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公开(公告)号：CN117848679B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410034900.1
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及成像检测技术领域，特别涉及一种显微成像系统的离焦检测装置及方法。该装置包括：一个控制器以及沿光轴依次设置的一个编码盘、一个高倍显微物镜、一个探测器，编码盘柱面上设置有多个均匀分布的圆孔，每个圆孔均用于为探测器提供探测目标，以使控制器获取成像数据；高倍显微物镜用于将每个圆孔成像在探测器上；探测器设置于圆孔成像的基准焦平面，用于接收每个圆孔成的像，并在探测器上形成一个像斑；控制器与探测器电连接，控制器用于获取每个像斑的成像数据，并对成像数据进行计算，得到编码盘的离焦量；成像数据包括像斑在像面上占据的像元值和角位置。本发明提供了非物理接触的测量方法，可以有效提高系统离焦量的测量精度。
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公开(公告)号：CN117848679A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410034900.1
申请日：2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及成像检测技术领域，特别涉及一种显微成像系统的离焦检测装置及方法。该装置包括：一个控制器以及沿光轴依次设置的一个编码盘、一个高倍显微物镜、一个探测器，编码盘柱面上设置有多个均匀分布的圆孔，每个圆孔均用于为探测器提供探测目标，以使控制器获取成像数据；高倍显微物镜用于将每个圆孔成像在探测器上；探测器设置于圆孔成像的基准焦平面，用于接收每个圆孔成的像，并在探测器上形成一个像斑；控制器与探测器电连接，控制器用于获取每个像斑的成像数据，并对成像数据进行计算，得到编码盘的离焦量；成像数据包括像斑在像面上占据的像元值和角位置。本发明提供了非物理接触的测量方法，可以有效提高系统离焦量的测量精度。
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公开(公告)号：CN117571031A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311539042.8
申请日：2023-11-17
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及一种适用于空间环境的小尺寸高可靠性自动光开关，属于空间飞行器用光开关领域。本发明所述光开关为航天器用微纳型光学传感器的关键部件。航天器用微纳型光学传感器有严格的重量和尺寸限制，对光开关的重量和外形尺寸有着极高的要求。此外，空间环境下光开关的处于真空环境，工作温度范围变化极大，且无法维修和更换，因此对可靠性也有极高的要求。本发明提出的一种适用于空间环境的小尺寸高可靠性自动光开关，结构简单、外形尺寸小、可靠性高、操作方便，为航天器用微纳型光学传感器在轨使用提供保障。
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