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公开(公告)号：CN118362166A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410791480.1
申请日：2024-06-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01D21/02 , G01N33/207 , G01N17/00 , G01B21/00
Abstract: 本申请涉及一种封装元器件工艺适装性评估方法、装置、设备和介质。所述方法包括：对封装元器件进行共面度测试，得到共面度结果；以及，对封装元器件进行可焊性测试，得到可焊性结果；以及，对封装元器件进行镀层耐蚀性测试，得到镀层耐蚀性结果；根据共面度结果、可焊性结果和镀层耐蚀性结果，确定工艺适装性评估结果。采用本方法能够使得确定出的工艺适装性评估结果更加全面和准确。
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公开(公告)号：CN118316450A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410585532.X
申请日：2024-05-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种模数转换芯片的可靠性测试方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质。所述方法包括：通过可靠性试验装置调节测试空间的环境参数，为模数转换芯片提供N个不同的测试环境；在每个测试环境下，通过信号发生器向模数转换芯片发送模拟量；读取模数转换芯片针对模拟量输出的数字信号流；根据数字信号流分析模数转换芯片的关键参数；根据N个测试环境下模数转换芯片的关键参数进行分析，得到模数转换芯片的可靠性测试结果。采用本方法能够模拟模数转换芯片的多种运行环境，对模数转换芯片在多种测试环境下的可靠性进行测试，提升模数转换芯片的测试效率。能够识别模数转换芯片的潜在风险，为提升模数转换芯片可靠性提供数据支持。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118194814A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410308136.2
申请日：2024-03-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/398 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种针对电子元器件的评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：响应于评估指令，获取待评估电子元器件所需评估的应力类型；根据所需评估的应力类型，确定应力试验相应的试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进；根据试验起始应力值、试验终止应力值以及应力步进，对待评估电子元器件执行应力试验；根据应力试验的结果，获得待评估电子元器件的评估结果。采用本方法能够减少了试验成本。
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公开(公告)号：CN118465495B
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202410545931.3
申请日：2024-05-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种测试电路及芯片测试方法，包括：FPGA控制模组、电源模组和至少一个数字电阻模组，FPGA控制模组用于响应输入指令输出控制信号，其中，输入指令包括目标电压信息，各数字电阻模组分别与FPGA控制模组和电源模组连接，数字电阻模组用于作为电源模组的分压元件，并根据控制信号改变输出阻值，以调节电源模组的输出电压，使电源模组的输出电压对应目标电压信息。本申请中的测试电路可根据测试需求改变输出电压，且测试电路可包括多个数字电阻模组，以便同时输出多个不同的输出电压，从而降低对电源的依赖性，提高测试电路的简便性，进而提高测试效率。
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公开(公告)号：CN118430632A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410824841.8
申请日：2024-06-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种存储器的可靠性测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品。方法包括：响应于针对目标存储器的可靠性测试指令，对目标存储器进行质量分析，得到目标存储器的质量分析结果；在质量分析结果表征目标存储器质量达标的情况下，对目标存储器的当前测试环境进行环境更新，得到目标测试环境；在目标测试环境下，对目标存储器进行功能测试，得到目标存储器的第一功能测试结果；根据第一功能测试结果，对目标存储器进行可靠性评估，得到目标存储器的可靠性评估结果。采用本方法能够提高随机存储器可靠性测试的准确性。
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公开(公告)号：CN118191559A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410377380.4
申请日：2024-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及电路可靠性测试技术领域，涉及一种CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下，获取所述CPLD器件的待测功能项目请求；设置多种测试环境，每种测试环境包含至少一个环境应力参数；在多种测试环境下，响应于所述待测功能项目请求，对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试，获得测试数据；对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理，获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。采用本方法能够自动有效识别在不同运行环境下的参数差异，准确评估CPLD器件的可靠性。
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公开(公告)号：CN118465495A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410545931.3
申请日：2024-05-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种测试电路及芯片测试方法，包括：FPGA控制模组、电源模组和至少一个数字电阻模组，FPGA控制模组用于响应输入指令输出控制信号，其中，输入指令包括目标电压信息，各数字电阻模组分别与FPGA控制模组和电源模组连接，数字电阻模组用于作为电源模组的分压元件，并根据控制信号改变输出阻值，以调节电源模组的输出电压，使电源模组的输出电压对应目标电压信息。本申请中的测试电路可根据测试需求改变输出电压，且测试电路可包括多个数字电阻模组，以便同时输出多个不同的输出电压，从而降低对电源的依赖性，提高测试电路的简便性，进而提高测试效率。
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