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公开(公告)号：CN102829735A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210316481.8
申请日：2012-08-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于机器视觉的E型磁材背面几何形状缺陷检测方法，属于图像处理领域。为了解决现有对E型磁材检测方法的计算量大，检测效率低的问题。本发明是应用相机获取E型磁材背面的图像；以所得图像左侧边缘和右侧边缘所在的两个区域作为二值化子图像，将该图像进行连通区域标记和膨胀操作后作为滤波模板；并用其对Canny边缘检测的带有干扰点的边缘图像进行滤波；对子图像的上下部分的分别进行Hough变换，获得两条拟合直线；若其夹角大于N°，N为正整数，则认为待测E型磁材背面畸变过大；否则，计算磁材的长度和畸变率。本发明适用于测量E型磁材的长度和畸变率。
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公开(公告)号：CN102718058A
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN201210216715.1
申请日：2012-06-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于E型磁材视觉检测装置的自动上料机构，它涉及一种E型磁材的上料机构。本发明为解决现有的E型磁材视觉检测装置的上料机构存在排列不整齐、E型磁材间距不稳定以及上料速度不易调节的问题。两个滑块依次安装在直线导轨上，可平移支座的下端面沿长度方向固装在两个滑块的上端面上，所述丝母安装在可平移支座的一侧端面上，所述第二电机通过第二电机支架固装在工作台面上，丝杠的一端与第二电机的输出轴固接，丝杠与丝母螺纹连接；转轴的中部通过转轴支撑架支撑，转轴的另一端上固装有可旋转挡板，可旋转挡板与待料挡板上下平行设置，所述推杆沿长度方向固装在可平移支座的所述另一侧端面的底部。本发明的上料机构用于E型磁材的上料。
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公开(公告)号：CN107423521B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201710687498.7
申请日：2017-08-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/392 , G06F113/18
Abstract: 一种鲁棒的球栅阵列结构芯片的绘制方法，涉及球栅阵列结构芯片领域，为了满足球栅阵列结构芯片的绘制需求。该方法为对芯片进行示教和测试得到芯片的参数信息，绘制芯片本体轮廓，绘制芯片焊球组，得到绘制矩阵，平移和旋转绘制矩阵。通过本发明得到的芯片图形操作人员能够直观的看到芯片贴装数据和检测的结果，保证芯片贴装的精度。本发明适用于绘制鲁棒的球栅阵列结构芯片。
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公开(公告)号：CN106780374B
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201611093037.9
申请日：2016-12-01
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 一种基于鱼眼成像模型的鱼眼图像畸变矫正方法，涉及一种畸变图像矫正方法，具体涉及一种鱼眼图像畸变矫正方法。为了解决现有的鱼眼图像校正方法无法在镜头内在参数、外在参数及畸变系数未知的情况下矫正切向畸变的问题。本发明首先对鱼眼图像进行坐标转换，并对假设的目标图像像素进行水平和垂直方向上的修正；然后根据针孔成像模型的成像规律以及鱼眼成像模型的成像特点，将坐标修正后的目标图像映射到鱼眼镜头成像模型下的鱼眼图像，实现对图像的矫正。针对批量图像，将步骤三得到的映射关系进行存储，对后续采集的鱼眼图像进行矫正；最后对鱼眼图像完成畸变矫正后的图像进行插值，得到最终处理后的图像。本发明适用于鱼眼图像的畸变矫正。
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公开(公告)号：CN105120647B
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201510434770.1
申请日：2015-07-22
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于喂料器位置确定的贴片机生产数据优化方法，涉及动臂式贴片机的生产数据优化领域。本发明是为了解决利用现有方法对动臂式贴片机的生产数据进行优化时，仅能够进行局部优化的问题。本发明所述的一种基于喂料器位置确定的贴片机生产数据优化方法，首先设定原始生产数据，判断原始生产数据是否合理，否则重新开始，是则统计贴片元件数据，获得每种元件的贴片数量；然后将各贴片头可用状态和前后各个槽号为可用状态作为优化条件；对吸嘴进行分组；利用扫描法确定吸取顺序，并利用贪心法确定各个周期的贴装顺序及元件贴装位置；最后整合并连接各个周期的吸嘴组数据、吸取顺序数据和贴装顺序数据，完成贴片机生产数据的优化。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN107451370A
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201710685979.4
申请日：2017-08-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种鲁棒性对称引脚型芯片的绘制方法，涉及一种对称引脚芯片的绘制方法。解决了现有芯片信息采集系统，对所采集的芯片参数信息的准确性无法直观观测的问题。本发明包括步骤一：根据实测芯片本体参数，绘制芯片本体矩形轮廓，此时，芯片本体的位置默认为初始位置；步骤二：根据实测芯片本体每条边上引脚个数、引脚长度、引脚宽度、相邻引脚间距和空位块信息，依次对芯片本体每条边上的引脚进行绘制；空位块信息包括每个空位块位置信息和空位块的个数；步骤三：根据实测芯片偏移量和旋转角度，对绘制完的芯片本体和引脚作为整体进行平移及旋转，从而完成了对对称引脚型芯片的绘制。主要用于对对称引脚进行绘制。
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公开(公告)号：CN105005997B
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201510474956.X
申请日：2015-08-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/00
Abstract: 一种基于行列直线聚类的多类型BGA芯片视觉识别方法，本发明涉及BGA芯片视觉识别方法。本发明是要解决现有技术对于焊球排布稀疏的BGA芯片鲁棒性较差、采用单阈值二值化图像来提取焊球导致欠分割、过分割以及算法时间复杂度高的问题；本发明是通过1对原始图像进行动态阈值分割、形态学以及连通域标记处理；2建立完整灰度BGA焊球信息列表；3构成等效BGA阵列；4局部分析确定等效BGA阵列粗略偏转角度；5得到每行、每列等效BGA焊球蔟以及边界等效BGA焊球蔟；6求解原始图像中BGA芯片的偏转角度和中心位置；7对BGA焊球蔟进行直线拟合；8求解标准芯片参数等步骤实现的。本发明应用于BGA芯片视觉识别领域。
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公开(公告)号：CN106485731A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610872893.8
申请日：2016-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T7/231
Abstract: 一种基于改进霍夫变换的图像位置配准方法，本发明涉及图像位置配准方法。本发明是要解决现有技术算法复杂、实时性差、计算量大以及算法鲁棒性差的问题，而提出的一种基于改进霍夫变换的图像位置配准方法。该方法是通过步骤一、得到当前灰度图像。步骤二、对步骤一得到的当前灰度图像中均匀选择m个匹配块；并对得到的匹配块进行筛选；步骤三、得到每个匹配块的局部运动估计矢量；步骤四、得到霍夫变换筛选后的局部运动估计矢量；步骤五、求取局部运动估计矢量平均值作为运动估计结果；依据运动估计结果，得到当前图像和基准图像的位置配准关系等步骤实现的。本发明应用于图像位置配准领域。
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公开(公告)号：CN106373124A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201610839952.1
申请日：2016-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/30108
Abstract: 基于灰度共生矩阵与RANSAC的工业产品表面缺陷视觉检测方法，本发明涉及灰度共生矩阵与RANSAC的工业产品表面缺陷视觉检测方法。本发明是为了解决传统表面缺陷检测方法适用范围窄、计算复杂、检测精度低的问题。本发明缺陷面积检测精度可达95％，可以用于金属元件的表面检测，且对玻璃元件、纸张、电子元器件等表面缺陷检测都有很强的适用性。在C++环境下，本发明算法针对640×480的工业图像的检测时间为200ms，较现有主流方法，检测效率高，稳定性好，适用于工业产品的快速检测场合。本发明应用于工业产品表面检测领域。
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