多层陶瓷电容器烧制用材料、其制造方法和再生方法

    公开(公告)号:CN101333113A

    公开(公告)日:2008-12-31

    申请号:CN200810109699.X

    申请日:2008-06-27

    Abstract: 本发明涉及多层陶瓷电容器烧制用材料、其制造方法和再生方法。所述制造方法包括以下工序:在SiC粉末原料中添加烧结后残碳率小于5.0重量%的量的有机粘合剂进行混合;加入水,进行混炼、成型;在1500℃~2400℃烧结;在氧浓度为2%以上的氧气氛下,于1350℃~1650℃烧制1小时~6小时;通过喷镀法在所形成的SiO2层表面形成由ZrO2或Al2O3构成的覆盖层。所述材料在SiC基材表面形成了SiO2层,表观气孔率为15%以上,表观比重为3.05~3.20,SiC含量为90重量%以上,并且,所述SiO2层表面形成有由ZrO2或Al2O3构成的覆盖层。

    硅构件及其制造方法
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100407381C

    公开(公告)日:2008-07-30

    申请号:CN200610008940.0

    申请日:2006-01-28

    Abstract: 本发明提供一种硅构件及其制造方法,该硅构件在半导体制造工序、特别是等离子体处理工序中,可以抑制构件自身的电阻率变动,由此,可以实现晶片处理的均匀化,并且对被处理晶片等不构成杂质污染源。经由以下工序制造电阻率大于等于0.1Ω·cm、小于等于100Ω·cm的硅构件:制造被掺杂了13族原子、固有电阻率大于等于1Ω·cm、小于等于100Ω·cm的P型单晶硅的工序;以及通过将所述P型单晶硅在大于等于300℃、小于等于500℃的温度下进行退火处理,形成氧施主,从而进行P/N反转的工序。

    氧化钇烧结体及其制造方法

    公开(公告)号:CN100396647C

    公开(公告)日:2008-06-25

    申请号:CN200610115778.2

    申请日:2006-08-16

    Abstract: 本发明提供了一种氧化钇烧结体及其制造方法,该氧化钇烧结体对于卤素类腐蚀性气体和等离子体具有优异的耐腐蚀性并具有优异的耐热冲击性,并且适合于用作半导体和液晶器件的制造设备中、特别是等离子体处理设备中的构成部件。该氧化钇烧结体包含分散在氧化钇中的平均粒径小于或等于3微米的钨,由此使得钨的比例相对于所述氧化钇以重量计为1%~50%,并且具有小于或等于0.2%的开孔率和大于或等于200摄氏度的水浸法的耐热冲击性。

    绝热材料
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105315005A

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201510351921.7

    申请日:2015-06-24

    Abstract: 本发明涉及包含MgAl2O4的多孔烧结体且1000℃以上的高温下的绝热性优异的绝热材料。本发明提供即使为1500℃以上的高温热传导率的增加也得到抑制、并保持优异的绝热性、且1700℃以上的耐热性也优异的绝热材料,即使为1000℃以上的高温热传导率的增加也得到抑制、并保持优异的绝热性、且强度也优异的绝热材料。本发明采取如下构成:其包含孔隙度为60%以上且不足73%的多孔烧结体,所述多孔烧结体由MgAl2O4构成,孔径为0.8μm以上且不足10μm的气孔占总气孔容积之中的30vol%以上且不足90vol%,并且,孔径为0.01μm以上且不足0.8μm的气孔占总气孔容积之中的10vol%以上且不足60vol%,所述绝热材料的20℃以上且1500℃以下的热传导率为0.45W/(m·K)以下,压缩强度为2MPa以上。

    多层陶瓷电容器烧制用材料、其制造方法和再生方法

    公开(公告)号:CN101333113B

    公开(公告)日:2012-04-04

    申请号:CN200810109699.X

    申请日:2008-06-27

    Abstract: 本发明涉及多层陶瓷电容器烧制用材料、其制造方法和再生方法。所述制造方法包括以下工序:在SiC粉末原料中添加烧结后残碳率小于5.0重量%的量的有机粘合剂进行混合;加入水,进行混炼、成型;在1500℃~2400℃烧结;在氧浓度为2%以上的氧气氛下,于1350℃~1650℃烧制1小时~6小时;通过喷镀法在所形成的SiO2层表面形成由ZrO2或Al2O3构成的覆盖层。所述材料在SiC基材表面形成了SiO2层,表观气孔率为15%以上,表观比重为3.05~3.20,SiC含量为90重量%以上,并且,所述SiO2层表面形成有由ZrO2或Al2O3构成的覆盖层。

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