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公开(公告)号：CN103605637B
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201310626341.5
申请日：2013-11-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种空间分辨率自适应调整的粒子图像测速矢量估计方法。所述空间分辨率自适应调整的粒子图像测速矢量估计方法，首先对第n时刻和第n+1时刻的图像进行降噪处理，然后根据第n时刻的查询窗口参数更新第n+1时刻的查询窗口参数,最后根据第n+1时刻的查询窗口参数，对第n时刻和第n+1时刻图像进行PIV流场矢量估计，得到全场速度矢量，其中查询窗口参数由人工指定。本发明提供的空间分辨率自适应调整的粒子图像测量方法突破了传统的粒子图像测速方法单向计算的计算模式，能自动适应流畅局部流动的特点，自动调整查询窗口参数，无需人工干预地优化局部查询窗口尺寸和形状，计算的时间复杂度降低，能实现在线查询窗口参(56)对比文件江诗群.基于粒子图像分析的流场测试技术研究《.中国优秀硕士学位论文全文数据库工程科技II辑》.2008,第2.1节,第2.2节,第2.5节,第3章.卢宗庆.运动图像分析中的光流计算方法研究《.中国博士学位论文全文数据库 信息科技辑》.2008,F.Scarano.Theory of non-isotripicspatial resolution in PIV《.Experiments inFluids》.2003,第35卷(第3期),F.Scarano.Iterative image deformationmethods in PIV《.Measurement science andtechnology》.2001,第13卷(第1期),
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公开(公告)号：CN103592766B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201310514065.3
申请日：2013-10-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种用于增强激光亮度的光学组件及高频脉冲激光光源；光学组件包括用于将多路激光光线合成一束的棱镜组、用于将合束后的激光转换为片激光的柱面透镜组以及用于将片激光进行多次反射使得激光亮度增强的反射镜腔。高频脉冲激光光源包括第一激光器组、第二激光器组、第一组条纹镜、第二组条纹镜、偏振合束原件、半波片、准直透镜组、导光臂、聚焦透镜、柱面透镜组和反射镜腔；当所有的激光器同时激发发光，则能使发出的激光亮度急剧增强，当激光器依次轮流发出激光，则能使发出的激光工作在一个很高的频率。本发明结构简单，控制简单，多个激光器的合成脉冲使得其具有激光脉冲输出频率高，亮度大的优点，可应用于高速相机的照明光源。
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公开(公告)号：CN103091331B
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201310011252.X
申请日：2013-01-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种用于对RFID天线毛刺和污点缺陷执行视觉检测的方法，包括：对摄像装置执行标定之后，通过其与条形或背光光源的配合，对待检测的各个RFID天线拍摄图像；采集所拍摄的天线图像并将其与天线模板图像相匹配以获得预对齐信息；根据天线模板图像上的ROI区域并结合预对齐信息，从天线图像中扣取对应的毛刺和污点检测区域；对所抠取检测区域和ROI区域分别执行二值化处理，然后执行图像相减处理；对相减处理后的残余图像执行blob分析，由此判定毛刺和污点缺陷结果。本发明还公开了相应的视觉检测系统。通过本发明，能够高效率、高准确地执行RFID天线的毛刺/污点质量检测过程，并可精确定位缺陷所处位置，因而尤其适用于工业化RFID的加工制造过程。
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公开(公告)号：CN103465638A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310352832.5
申请日：2013-08-14
Applicant: 华中科技大学
IPC: B41J3/407
Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的光栅立体图像平板打印机，用于实现光栅板基体上的立体打印，该打印机包括打印系统、视觉测量系统和纠偏处理系统，其中，所述视觉测量系统用于获得打印系统上的光栅板图像以检测其位置和角度，所述纠偏处理系统根据该位置和角度计算其与打印图像的位置偏差，然后根据该偏差控制所述打印系统作相应的位置纠偏，从而在精确位置进行打印获得立体图像。该发明针对现有光栅立体图像印刷工艺中打印精度低、操作复杂、难以实现自动化等缺陷，采用机器视觉测量定位、机械和视觉辅助纠偏的方法，实现基于光栅板进行立体图像的打印，可提高材料适应性、操作方便、打印精度高。
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公开(公告)号：CN103604947B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310626331.1
申请日：2013-11-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01P5/22
Abstract: 本发明公开了一种时间分辨率自适应调整的流场状态测量方法，该方法包括如下步骤：首先，根据第k+1时刻图像与第k时刻图像之间的时间间隔Δtk，采集第k+1时刻图像，并对第k时刻和第k+1时刻的图像进行降噪处理；然后，据k时刻图像和第k+1时刻的图像，采用粒子图像测速方法，计算第k+1时刻的流场状态X(k+1)，包括：位移场x(k+1)、速度场x′(k+1)、加速度场a(k+1)，并输出显示；最后，更新第k+2时刻与第k+1时刻图像采集时间之间的时间差Δtk+1，根据Δtk+1采集第k+2时刻的图像。本发明提供的流场状态测量方法，突破现有技术的单项计算模式，根据流场动态变化，做时间分辨率自适应调整，鲁棒性好，测量精度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102673106B
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201210142144.1
申请日：2012-05-09
Applicant: 华中科技大学 , 武汉市微格能科技有限公司
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 本发明公开了一种用于光伏太阳能硅片的丝网印刷定位设备及方法，该方法包括：在对应硅片及丝网两个对角位置处分别设置摄像装置，并执行摄像装置的预标定步骤；使用摄像装置来摄取硅片和丝网的对角位置图像；采集所摄取的位置图像并获取硅片和丝网各自的包括几何中心和角度在内的位置特征参数，相应计算出两者之间的位置偏差，另外根据目标位置引入补偿偏差，最后得到综合偏差；最后根据所计算出的综合偏差来调整丝网相对于硅片的位置和角度，由此完成光伏太阳能硅片的丝网印刷定位过程。按照本发明，可以通过简单紧凑的结构来测定丝网与硅片之间的位置偏差，并保证测定和印刷定位的较高精度，同时具备便于操作，抗干扰性强、稳定可靠的优点。
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公开(公告)号：CN103091331A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310011252.X
申请日：2013-01-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种用于对RFID天线毛刺和污点缺陷执行视觉检测的方法，包括：对摄像装置执行标定之后，通过其与条形或背光光源的配合，对待检测的各个RFID天线拍摄图像；采集所拍摄的天线图像并将其与天线模板图像相匹配以获得预对齐信息；根据天线模板图像上的ROI区域并结合预对齐信息，从天线图像中扣取对应的毛刺和污点检测区域；对所抠取检测区域和ROI区域分别执行二值化处理，然后执行图像相减处理；对相减处理后的残余图像执行blob分析，由此判定毛刺和污点缺陷结果。本发明还公开了相应的视觉检测系统。通过本发明，能够高效率、高准确地执行RFID天线的毛刺/污点质量检测过程，并可精确定位缺陷所处位置，因而尤其适用于工业化RFID的加工制造过程。
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公开(公告)号：CN102944171A
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：CN201210405133.8
申请日：2012-10-22
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种芯片位置和倾角检测装置，包括光源组件、光路传输组件、摄像组件以及自准直仪，其中光源组件由分别对应于芯片和基板的第一、第二光源构成；光路传输组件由第一、第二和第三半透半反棱镜以及第一、第二反射镜共同构成，由此在同一光路系统中实现对芯片和基板位置的检测；摄像组件由具备不同视野的第一和第二摄像单元构成，其中第一摄像单元用于采集芯片或基板的大视野图像，根据MARK点实现初步定位，第二摄像单元用于采集其具体位置图像；自准直仪用于获取代表芯片水平倾角信息的法线倾斜量。本发明还公开了相应的检测方法。通过本发明，能够以结构紧凑、便于操作的方式同时实现对准和调平功能，因此尤其适用于芯片贴片等用途。
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公开(公告)号：CN103698554B
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201310693222.1
申请日：2013-12-17
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01P5/22
Abstract: 本发明提供一种流场实时精确测量系统及方法。系统，包括示踪粒子发生器、图像处理子系统和PIV测量子系统，示踪粒子发生器设置在待测流场上游，图像处理子系统采集流场中示踪粒子图像，传递给PIV测量子系统。方法，根据前一次测量，计算空间分辨率调整信息和时间分辨率调整信息，调整查询窗口参数和图像采集速度，在后一次测量时，根据调整后的图像采集速度采集流场粒子图像，对该幅图像和上幅图像，采用调整后的查询窗口参数，通过粒子图像测速方法获得当前全流场速度矢量。本发明提供的流场实时精确测量系统及方法，对于流速高，尤其是高超音速流场、变化剧烈的流场进行实时测量，精确度高。
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公开(公告)号：CN103367208B
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201310275947.9
申请日：2013-07-02
Applicant: 华中科技大学
Inventor： 陈建魁 , 李宏举 , 尹周平 , 蔡伟林 , 钟强龙 , 孙湘成 , 陈伟 , 张步阳 , 谢俊 , 马亮 , 吴沛然 , 温雯 , 杨航 , 张前 , 于明浩 , 王冠 , 史明辉
IPC: H01L21/67 , H01L21/603
Abstract: 本发明公开了一种用于高密度芯片的倒装键合平台，包括基座、芯片剥离和翻转单元、XY向运动单元、多自由度键合头和贴装台单元，其中芯片剥离和翻转单元用于将晶圆盘上的芯片分别执行剥离和翻转，并将其送至待拾取位置；多自由度键合头以悬臂形式安装在XY向运动单元的支撑导轨上，并具有主动调平和对准功能；贴装台单元用于吸附基板并与键合头相配合，由此实现芯片与基板之间的相互定位。此外，为了保证各单元高精度的运动或配合，该倒装键合平台中还配置有多套视觉定位系统。通过本发明，能够达到微米级的对准精度，平行调整精度优于0.01度，同时具备结构紧凑、便于操控等优点，因而尤其适用于高密度芯片的倒装键合用途。
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