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公开(公告)号：CN104089139A
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201410310074.5
申请日：2014-07-02
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: F16L55/033
CPC classification number: F16L55/033 , F16L55/0336
Abstract: 本发明为一种水管道消声器，包括水管管道，其特征在于：所述消声器的两端设有连接水管道的连接法兰和连接连接法兰的过渡圆筒，以连接法兰与过渡圆筒的连接处为两端面，连接一个直径大于水管道若干倍的圆筒，所述圆筒的内侧四周衬垫橡胶垫，所述过渡圆筒的筒壁内设有密集型均匀分布的小孔，所述小孔的直径为？1～5mm，所述小孔的孔轴线与过渡圆筒的轴线成一锐角，所述小孔的孔间距横向为10～20mm，竖向为15～25mm。本发明水管道消声器具有阻抗复合型特点，扩张腔式构造可以消除中低频噪声，橡胶垫的设计可以有效消除高频噪声。
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公开(公告)号：CN103398087A
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：CN201310343076.X
申请日：2013-08-07
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
IPC: F16C3/18
Abstract: 本发明公开了一种可调节偏心距的标准偏心轴，包括主轴，主轴一侧具有外螺纹段，另一侧具有轴肩，外螺段套装有垫圈和可与外螺纹段拧合的锁紧螺母，所述外螺纹段和轴肩之间有两个斜面，两斜面之间成60度角，距离主轴线距离相同且与轴体对称；在轴肩和垫圈之间依次套装有轴套、隔离套和轴套，所述轴套成环状，且环内有两个相互间成60度角的平面，两平面和主轴两斜面相匹配，在对应平面和斜面内分别放置一对可更换的相同高度的标准厚度块。本发明可达到偏心距的精确调整，通过标准厚度块的改变，可实现约定的标准偏心距，消除了人为调节的影响，在同一标准偏心轴上，可以实现快速的测量校准，结构简单可靠。
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公开(公告)号：CN118009880A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410134756.9
申请日：2024-01-31
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种基于激光干涉及同步触发的动态校准装置及校准方法，该装置包括：直线运动导轨，包括固定工作台以及移动工作台；移动工作台上承载有被校仪器的测量目标以及激光干涉仪的反射镜；固定工作台上固定有激光干涉仪的干涉镜；同步触发器，具有多个输出同步脉冲信号的输出端口，分别与激光干涉仪以及被校仪器连接；激光干涉仪响应于同步脉冲信号测量移动工作台的位移量；被校仪器响应于同步脉冲信号测量测量目标的位置信息；上位机用于接收移动工作台的位移量以及测量目标的位置信息。采用激光干涉仪作为长度标准器，采用同步触发器作为时间标准器，通过同步触发标准器与被校仪器测量，完善动态校准在长度和时间上的溯源链。
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公开(公告)号：CN117517718A
公开(公告)日：2024-02-06
申请号：CN202311566217.4
申请日：2023-11-22
IPC: G01Q60/38
Abstract: 本发明为一种用于原子力显微镜的悬臂梁探针支架，包括基体、探针座和夹持机构，所述的基体为中空柱体结构，在中心通孔的顶部设有圆形视窗，所述的探针座用于安装悬臂梁探针，设于圆形视窗外表面，安装后探针的针尖位于圆形视窗区域内，所述的悬臂梁探针通过夹持机构夹紧固定，夹持机构通过固定杆设于基体侧壁，包括夹持片和金属弹片，所述的夹持片为“Z”字形结构，其顶部一段为用于压紧悬臂梁探针圆弧压片，中段竖直并开有矩形卡槽，底部一段为水平段，所述的金属弹片设有一端部倾斜于本体表面的薄型弹片，金属弹片本体固定于基体侧壁上，夹持片相对于金属弹片上下活动，通过矩形卡槽与薄型弹片的卡合实现夹持片对悬臂梁探针的压紧定位。
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公开(公告)号：CN116560028A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202310592376.5
申请日：2023-05-24
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明为一种背对式两光栅相互平行的调节方法及调节装置，包括调节两光栅栅面平行和调节两光栅栅线平行，采用的调节装置包括第一光栅A、第二光栅B、红光光源、接收屏、光栅安装板、小孔光阑、准直光源、分别设于光栅四个角的螺纹结构和用于光栅与光栅安装板连接安装的伸缩式卡槽旋转机构，通过调节分设于光栅安装板正反两面的第一光栅A和第二光栅B分别与同一水平准直光源垂直来实现两光栅的栅面平行调节，通过红光光源发射光线，由接收屏分次显示两光栅形成的衍射图样，并对两个或以上的衍射光斑分别标记后连线，调节第一光栅A使其标记连线与第二光栅B的标记连线平行，完成两光栅的栅线平行调节。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111428802B
公开(公告)日：2023-02-07
申请号：CN202010242973.1
申请日：2020-03-31
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
IPC: G06V40/20 , G06V10/774 , G06V10/764 , G06F40/30 , G06F3/01
Abstract: 本发明为一种基于支持向量机的手语翻译方法，其特征在于：包括以下：1、利用STM32开发板通过可穿戴数据手套采集手势电压信号；2、利用信号筛选程序将每一组手势电压信号对应的手语词语和常用手语句子制成手语语句库；3、编写包括支持向量机分类模块、数据传输模块和储存模块的支持向量机程序，所述的支持向量机分类模块是基于支持向量机二分类算法，采用有向无环方案构成的多分类模型；4、将每次收到的手势电压信号通过支持向量机分类模块转换为手语词语；5、将步骤4在一段时间内获得的手语词语转换为手语词语组，将手语词语组与手语语句库进行匹配并联想填充成句输出结果。本发明结合支持向量机及传感技术实现手语自动实时翻译识别。
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公开(公告)号：CN113237446A
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN202110414926.5
申请日：2021-04-17
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种复合型纳米膜厚标准样板及其循迹方法，其特征在于：所述的标准样板包括分设于基底上的第一测量工作区域和第二测量工作区域两个工作区域，所述的第一测量工作区域为几何薄膜结构测量工作区域，所述的第二测量工作区域为物性薄膜结构测量工作区域，两测量工作区域厚度参数相同，所述的第一测量工作区域设有几何结构工作框，所述的工作框四边外周设有一级循迹标识，在工作框内部设有二级循迹标识，工作框中部则设有中心几何薄膜结构，所述的第二测量工作区域设有物性薄膜结构中心圆，其外周布置有带箭头循迹标识，所述物性薄膜结构中心圆的外周还顺序设有第一外环、第二外环和第三外环。
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公开(公告)号：CN111967100A
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN202010725389.1
申请日：2020-07-24
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种基于改进蚁群算法拟合螺纹中轴线的方法，其特征在于：步骤1：由光学扫描或螺纹测量仪器获得螺纹表面点云的三维坐标数据作为改进蚁群算法的输入样本；步骤2：根据螺纹表面三维坐标点到中轴线的距离方差最小的原则建立立体几何数学模型，根据两点确定一条直线的原则确定螺纹内部区域内两点共6个坐标值；步骤3：将采集的螺纹三维数据投影到二维面上，估算出中轴线上两点坐标共六个参数的初始区间；步骤4：建立改进蚁群算法框架，算法框架由设置初始状态，信息素更新，设定选择概率，选定转移方法，贪婪处理以及结束原则六部分组成。步骤5：通过拟合程序将上述步骤过程及获得的数据整合后输出螺纹中轴线的两点式。
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公开(公告)号：CN111336935A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN202010242951.5
申请日：2020-03-31
Applicant: 上海市计量测试技术研究院 , 中国计量大学
Abstract: 本发明为一种基于改进混合优化算法的纳米薄膜参数反演计算方法，其特征在于：所述的纳米薄膜是在基底层上镀介质薄膜后形成的顺序由基底层、中间层和介质薄膜层组成的三层结构纳米薄膜，所述的混合优化算法是利用爬山算法对全连接神经网络的权值进行迭代优化而建立的混合优化算法，通过对椭偏仪测量介质薄膜层得到的椭偏参数值进行数据反演计算，并结合测量时的环境参数值和基底层已知参数值以得出纳米薄膜的厚度及光学参数。本发明保证了利用椭偏仪的测量数据计算出介质薄膜层厚度及光学常数这一过程精确且快速，为利用光谱型椭偏仪测量介质薄膜层的参数提供了数据处理方法保障。
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公开(公告)号：CN110726378A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201911100142.4
申请日：2019-11-12
Applicant: 上海市计量测试技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置及方法，在利用本发明的一种基于四象限光电探测器的三维微接触式测量装置对样品表面参数进行测量时，开启激光光源并对X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器进行校正之后，将测端球沿被测样品的表面接触扫描；测端球通过测针以及中心连接部带动四棱锥反射镜产生位置变化，从而使得四棱锥反射镜的三个反射面反射至X轴四象限光电探测器、Y轴四象限光电探测器、Z轴四象限光电探测器上的光斑产生偏移量；根据光斑所产生的偏移量可以得出测端球与样品表面接触点的X轴方向、Y轴方向、Z轴方向的坐标参数。
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