公开(公告)号：CN118759342A

公开(公告)日：2024-10-11

申请号：CN202410757803.5

申请日：2024-06-12

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 翟芳 ,  杨妙林 ,  邝贤军

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种数字信号处理芯片的抗干扰能力测试方法，包括：将待测的数字信号处理芯片布置在子板上，将FPGA芯片设置在母板上；使用可变电源为数字信号处理芯片供电，得到电应力干扰下的测试结果；将子板固定在振动机台上，得到机械应力干扰下的测试结果；将热流罩罩在子板上面，得到温度应力干扰下的测试结果；将子板放置于湿热箱中，得到湿热应力干扰下的测试结果；将子板放置于盐雾箱中，得到盐雾应力干扰下的测试结果；分析在各种应力干扰下的测试结果，得出数字信号处理芯片在各应力环境下的抗干扰能力。本发明通过施加电、机械、温度、湿热及盐雾等外部应力，能够实现在不同应力环境下数字信号处理芯片的抗干扰能力测试。

公开(公告)号：CN118169540B

公开(公告)日：2024-09-17

申请号：CN202410372081.1

申请日：2024-03-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 徐军军 ,  邝贤军 ,  袁光华 ,  胡凛 ,  韩立帅 ,  任瑛 ,  杨妙林

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。

公开(公告)号：CN117754414A

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202311702631.3

申请日：2023-12-12

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 杜伟平 ,  李潮 ,  武慧薇 ,  林俊威 ,  邝贤军 ,  吴谋智 ,  许洁璇 ,  麦伟乐

IPC: B24B21/04 ,  B24B21/18 ,  B24B21/20 ,  B24B55/00 ,  B24B41/06 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明提供一种研磨设备及其研磨方法，研磨设备包括研磨机构及驱动机构。其中，研磨机构包括第一驱动组件及研磨带，所述第一驱动组件与所述研磨带传动配合。所述驱动机构包括第二驱动组件及放样件，所述放样件用于固定样品，所述第二驱动组件与所述放样件传动配合，使得所述研磨带能够与所述放样件上的所述样品呈线接触并进行研磨。本申请中的研磨设备减少了固封环节，消除固封环节对样品制样效果的影响，提高研磨设备的研磨效果及研磨效率。另外，与所述样品接触的所述研磨带的移动方向与样品的研磨面保持平行，且研磨带与样品呈线接触，减小研磨过程中碎屑对样品制样效果的影响，提高研磨设备的研磨效果。

公开(公告)号：CN119480593A

公开(公告)日：2025-02-18

申请号：CN202411563863.X

申请日：2024-11-05

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 李潮 ,  何亮 ,  林晓玲 ,  陈思 ,  黄蓓 ,  邝贤军 ,  韦覃如

IPC: H01J37/20 ,  G01N23/02 ,  G01N23/20025 ,  H01J37/26

Abstract: 本申请提供一种透射电子显微镜原位样品杆，涉及透射电子显微镜技术领域，将环境模拟与容纳待测样品两种功能结合，以便于在不同环境条件下对待测样品进行微尺度观测。该透射电子显微镜原位样品杆包括：激光发射模块；第一光纤，第一光纤的一端用于与激光发射模块的输出端相连接，第一光纤用于传导激光发射模块发射的光线；载物台，载物台用于与第一光纤的另一端相连接，其中，载物台包括第一区域和第二区域，第一区域位于第一光纤与第二区域之间，第一区域内设置有多个沿第一方向延伸的光传播通道，第二区域用于容纳待测样品，光传播通道的一端与第一光纤相连接，光传播通道用于将第一光纤传输的光线传导至第二区域，第一方向为载物台的延伸方向。

公开(公告)号：CN118169540A

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN202410372081.1

申请日：2024-03-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 徐军军 ,  邝贤军 ,  袁光华 ,  胡凛 ,  韩立帅 ,  任瑛 ,  杨妙林

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。