-
公开(公告)号：CN117408271B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202311344162.2
申请日：2023-10-17
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及航天移动测控技术领域，特别涉及一种航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法及装置，其中方法包括：获取读数器所接收到的条纹图像；对第一行的像元传感数据进行电子细分，得到线阵图像；选取包含多个完整条纹的连续线阵片段，确定对应的电子细分数据数；估算单条纹所占电子细分数据数理论值；根据估算理论值和连续线阵片段对应的电子细分数据数，计算实际完整条纹数；根据实际完整条纹数和连续线阵片段对应的电子细分数据数，精确计算单条纹所占电子细分数据数；基于单条纹所占电子细分数据数及理论值，判断读数器是否安装到位。本发明能够快速确定光电编码器读数器是否安装到位，并指导调节读数器位置。
-
公开(公告)号：CN117387528A
公开(公告)日：2024-01-12
申请号：CN202311344163.7
申请日：2023-10-17
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及航天测控技术领域，特别涉及一种高精度光电角位移传感器、编码方法及测量方法，其中编码方法包括：根据光电角位移传感器参数，确定粗码和细码；粗码由阵列式排布的点位组成，每个点位上有圆点表示0编码而无圆点表示1编码，用于表示各位置编码；细码由等间距分布的等宽竖向条纹组成，每一条纹对应粗码中的一列点位，细码用于提供边缘位置信息；沿圆柱状码盘的周向布设粗码和细码，令粗码中点位列向及细码中各条纹长度方向沿码盘的轴向设置，且粗码的每一列点位均与细码中对应的条纹在码盘的轴向上对齐。本发明能够大幅降低单组位置编码所占宽度，解决位置编码宽度长与光学系统视场小之间的矛盾，进而提高光电角位移传感器测量精度。
-
公开(公告)号：CN114383817B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202111598695.4
申请日：2021-12-24
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及一种高精度同步扫描光学系统装调精度评估方法，属于光学系统高精度装调领域。通过同步扫描镜的旋转，使得激光光源投射在屏上不同的位置，记录扫描镜处于不同角度位置时的探测器上像点的像面坐标；同时根据小孔成像原理将物方光点投影至探测器，得到像方光点的横向坐标，再通过直线拟合，得到直线斜率，进而可得到该斜率的反正切角度，该角度即为反映同步扫描光学系统装调状态的量。本发明有效解决了同步扫描光学系统装调状态评估步骤复杂、效率低下的问题，具有操作简单、易于实施的特点。
-
-
公开(公告)号：CN114383817A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111598695.4
申请日：2021-12-24
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及一种高精度同步扫描光学系统装调精度评估方法，属于光学系统高精度装调领域。通过同步扫描镜的旋转，使得激光光源投射在屏上不同的位置，记录扫描镜处于不同角度位置时的探测器上像点的像面坐标；同时根据小孔成像原理将物方光点投影至探测器，得到像方光点的横向坐标，再通过直线拟合，得到直线斜率，进而可得到该斜率的反正切角度，该角度即为反映同步扫描光学系统装调状态的量。本发明有效解决了同步扫描光学系统装调状态评估步骤复杂、效率低下的问题，具有操作简单、易于实施的特点。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118243000B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410151900.X
申请日：2024-02-02
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明提供了一种构件变形量检测方法及装置，其中方法包括：构件的观测位置表面设置有观测条纹，获取观测条纹在初始状态下的第一观测图像，以及获取观测条纹在观测状态下的第二观测图像；根据所述第一观测图像和所述第二观测图像，确定观测条纹在横向上对应的偏移方向；将所述第一观测图像和所述第二观测图像中的观测条纹进行对齐；根据观测条纹的对齐结果和所述偏移方向，测量并计算观测条纹向所述偏移方向偏移的变形量。本方案，能够准确测量计算出观测条纹向偏移方向偏移的变形量。
-
公开(公告)号：CN114440924B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202111581795.6
申请日：2021-12-22
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于真空深冷环境下的星敏感器光轴热漂移评价方法，属于光学仪器技术领域。步骤包括：将被测产品安装于外热流模拟系统中，按照需要模拟的空间外热流情况对被测星敏感器进行外热流模拟实施；开启星敏感器，通过控制外热流模拟系统的工况参数设置，实现不同工况外热流的模拟，同时采集不同工况下的星敏感器姿态四元素；对测试过程中采集到的被测产品姿态四元数进行k阶多项式拟合，作为姿态四元数的理论值；将每个采样点的姿态四元数与拟合的姿态四元数进行叉乘，计算出误差四元数。本发明解决了星敏感器地面环境下的光轴热漂移指标评价问题。
-
公开(公告)号：CN116858134B
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202310831764.4
申请日：2023-07-07
Applicant: 北京控制工程研究所
Abstract: 本发明涉及航天移动测控技术领域，特别涉及一种高精度光电角位移传感器位置解算方法及装置，其中方法包括：获取读数器采集的至少一行条纹图像数据；进行预处理；进行电子细分至所需精度；确定单个条纹位所对应的数据长度；对电子细分后的一行条纹图像数据进行分组，得到多组数据；确定当前的条纹位的最佳采样点；基于当前的各条纹位的最佳采样点灰度，得到对应的位置编码，并结合编码规则，确定当前码盘位置的粗略读数；基于当前的条纹位的最佳采样点在对应单个条纹位的一组数据中的位置，确定当前码盘位置的精细读数；确定当前码盘的具体位置，进而确定角位移。本发明能够快速、精确解算当前码盘位置。
-
公开(公告)号：CN114818251A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210216957.4
申请日：2022-03-07
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供了一种激光器李萨如扫描模式空间视场覆盖率分析方法及装置，包括：获取激光器相关特性参数；建立激光器的李萨如扫描离散数字模型；构建出射激光的数字模型，激光出射的强度分布利用高斯模型进行仿真；根据激光器单帧扫描点数ρ，确定数字化扫描视场区域数组，用数字化扫描视场区域数组记录激光光束扫过的频次或强度；根据激光器李萨如扫描离散数字模型、激光器相关特性参数、以及出射激光的数字模型，对数字化的扫描视场区域进行仿真扫描，对扫描过程中处于激光束范围内的扫描视场区域数组进行赋值计数；根据数字化扫描区域数组记录的数据，对扫描视场区域数组进行统计分析，确定视场内的激光扫描覆盖率。
-
公开(公告)号：CN114815769A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210216958.9
申请日：2022-03-07
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明提供了一种扫描激光雷达MEMS摆镜控制参数在轨自动标定方法及装置，方法包括：根据摆镜应用范围和最大摆镜偏转角度范围，建立摆镜控制参数的基准点；根据MEMS摆镜标称偏转角度数据的更新周期，选择单点测量驻留时间；配置标定时激光雷达的测量参数，包括激光的测量距离门限值，激光的频率，激光的偏置角度，激光的缩放系数；接收地面指令后或根据预先设定的标定时间，按照步骤S1设置的基准点，控制摆镜依次到达相应的角度位置并停留单点测量驻留时间，使摆镜处于稳定状态，并记录相应的角度A/D值；建立拟合模型，根据角度A/D值，对数据进行拟合，获得模型参数值；在轨将获得的模型参数值装载到处理器中，供处理器实时处理应用。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
34
records
(took 0.021 seconds)
