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公开(公告)号：CN117741678B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202311761337.X
申请日：2023-12-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01S17/08
Abstract: 本发明属于高精度激光测距技术领域，公开了一种基于集成双光梳光源的齿间自干涉测距装置和方法，包括集成双光梳光源、集成双光梳齿间自干涉信号探测、采集与计算模块；集成双光梳光源发出的激光进入集成双光梳齿间自干涉信号探测、采集与计算模块，获取到调制了距离信息的光梳齿间自干涉信号和双光梳齿间自干涉信号，并进行采集和计算得到测距结果；本发明光源成本低且系统规模较小，不依赖于价格昂贵、体积庞大的两套全稳频光梳光源；兼顾数百米至数公里的测距范围和十微米甚至微米级的测距精度；测量实时性强。
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公开(公告)号：CN115678007B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202211359943.4
申请日：2022-11-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明涉及一种制备氟基聚氨基酸钴纳米粒子的方法，包括以下步骤：步骤一、将氨基酸与三光气溶解于有机溶剂中反应，加入非溶剂沉淀纯化产物；步骤二、将α‑氨基酸‑N‑羧基酸酐与氟基引发剂溶解于有机溶剂中反应，加入非溶剂沉淀纯化产物；步骤三、将氟基聚氨基酸肽段溶于有机溶剂形成溶液A，将无机钴金属配合物溶于有机溶剂形成溶液B，然后将溶液B缓慢加入溶液A，真空干燥得到氟基聚氨基酸钴纳米粒子粉末。本发明的氟基聚氨基酸钴纳米粒子，适用于眼部MPI示踪剂，具有良好的生物相容性与代谢性能。
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公开(公告)号：CN115616540B
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202211410666.5
申请日：2022-11-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提出光梳模间拍频测距的随机相位漂移实时抑制装置及方法。所述装置包括双光梳光源、测距信号探测光路和测距信号处理、采集与计算模块；双光梳光源发出的激光进入测距信号探测光路获取到调制了距离信息的测距信号，其中测量光梳的测距信号中调制了待测距离信息，而本地光梳的测距信号中调制了固定距离信息；再将测距信号传送至测距信号处理、采集与计算模块得到随机相位漂移被抑制后的测距结果。本发明抑制随机相位漂移所使用的双光梳信号为同时生成、同时探测、同时计算，因此抑制过程也是在测距过程中实时完成的，与其它模间拍频测距随机相位漂移的抑制或补偿方法相比，本发明具有较强的实时性。
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公开(公告)号：CN115964662A
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202111173491.6
申请日：2021-10-08
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: G06F18/2413 , G06F18/232 , G06F18/214
Abstract: 本发明涉及一种能够在不需要执行复杂调参等处理的前提下，提高检测准确度的基于改进密度峰值聚类的复杂装备参数异常检测方法，与现有技术相比，为避免极端样本不平衡影响检测效果，采用密度峰值聚类算法；为克服局部密度计算方式的主观性，引入基于样本K近邻的局部密度度量准则；为克服样本分配过程中潜在的连锁分配错误问题，引入基于样本K近邻的样本分配策略；为提高离群点选择准确性降低离群点对聚类过程的影响，提出新的离群点阈值确定方式和离群点处理方式；针对异常样本足够的发动机，为降低调参难度，提出弱监督聚类参数调整策略，针对异常样本数不足的发动机，提出弱监督情况下的异常检测方式，显著提高了检测精度。
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公开(公告)号：CN115616540A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202211410666.5
申请日：2022-11-11
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提出光梳模间拍频测距的随机相位漂移实时抑制装置及方法。所述装置包括双光梳光源、测距信号探测光路和测距信号处理、采集与计算模块；双光梳光源发出的激光进入测距信号探测光路获取到调制了距离信息的测距信号，其中测量光梳的测距信号中调制了待测距离信息，而本地光梳的测距信号中调制了固定距离信息；再将测距信号传送至测距信号处理、采集与计算模块得到随机相位漂移被抑制后的测距结果。本发明抑制随机相位漂移所使用的双光梳信号为同时生成、同时探测、同时计算，因此抑制过程也是在测距过程中实时完成的，与其它模间拍频测距随机相位漂移的抑制或补偿方法相比，本发明具有较强的实时性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111553885B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202010271193.X
申请日：2020-04-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于回退树的SOT型芯片引脚参数检测方法，属于SOT型芯片检测技术领域。本发明是为了解决传统示教方法中无法对芯片引脚进行正确识别并分组的问题。包括：获取SOT型芯片引脚的灰度图像；获得芯片引脚二值化图像；得到含有数字标记的芯片引脚图像；根据回退树约束条件，使用回退数算法将所述数字标记代表的引脚分为上组足部、根部组及下组足部；根据数字标记对应的芯片引脚二值化图像中每个足部中心位置计算得到芯片粗略旋转角度，利用所述粗略旋转角度将数字标记的根部引脚与所有的足部引脚进行一一对应，得到包括一个足部与一个对应根部的多个引脚对，对每一对引脚对求取最小外接矩形，获得引脚对的长和宽。本发明提升了芯片检测的精度与效率。
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公开(公告)号：CN106341956B
公开(公告)日：2019-04-30
申请号：CN201610873046.3
申请日：2016-09-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明公开了一种固定相机校正方法，涉及机器视觉定位检测领域，属于贴片机高精度校正的过程。本发明主要解决现有贴片机固定相机在机械安装时，相机位置、刻度以及旋转角度在设备坐标系中无法准确测量的问题。本发明利用标定吸嘴头确定贴片头在固定相机中的位置关系，计算推导出两个坐标系之间的转换关系；通过圆心的位置坐标来计算固定相机的刻度；通过贴片头的位置坐标和贴片头的值坐标来计算固定相机在设备坐标系中的旋转角度。通过校正固定相机的坐标、旋转角度和刻度，补偿人工安装给检测过程带来的偏差，提高贴片机对标定点检测定位时的精度，改善贴片机的贴装效果。本发明适用于机器视觉的精度校正领域。
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公开(公告)号：CN106373161B
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201610839797.3
申请日：2016-09-21
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于SIFT特征点的定位方法，涉及一种基于SIFT特征点的印刷电路板的视觉定位方法。解决了现有传统贴片机对PCB板进行定位的方法定位准确度低，造成的元件贴装精度低的问题。首先，获取待定位PCB板的布局图，粗略提取该布局图上的SIFT特征点；其次，在线获取待定位PCB板的真实图片上的SIFT特征点；然后，对布局图和真实图上的SIFT特征点进行匹配，获得粗略的匹配点对，再对粗略的匹配点对采用点集配准方法进行精确筛选，获得筛选后的匹配点对的位置，最后，根据筛选后的匹配点对的位获得PCB板的位置信息。本发明定位方法通过改善PCB板的定位精度，来提高其PCB板上贴片元件的定位精度。
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公开(公告)号：CN105046271B
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201510358082.1
申请日：2015-06-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于模板匹配的MELF元件定位与检测方法，属于元件定位与检测领域。传统模板匹配算法对带旋转角度的元件进行检测时存在计算量大、执行速度慢，导致元件定位与检测速度慢问题。一种基于模板匹配的MELF元件定位与检测方法，通过建立带有角度的模板图像、得到缩小后的元件图像、获得缩小后的元件图像的距离变换图像和原始元件图像的距离变换图像、获取最终最佳匹配模板图像和最佳匹配位置、在带干扰点的边缘图像中提取关键边缘点并形成最小外接矩形、根据最小外接矩形设置偏置量后内部非零像素的个数的过程，得出元件位置正确且元件的长度和宽度在容差范围内，结束定位与检测过程并输出元件位置信息。本发明能减少模板匹配计算搜索位置的个数和匹配计算量，提高模板匹配计算效率且定位与检测正确率达95‑98％。
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公开(公告)号：CN105095937B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201510474874.5
申请日：2015-08-05
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06K19/06
Abstract: 一种基于直线聚类的圆形阵列图形码的视觉识别方法，涉及一种识别方法，特别涉及一种圆形阵列图形码的视觉识别方法。为了解决现有的图形码识别方法仅适用于近距离识别的问题和复杂背景中提取条形码或二维码较为困难、识别准确率低的问题。本发明通过高清摄像头采集一张含有圆形阵列图形码的图像，记作原始图像，进行灰度化和高斯滤波处理；并对处理后的图像，采用Hough变换寻找图像中所有的圆；分别对每个阵列圆进行标记，得到的阵列圆信息列表，并确定阵列圆标识图像，结合等效阵列圆间距典型值△γ，确定等效圆形阵列粗略偏转角度；对所有行、列等效阵列圆进行直线聚类分析；然后拟合并识别阵列圆的信息，完成识别。本发明适用于图形码的视觉识别。
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