一种电子元件连接器、电路板及电子设备

    公开(公告)号:CN111092335A

    公开(公告)日:2020-05-01

    申请号:CN201911268049.4

    申请日:2019-12-11

    Abstract: 本申请涉及一种电子元件连接器、电路板及电子设备,该电子元件连接器包括:多个基座,所述基座包括本体、所述本体内的插孔及装配于所述插孔内的插针,所述插针用于与电子元件引脚连接;以及,连接件,所述基座之间通过所述连接件活动连接。该技术方案可以根据电子元件引脚位置调节各个基座之间的位置关系,无需对每个电子元件单独制造电子元件连接器,或对现有电子元件连接器进行剪裁,降低制作电子元件连接器的时间成本、人力成本以及硬件成本,加快电子元件测试进度。另外,由于基座之间存在连接,在人为焊接简单且不易松动,电气连接性较好。

    一种芯片模块、电子模组及制备方法

    公开(公告)号:CN111081662A

    公开(公告)日:2020-04-28

    申请号:CN201911398441.0

    申请日:2019-12-30

    Abstract: 本发明涉及电子技术领域,公开一种芯片模块、电子模组及制备方法,一种芯片模块,包括:散热器、芯片和封装体;其中,散热器包括安装底座和散热部,安装底座具有安装面,散热部与安装底座背离安装面的表面连接;芯片固定安装于安装面,芯片远离安装面的表面具有多个电极,每个电极连接有引出部件;封装体包覆芯片和安装底座,其中,散热部延伸至封装体外,每个引出部件延伸至封装体外。上述芯片模块以散热器中安装底座作为芯片的载体,并利用封装体将芯片和安装底座封装为一个整体,芯片与散热器的安装底座之间始终保持良好的热接触,散热较好,且组装至电路板时操作简单快捷。

    一种超薄芯片的封装结构
    174.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110858574A

    公开(公告)日:2020-03-03

    申请号:CN201810961402.6

    申请日:2018-08-22

    Abstract: 本发明公开了一种超薄芯片的封装结构,用以解决现有技术中存在IGBT芯片会由于底座的热膨胀系数大而发生翘曲,进而导致器件失效的问题。本发明中的超薄芯片的封装结构,在引线框架的芯片座上开设预定形状大小的芯片槽,在芯片槽内装配热膨胀系数小于芯片座的第一垫片,所述芯片焊接在第一垫片之上,且第一垫片与芯片之间电连接。如此,由于第一垫片的人膨胀系数小于引线框架,芯片与第一垫片的封装应力较为匹配,在温度发生变化时,第一垫片发生的翘曲会小于引线框架的翘曲,进而设置在第一垫片上的芯片的翘曲也会变小,故而由于封装应力不匹配而导致芯片内部晶胞损伤,的可能性便小,提高器件封装结构良率及可靠性。

    一种功率半导体加工方法及功率半导体

    公开(公告)号:CN110854021A

    公开(公告)日:2020-02-28

    申请号:CN201910944655.7

    申请日:2019-09-30

    Inventor: 郭依腾 史波

    Abstract: 本发明涉及半导体技术领域,具体而言,涉及一种功率半导体加工方法,其中功率半导体加工方法包括:生长栅氧化层及多晶硅层,并对多晶硅层进行光刻刻蚀;注入及推进形成P-well结;进行N+离子注入及退火形成N+结;然后对所述多晶硅层进行纵向刻蚀,并去除掉两个所述P-well结之间对应的多晶硅层部分,以减小栅极电容区域,两个所述P-well结间距定义为L,两个所述P-well结之间被刻蚀掉多晶硅层的宽度为L1,所述L1≤L,本方案通过对多晶硅层进行刻蚀,去除掉两个所述P-well结之间对应的多晶硅层部分,减小栅极电容的面积,降低栅极电容,提高了产品的整体性能。

    功率半导体器件、其封装结构及其制作方法和封装方法

    公开(公告)号:CN110610934A

    公开(公告)日:2019-12-24

    申请号:CN201910877562.7

    申请日:2019-09-17

    Abstract: 本发明提供了一种功率半导体器件、其封装结构及其制作方法和封装方法。该功率半导体器件包括元胞区和终端区,元胞区包括多个元胞,各元胞包括第一电极和第二电极,第一电极和第二电极位于衬底的相对的两侧,在垂直于衬底的方向上,第一电极远离衬底的一侧表面与第二电极远离衬底的一侧表面的距离为H1,终端区中与衬底距离最大的一点与第二电极远离衬底的一侧表面的距离为H2,H1大于H2。在采用上述功率半导体器件的封装工艺中,由于器件中的元胞区与终端区之间具有高度差,从而在采用键合部实现发射极和集电极连接时,能够保证键合部与终端区之间具有一定的安全距离,避免了键合部与终端区接触而形成短路,提高了器件的可靠性。

    一种晶圆级封装方法和晶圆

    公开(公告)号:CN110223924A

    公开(公告)日:2019-09-10

    申请号:CN201910636287.X

    申请日:2019-07-15

    Abstract: 本发明提供一种晶圆级封装方法、晶圆级芯片封装单元和晶圆,本发明在对晶圆进行加工前直接在具有切割道的晶圆的表面覆盖树脂使树脂与切割道接触并高温硬化,在后续对晶圆进行加工过程中,晶圆受到其表面固化的树脂的保护,能够防止晶圆在加工过程中易破裂的问题。通过上述方法能够一次完成晶圆表面所有树脂的覆盖并高温硬化,缩短了生产周期和降低成本。

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