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公开(公告)号：CN112882483A
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202110037424.5
申请日：2021-01-12
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G05D1/08
Abstract: 本发明公开一种星敏感器在轨标定方法、装置和存储介质。该方法包括：从对整个视场进行成像得到的星图中提取并存储多个第一观测星的星点信息；将所述提取的多个第一观测星与预存的导航星表中的导航星进行匹配操作，查找出与所述导航星相匹配的第二观测星；采用加权系数法计算所述多个第二观测星的平均位置信息；计算所述每一第二观测星的位置与平均位置的差分值；根据所述第二观测星对应的星点信息执行多项式曲面拟合计算或插值计算得到所述整个视场的畸变值。利用本发明的技术方案，可以对星敏感器进行在轨标定，提高星敏感器标定的精度。
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公开(公告)号：CN111126131A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201911043739.X
申请日：2019-10-30
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种高效率暗弱空间目标识别方法，步骤为：1)星图成像，获得包含暗弱目标的一系列星空图；2)星图处理，提取块状亮点。3)恒星剔除，主要将大部分恒星元素从所有亮点中去除；4)获得疑似目标队列中每个块状亮点的运动特征；5)确定有序特征集；6)目标跟踪，对已建立的确认目标队列进行跟踪，预测下一帧该目标位置，成功则计算目标参数，提取精确的方位信息，将其加入确认目标队列。本发明方法能最大程度从提取亮点中去除干扰元素、如恒星和噪点等，最终实现空间暗弱目标的探测、提取、识别、跟踪等任务，特别适用于信噪比低、复杂星图背景、多种多样目标信息未知的场合。
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公开(公告)号：CN104182971A
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201410390093.3
申请日：2014-08-08
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 一种高精度图像矩定位方法，步骤为：(1)将待检测目标的图像从背景中分离出来。(2)计算目标的初始矩。(3)选择适合目标图像分布的加权函数作为加权系数；加权函数需要具备可归一化、中心对称、衰减性、非相关性四个特征。(4)根据加权系数重新计算目标图像新的矩，若新的矩与原始矩的误差满足精度要求，则输出新的矩作为目标的质心；否则以新的矩为迭代起始点再次选取加权系数并重新计算新的矩，直至新的矩与原始矩的误差满足精度要求，则输出新的矩作为目标的参数。本发明方法的目标定位精度高，抗噪声能力强，计算简单，工程实现容易，且不针对特定目标图像，特别适用于采用低信噪比、复杂背景图像进行目标定位的场合。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117848679B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410034900.1
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及成像检测技术领域，特别涉及一种显微成像系统的离焦检测装置及方法。该装置包括：一个控制器以及沿光轴依次设置的一个编码盘、一个高倍显微物镜、一个探测器，编码盘柱面上设置有多个均匀分布的圆孔，每个圆孔均用于为探测器提供探测目标，以使控制器获取成像数据；高倍显微物镜用于将每个圆孔成像在探测器上；探测器设置于圆孔成像的基准焦平面，用于接收每个圆孔成的像，并在探测器上形成一个像斑；控制器与探测器电连接，控制器用于获取每个像斑的成像数据，并对成像数据进行计算，得到编码盘的离焦量；成像数据包括像斑在像面上占据的像元值和角位置。本发明提供了非物理接触的测量方法，可以有效提高系统离焦量的测量精度。
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公开(公告)号：CN117848679A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410034900.1
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及成像检测技术领域，特别涉及一种显微成像系统的离焦检测装置及方法。该装置包括：一个控制器以及沿光轴依次设置的一个编码盘、一个高倍显微物镜、一个探测器，编码盘柱面上设置有多个均匀分布的圆孔，每个圆孔均用于为探测器提供探测目标，以使控制器获取成像数据；高倍显微物镜用于将每个圆孔成像在探测器上；探测器设置于圆孔成像的基准焦平面，用于接收每个圆孔成的像，并在探测器上形成一个像斑；控制器与探测器电连接，控制器用于获取每个像斑的成像数据，并对成像数据进行计算，得到编码盘的离焦量；成像数据包括像斑在像面上占据的像元值和角位置。本发明提供了非物理接触的测量方法，可以有效提高系统离焦量的测量精度。
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公开(公告)号：CN116858134B
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202310831764.4
申请日：2023-07-07
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及航天移动测控技术领域，特别涉及一种高精度光电角位移传感器位置解算方法及装置，其中方法包括：获取读数器采集的至少一行条纹图像数据；进行预处理；进行电子细分至所需精度；确定单个条纹位所对应的数据长度；对电子细分后的一行条纹图像数据进行分组，得到多组数据；确定当前的条纹位的最佳采样点；基于当前的各条纹位的最佳采样点灰度，得到对应的位置编码，并结合编码规则，确定当前码盘位置的粗略读数；基于当前的条纹位的最佳采样点在对应单个条纹位的一组数据中的位置，确定当前码盘位置的精细读数；确定当前码盘的具体位置，进而确定角位移。本发明能够快速、精确解算当前码盘位置。
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公开(公告)号：CN115307657A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210903799.X
申请日：2022-07-28
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明公开全视场仪器星等标定方法、装置和存储介质。该方法为：拍摄星图，对整个视场进行检测聚类，获得大量的亮点；观测星的提取，对所有亮点进行测光及定位，获得位置、灰度及不确定度、天顶角；将观测星与星表进行匹配，匹配成功后，记录以下信息，包括观测星对应的恒星星等、位置、灰度及不确定度；将全视场进行区域划分，统计该区域内所有帧已经匹配成功的恒星，以加权最小二乘法对其进行拟合，记录不同区域获得仪器星等零点；对全视场不同区域内的仪器星等零点进行多项式插值，获得不同视场处的零点修正；在不同时间段重复以上步骤，得到全时段在轨仪器星等精确修正方法。本发明可以对光电器件进行在轨仪器星等标定。
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公开(公告)号：CN112882483B
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202110037424.5
申请日：2021-01-12
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G05D1/08
Abstract: 本发明公开一种星敏感器在轨标定方法、装置和存储介质。该方法包括：从对整个视场进行成像得到的星图中提取并存储多个第一观测星的星点信息；将所述提取的多个第一观测星与预存的导航星表中的导航星进行匹配操作，查找出与所述导航星相匹配的第二观测星；采用加权系数法计算所述多个第二观测星的平均位置信息；计算所述每一第二观测星的位置与平均位置的差分值；根据所述第二观测星对应的星点信息执行多项式曲面拟合计算或插值计算得到所述整个视场的畸变值。利用本发明的技术方案，可以对星敏感器进行在轨标定，提高星敏感器标定的精度。
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