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公开(公告)号：CN118169540B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN202410372081.1
申请日：2024-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN118191559A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410377380.4
申请日：2024-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及电路可靠性测试技术领域，涉及一种CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下，获取所述CPLD器件的待测功能项目请求；设置多种测试环境，每种测试环境包含至少一个环境应力参数；在多种测试环境下，响应于所述待测功能项目请求，对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试，获得测试数据；对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理，获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。采用本方法能够自动有效识别在不同运行环境下的参数差异，准确评估CPLD器件的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118169541A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410378951.6
申请日：2024-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种串行器通用板卡测试方法、装置、设备、介质和产品。方法包括：在不同的环境温度下分别对串行器通用板卡进行测试；其中，在每个所述环境温度下，控制所述串行器通用板卡进行串并行转换，并控制所述串行器通用板卡对串并行转换后的转换结果进行统计处理得到转换误码数据；根据所述转换误码数据，确定所述串行器通用板卡与所述环境温度对应的测试结果。采用本方法能够提高板卡测试准确性。
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公开(公告)号：CN118169540A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410372081.1
申请日：2024-03-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。
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公开(公告)号：CN115291028A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202211219959.5
申请日：2022-10-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置，获取基准元器件的第一试验温度、第一试验寿命、第一工作寿命和第一试验寿命，确定试验加速倍数；根据第二工况条件中的工作温度和试验加速倍数，确定待预测元器件的第二试验温度；根据第一影响权重值、第二影响权重值、第一工况条件、第二工况条件，确定工况差异加速倍数，进而确定待预测元器件在第二工况条件下的第二工作寿命。通过获取影响电子元器件寿命的参数对于寿命影响因子的影响权重，并增加占空比计算工况差异加速倍数，进而对电子元器件工作寿命进行预测，缩短试验时长，降低试验成本，提高不同工况的预测精准度。
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公开(公告)号：CN118430632A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410824841.8
申请日：2024-06-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种存储器的可靠性测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品。方法包括：响应于针对目标存储器的可靠性测试指令，对目标存储器进行质量分析，得到目标存储器的质量分析结果；在质量分析结果表征目标存储器质量达标的情况下，对目标存储器的当前测试环境进行环境更新，得到目标测试环境；在目标测试环境下，对目标存储器进行功能测试，得到目标存储器的第一功能测试结果；根据第一功能测试结果，对目标存储器进行可靠性评估，得到目标存储器的可靠性评估结果。采用本方法能够提高随机存储器可靠性测试的准确性。
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公开(公告)号：CN115291028B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202211219959.5
申请日：2022-10-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置，获取基准元器件的第一试验温度、第一试验寿命、第一工作寿命和第一试验寿命，确定试验加速倍数；根据第二工况条件中的工作温度和试验加速倍数，确定待预测元器件的第二试验温度；根据第一影响权重值、第二影响权重值、第一工况条件、第二工况条件，确定工况差异加速倍数，进而确定待预测元器件在第二工况条件下的第二工作寿命。通过获取影响电子元器件寿命的参数对于寿命影响因子的影响权重，并增加占空比计算工况差异加速倍数，进而对电子元器件工作寿命进行预测，缩短试验时长，降低试验成本，提高不同工况的预测精准度。
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