一种适用于装配间隙测量系统的标定装置及方法

    公开(公告)号:CN112629469A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN202110028174.9

    申请日:2021-01-08

    Abstract: 本发明公开了一种适用于装配间隙测量系统的标定装置及方法,涉及产品装配及制造技术领域,它包括标定板组、直线驱动机构以及传感器组,标定板组包括第一标定板和第二标定板,第一标定板与第二标定板并列分布且两者之间能够形成标定间隙;直线驱动机构安装在第一标定板和/或第二标定板上,能够推动第一标定板和第二标定板相互靠近或远离,传感器组包括位移传感器和间隙测量传感器,位移传感器能够对标定间隙的厚度大小进行实时检测,间隙测量传感器用于对标定间隙的厚度大小进行实时检测。该标定方法基于该装置实现,本发明能够适用于微米级装配间隙的标定作业,并且装置的制作成本与实施成本较低,同时具有操作简单、可靠的优点。

    一种平衡吊具装置
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111689367A

    公开(公告)日:2020-09-22

    申请号:CN202010685565.3

    申请日:2020-07-16

    Abstract: 本发明涉及吊具技术领域,具体涉及一种平衡吊具装置;所采用的技术方案为:一种平衡吊具装置,包括用于连接起吊设备的吊盘,所述吊盘下方至少设有两组吊索组件;所述吊索组件包括与吊盘相连的连接体,所述连接体上转动连接有芯轴;所述芯轴用于饶设柔性吊索,所述芯轴一端连接有力矩传感器;所述连接体上还设有止动机构,所述止动机构用于控制芯轴的转动。本发明的单肢索具长度可调、受力状态可控,能够大幅提升吊具使用的场景适应性和吊装安全性,同时也可减少不同应用场合吊具的配置规格与数量,降低了吊装工作的保障条件。

    一种自调节柔性吸附装置
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111646206A

    公开(公告)日:2020-09-11

    申请号:CN202010646440.X

    申请日:2020-07-07

    Abstract: 本发明涉及工业自动化技术领域,公开了一种自调节柔性吸附装置,设有信息采集组件,可以识别、采集待吸附工件的形貌特征并传递给第一驱动机构和第二驱动机构,第一驱动机构作用于第一调节机构,第二驱动机构作用于第二调节机构,而第一调节机构的活动端和第二调节机构的活动端与活动臂相连且活动臂悬伸端设有吸附组件,进而通过调整活动臂的姿态使得吸附组件可以适配不同尺寸、曲率的工件,不仅可以稳固、安全地吸附工件,更能自适应共线生产中工件换型的情况,实现不同尺寸、不同型面产品的在线识别和快速可靠吸附,达成高效可靠的智能化、自动化生产流程,为企业降低成本、提升效率,具有极大的推广价值和广阔的应用前景。

    一种基于差压原理的无损检漏方法及装置

    公开(公告)号:CN109556809B

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201910032144.8

    申请日:2019-01-14

    Abstract: 本发明公开了一种基于差压原理的无损检漏方法及装置,包括:充气步骤:选取与待检密封容器相同的基准物,测量基准物漏率;密封步骤:将待检密封容器及基准物分别装入两个相同的检测罐体内并密封;抽气步骤:将检测罐体内部与待检密封容器之间的腔体、检测罐体内部与基准物之间的腔体均抽至检漏所需压力形成真空室;累积步骤:关闭抽气阀门,平衡预设时间段后打开隔离阀门,开始累积,通过差压传感器测量累积前后两个检测罐体内部的压力差,计算出待检密封容器的整体漏率,本方法及装置无需对待检密封容器内部充气或抽气,检漏过程不破坏密封容器内部原有气氛,能够实现该类产品的无损检漏。

    一种形成高斯型去除函数的射流抛光加工方法

    公开(公告)号:CN108356712B

    公开(公告)日:2020-01-07

    申请号:CN201810185676.0

    申请日:2018-03-07

    Abstract: 本发明公开了一种形成高斯型去除函数的射流抛光加工方法,该方法首先通过获取一组在同工艺参数下固定喷嘴位置所产生的去除斑点;随后,检测并获得两个去除斑点的去除峰值点间距;最后,计算得到该工艺参数下高斯型去除函数形成的喷嘴高度。采用该方法可以避免当前多根据实际工艺参数不断调整喷嘴高度直至出现所需去除函数的实验方法,从理论及建模方面快速得到抛光加工中各工艺参数下形成高斯型去除函数的入射高度,从而避免了时间与样品的浪费,提升了科研实验与实际加工的效率。

    一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法

    公开(公告)号:CN109986472A

    公开(公告)日:2019-07-09

    申请号:CN201910293958.7

    申请日:2019-04-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于干涉仪复合测量的射流抛光去除函数提取方法,通过三次测量的面形数据,预处理采斑后面形,再进行抛光区域匹配、白光干涉仪分辨率下的初始面形估计,最终高精度地获取去除函数,解决了白光干涉仪的视场小,难以精确匹配采斑前后工件的面形的难题,提升了去除函数提取的精度。还提升了射流去除函数提取的自动化程度,通过高普适性的算法进行预处理采斑后面形、匹配采斑区域、插补初始面形、计算去除函数,大大降低了人工操作的复杂度,提升了工艺执行效率。本发明保证了采斑前后工件采斑区域相对位置的高度一致性,无需在白光干涉仪和机床上配备精密定位工具,降低了测量工艺成本,也能够避免测量过程中定位工具的装配误差。

    一种形成高斯型去除函数的射流抛光加工方法

    公开(公告)号:CN108356712A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201810185676.0

    申请日:2018-03-07

    Abstract: 本发明公开了一种形成高斯型去除函数的射流抛光加工方法,该方法首先通过获取一组在同工艺参数下固定喷嘴位置所产生的去除斑点;随后,检测并获得两个去除斑点的去除峰值点间距;最后,计算得到该工艺参数下高斯型去除函数形成的喷嘴高度。采用该方法可以避免当前多根据实际工艺参数不断调整喷嘴高度直至出现所需去除函数的实验方法,从理论及建模方面快速得到抛光加工中各工艺参数下形成高斯型去除函数的入射高度,从而避免了时间与样品的浪费,提升了科研实验与实际加工的效率。

    一种自动标定磁流变抛光缎带厚度的装置

    公开(公告)号:CN107703881A

    公开(公告)日:2018-02-16

    申请号:CN201710809677.3

    申请日:2017-09-11

    CPC classification number: G05B19/4015 G05B2219/37398

    Abstract: 本发明提供了一种自动标定磁流变抛光缎带的装置。所述装置的气缸和MCP测头,自动测量工件和标定块相对于抛光轮底部的相对位置;利用磁流变液的导电性进行接触式测量,抛光缎带与置于工件上导电的标定块柔性接触,形成电流回路产生导通信号,计算机获取接触时标定块相对于抛光缎带底部的相对位置,从而实现抛光缎带厚度的自动测量。本发明解决了目前人工手动方式对缎带厚度进行测量和标定存在测量精度不高、效率低和较大安全隐患等问题,能够低成本、便捷实现抛光缎带厚度的高精度、高效率、高安全性的自动测量与标定,从而提高磁流变抛光质量和效率。

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