真和验证成本较高的问题。
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公开(公告)号：CN116168736A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202310409612.5
申请日：2023-04-18
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C7/06 , G11C11/419
Abstract: 本发明涉及集成电路技术领域，更具体的，涉及基于上交叉耦合的自适应关断型SRAM灵敏放大器电路，以及基于该电路设计的灵敏放大器模块。本发明提供了基于上交叉耦合的自适应关断型SRAM灵敏放大器电路，结构简洁明了，方便实现。本发明采用上交叉耦合部与输入电路部直接串联的结构，避免了VDD到地串联过多MOS管导致输出电压余量较小的问题，同时实现了核心的数据放大功能。本发明采用自关断位线部来根据输出节点A0、A1电压变化，自适应地切断非目标位线与相应输入电路部中间节点的连接，断开非目标位线对输出节点的影响，从而降低失调电压和放大延时。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115995251A
公开(公告)日：2023-04-21
申请号：CN202211658343.8
申请日：2022-12-22
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412 , G11C11/417
Abstract: 本发明涉及静态随机存储器技术领域，更具体的，涉及一种低功耗数据休眠可恢复的11T‑SRAM单元电路，以及采用该种电路布局的模块。本发明的11T‑SRAM单元电路中N1、N2、P4、P5构成反馈支路，利用存储节点QB点的存储数据，通过N2或P4，使N1或P5关闭，使本单元电路进入休眠状态。本发明利用电路本身的存储数据“0”或“1”，通过反馈支路使N1或者P5处于关闭状态，从而切断单元电路和VDD或GND之间的连接，使电路进入休眠状态，降低了存储单元的静态功耗；并且休眠后的数据可通过信号的调整，使存储节点Q、QB的电平恢复到原来状态，不会造成功能性错误。
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公开(公告)号：CN115967402A
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202211652658.1
申请日：2022-12-21
Applicant: 安徽大学
IPC: H03M1/12 , H03K5/24 , H03K17/687
Abstract: 本发明涉及一种ADC采样电路的开关连接方法及其电路与芯片。所述方法先采样后比较，采样阶段：DAC电路输出端通过采样控制信号控制的开关A1接参考电压VCM，并与比较器的正端相接，比较器的负端通过采样控制信号控制的开关A2连接DAC电路输出端，此时比较器正端电压值等于DAC电路输出端电压值、等于负端电压值，保证采样阶段输入到比较器正端和负端的电压值相等。比较阶段：比较器负端通过比较控制信号控制的开关B1连接参考电压VCM，与正端采集到的输入信号VIN进行比较。本发明保证了比较器的正端和负端的电压值在采样时始终相等，降低采样电路中的偏移误差且不会发生错误翻转现象，提高了采样电路的性能。
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公开(公告)号：CN112116937B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202011023036.3
申请日：2020-09-25
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/417
Abstract: 本发明公开了一种在存储器中实现乘法和或逻辑运算的SRAM电路结构，包括双字线的8T SRAM单元，具体由8个传输管构成，2对NMOS晶体管与PMOS晶体管的组合构成了两个交叉耦合的反相器，反相器的一端接Q另一端接QB；字线WLL和WLR组成双字线信号，一对PMOS晶体管和NMOS晶体管的控制开关分别接字线WLL与WLR，另一对NMOS晶体管和PMOS晶体管的控制开关分别接信号WLL_VICE和WLR_VICE；或逻辑运算是在单独的8T SRAM中实现，运算数据分别存储在单元和WLL_VICE中，计算结果由RBL是否放电来体现。该电路结构能够提升运算速度和效率，并减少数据搬移过程产生的功耗。
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公开(公告)号：CN111883192B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202010698812.3
申请日：2020-07-20
Applicant: 安徽大学
Abstract: 本发明公开了一种基于9T SRAM单元在内存实现汉明距离计算的电路及9T SRAM单元，先将目标二进制数据存储到N行N列内存单元中，再将与之比较的N位二进制数据输入到字线信号WL或位线BL、BLB中，通过脉冲调制信号实现外部数据与存储器内的多列或多行数据的汉明距离计算。由于在该计算过程中所有的存储单元可以同时参与计算，因此有着很高的计算效率，同时可以减少在数据传输过程消耗的能量，并且可以提高计算时数据的吞吐率，不需要将数据读出SRAM从而能大大降低功耗。
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公开(公告)号：CN115472196A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211124008.X
申请日：2022-09-15
Applicant: 安徽大学
IPC: G11C11/412 , G11C11/417
Abstract: 本发明公开了一种在内存中实现迭代式或计算的10T SRAM电路，所述电路以10TSRAM单元为基本单元设置n行n列的内存单元，每个10T SRAM单元包括上半部分、中间部分和下半部分，PMOS晶体管M1和M2，NMOS晶体管M3和M4构成上半部分；NMOS晶体管M5和M6构成中间部分；PMOS晶体管M7和M8，NMOS晶体管M9和M10构成下半部分；上半部分和下半部分作为两个4T SRAM单元存储，中间部分作为开关使用。该电路不仅能够实现多行数据的或计算，也能实现一个单元存储上下均可存储数据的功能，打破了空间上对计算的限制。
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