诊断控制装置的故障位置的方法、诊断装置、及控制装置

    公开(公告)号:CN117092888A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202310552372.4

    申请日:2023-05-16

    Abstract: 本公开涉及诊断控制装置的故障位置的方法、诊断装置、及控制装置。一种诊断控制装置的故障位置的方法,该控制装置包括:多个致动器,每个致动器被配置为向目标物体施加推力;多个传感器,每个传感器被配置为检测目标物体的状态量;以及控制器,被配置为控制所述多个致动器,该方法包括将从处于其中所述多个致动器和所述多个传感器被认为正常的状态的所述多个传感器中的每个传感器输出的第一信号与从处于其中控制装置被使用的状态的所述多个传感器中的每个传感器输出的第二信号进行比较,以及基于比较中的比较结果,诊断包括故障的致动器和故障的传感器中的至少一个的设备作为故障位置。

    处理装置及物品制造方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119689788A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411313464.8

    申请日:2024-09-20

    Abstract: 公开了处理装置及物品制造方法。一种处理装置对于基板执行预定处理。装置包括被配置为驱动保持基板的台的驱动器、被配置为以第一频率操作并且控制驱动器的第一控制器、被配置为以高于第一频率的第二频率操作并且基于台的位置来生成命令的第二控制器,以及被配置为响应于命令执行预定处理和预定处理的准备处理中的一个的设备。

    曝光装置以及物品制造方法

    公开(公告)号:CN113050394B

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202011526977.9

    申请日:2020-12-22

    Abstract: 本公开涉及曝光装置以及物品制造方法。曝光装置具备:照明系统,对配置于被照明面的掩模进行照明;投影光学系统,将掩模的图像投影到基板;基板载置台,支承基板;传感器,搭载于基板载置台;以及控制部,控制传感器。控制部实施多次检测处理,检测处理是使用传感器检测从配置于被照明面的多个标志选择的至少2个标志的成像位置的处理,在检测处理与检测处理之间,实施使搭载有传感器的基板载置台移动的移动处理。以使在移动处理之前的检测处理中从所述多个标志选择的至少2个标志的一部分和在移动处理之后的检测处理中从所述多个标志选择的至少2个标志的一部分共同的方式,实施移动处理中的基板载置台的移动。

    控制装置、调节方法、光刻装置和物品制造方法

    公开(公告)号:CN116648773A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202180082084.6

    申请日:2021-12-07

    Abstract: 一种被配置成生成用于对控制目标进行控制的控制信号的控制装置,包括:第一补偿单元,被配置成基于控制目标的控制偏差来生成第一信号;校正设备,被配置成使用多个调节单元中的一个调节单元来校正控制偏差,每个调节单元被配置成通过根据如下的计算公式校正控制偏差来生成校正信号,所述计算公式的一个或更多个系数能够被调节;第二补偿单元,被配置成基于校正信号、通过使用神经网络来生成第二信号;以及计算单元,被配置成基于第一信号和第二信号来生成控制信号。

    曝光装置以及物品制造方法

    公开(公告)号:CN113050394A

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202011526977.9

    申请日:2020-12-22

    Abstract: 本公开涉及曝光装置以及物品制造方法。曝光装置具备:照明系统,对配置于被照明面的掩模进行照明;投影光学系统,将掩模的图像投影到基板;基板载置台,支承基板;传感器,搭载于基板载置台;以及控制部,控制传感器。控制部实施多次检测处理,检测处理是使用传感器检测从配置于被照明面的多个标志选择的至少2个标志的成像位置的处理,在检测处理与检测处理之间,实施使搭载有传感器的基板载置台移动的移动处理。以使在移动处理之前的检测处理中从所述多个标志选择的至少2个标志的一部分和在移动处理之后的检测处理中从所述多个标志选择的至少2个标志的一部分共同的方式,实施移动处理中的基板载置台的移动。

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