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公开(公告)号：CN102802320A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201210316927.7
申请日：2012-08-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H05B37/02
Abstract: 面向机器视觉的数字化LED光源控制器。它涉及LED光源控制器。它为解决现有的光源控制器存在着无法实现多种控制信号同时控制以及光源闪烁模式单一的问题。核心控制单元的外部控制、键盘和串口触发信号输入端分别连外部控制、键盘和串口信号触发模块的外部控制、键盘和串口触发信号输出端。核心控制单元的PWM及频闪信号输出端分别连PWM模式及频闪控制器的PWM及频闪信号输入端。PWM模式控制器的PWM信号输出端及频闪模式控制器的频闪信号输出端分别连LED驱动模块的PWM信号输入端及频闪信号输入端；LED驱动模块的驱动信号输出端与LED光源的驱动信号输入端相连；它可适用于E型磁材检测平台。
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公开(公告)号：CN102829735B
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201210316481.8
申请日：2012-08-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于机器视觉的E型磁材背面几何形状缺陷检测方法，属于图像处理领域。为了解决现有对E型磁材检测方法的计算量大，检测效率低的问题。本发明是应用相机获取E型磁材背面的图像；以所得图像左侧边缘和右侧边缘所在的两个区域作为二值化子图像，将该图像进行连通区域标记和膨胀操作后作为滤波模板；并用其对Canny边缘检测的带有干扰点的边缘图像进行滤波；对子图像的上下部分的分别进行Hough变换，获得两条拟合直线；若其夹角大于N°，N为正整数，则认为待测E型磁材背面畸变过大；否则，计算磁材的长度和畸变率。本发明适用于测量E型磁材的长度和畸变率。
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公开(公告)号：CN102829735A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210316481.8
申请日：2012-08-31
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于机器视觉的E型磁材背面几何形状缺陷检测方法，属于图像处理领域。为了解决现有对E型磁材检测方法的计算量大，检测效率低的问题。本发明是应用相机获取E型磁材背面的图像；以所得图像左侧边缘和右侧边缘所在的两个区域作为二值化子图像，将该图像进行连通区域标记和膨胀操作后作为滤波模板；并用其对Canny边缘检测的带有干扰点的边缘图像进行滤波；对子图像的上下部分的分别进行Hough变换，获得两条拟合直线；若其夹角大于N°，N为正整数，则认为待测E型磁材背面畸变过大；否则，计算磁材的长度和畸变率。本发明适用于测量E型磁材的长度和畸变率。
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